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公开(公告)号：CN119354334B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411918112.5
申请日：2024-12-25
Applicant: 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院 , 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明属于光学校准技术领域，本发明提供了一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法，包括：基于比对偏差程度值ZXj生成测量异常信号，获取异常信号出现次数占比BJ，生成波长偏移疑似信号，根据偏移判定值CV将测量光谱曲线标记为异常测量光谱曲线，获取异常测量光谱曲线数量占比值JK，并确定波长是否发生偏移，基于对数据点的传输数据进行分析，得到数据点传输波动参数FG，判断高光谱成像仪对标准光源进行测量的过程中的数据点传输稳定性，获取时段重合程度值AS，将时段重合程度值AS与时段重合程度阈值进行比较，根据比较结果确定波长偏移的原因是否为数据点传输稳定性差，本发明提高了高光谱成像仪光谱校准效率。
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公开(公告)号：CN115096439B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202210518313.0
申请日：2022-05-12
Applicant: 宣城开盛新能源科技有限公司
Abstract: 本发明涉及光谱采集结构技术领域，具体涉及一种提升光谱数据采集准确性的密封采集结构，通过密封连接于反应腔体上的密封外管，采集内管为装配于密封外管内部的一套用于采集光谱且隔离反应腔体内污染的一种结构，密封外管另一端连接有密封组件，密封组件远离采集内管一端连接有转换器，转换器远离密封组件一端连接有聚光体，密封外管外侧壁上包覆设有加热壳，加热壳通过外部加热再通过热辐射效应对光谱仪采集内管进行加热，辅助所述采集内管不受腔体反应温度的影响，密封组件上连接有气体接入口，通过通入一定量的惰性气体形成整体采集器装置中的压力高于反应腔体中的压力，进一步提升采集器结构采集数据的准确性。
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公开(公告)号：CN119779486A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202510281238.4
申请日：2025-03-10
Applicant: 上海唯视锐光电技术有限公司
Abstract: 本发明涉及一种成像色度测量方法及装置，其测量方法包括：a)待测物体放置于成像镜头前；b)成像镜头聚焦的待测物体光线通过一分光系统分为两束，第一束光束导入至二维图像传感器；第二束光束导入至光谱测量设备进行光谱分布数据采集；c)噪声校准片遮挡第一束光束，二维图像传感器采集噪声数据；d)第一束光束穿过第一带通滤光片，二维图像传感器采集图像数据，并扣除c)中得到的噪声数据，得到第一带通滤光数据矩阵；e)重复d)，更换带通滤光片，获得n个带通滤光数据矩阵；f)将各带通滤光数据矩阵转换校准为#imgabs0#三刺激值；g)根据b)中的光谱分布数据，对#imgabs1#三刺激值进行实时校准，计算图像的色度值并生成色度化图像；h)输出色度值，显示或存储色度化图像。
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公开(公告)号：CN119779484A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202510183239.5
申请日：2016-12-22
Applicant: 光谱公司
Abstract: 本公开的各个实施例涉及分光计模块。一种用户设备，包括：相机，适于获取落入所述相机的视野内的景象的至少一个图像；分光计模块，适于从所述景象的至少一部分获取光谱信息，其中所述分光计模块的视野包括所述至少一个图像的至少一部分；以及处理单元，适于基于从所述景象的至少一部分所获取的所述光谱信息在所述至少一个图像内确定分光计模块目标区域，并且向所述用户设备的显示器输出显示数据，以用于在所述显示器上提供所述目标区域的指示；所述处理单元还适于：在所述至少一个图像的获取期间检索指示所述相机的焦距的焦点数据；将所述相机的所述焦距与所述分光计模块的最优测量距离相比较；以及基于所述比较的结果输出用户可感知的信息。
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公开(公告)号：CN119595107B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202510142766.1
申请日：2025-02-10
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明提供了一种基于可调滑窗的脉冲电弧光谱组分测量装置及方法，涉及脉冲电弧光谱分析技术领域，装置主要包括脉冲电弧振荡发生回路、光谱仪及触发控制系统；所述脉冲电弧振荡发生回路包括脉冲能量回路、引弧回路、吸收保护回路、脉冲光谱发射源及时序控制系统。本方案可以实现对脉冲电弧的单周期精确捕捉和测量；可灵活调整滑窗的开启时刻及窗口长度；可以对脉冲电弧强电侧与光谱控制采集弱电侧进行有效隔离，并对上位机系统和光谱仪进行有效绝缘保护；可以进行误差校正，有效排除背景光源及工作电路噪声电流的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111812074B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202010800119.2
申请日：2020-08-11
Applicant: 广东唯实生物技术有限公司
Abstract: 本申请提供了一种电子质控卡，涉及免疫层析检测领域，包括：光学模块，包括第一光源部和第二光源部；容纳构件，用于限定光学模块；容纳构件形成有非狭缝的检测窗，第一光源部发射的光和第二光源部发射的光均经由检测窗射出到外部环境。本申请提供的电子质控卡，采用了非狭缝设计，消除了狭缝对获得的光信号产生的干扰，使检测信号更真实的模拟出荧光试纸条的峰型图，一定程度上解决了现有技术中荧光分子(或荧光量子点)标记的试剂卡的荧光物质容易淬灭，信号值会下降，且试纸条受温湿度影响较大，信号值不稳定以及现有的电子的质控卡，存在峰型失真的技术问题。
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公开(公告)号：CN119757269A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411742052.6
申请日：2024-11-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/3586 , G01J3/42 , G06N3/04 , G06N3/08
Abstract: 公开了一种多元太赫兹信息探测方法和装置。其利用距离太赫兹光源预定距离的太赫兹探测器获取两组空间强度分布信息：一组是直接采集的待测太赫兹光的空间强度分布，另一组是太赫兹光经过具有不同相位调控特征的微结构阵列调控后的空间强度分布。通过预先训练的神经网络，根据这两组空间强度分布信息重构得到待测太赫兹光的相位信息、光谱信息和偏振信息。本公开通过微结构阵列的相位调控和神经网络的信息重构，实现了多维信息的同时探测，避免了复杂的光学系统设计；采用双神经网络分别针对不同物理机制进行重构，提高了探测精度；具有毫秒级的快速探测能力，满足实际应用需求；系统结构简单，易于实现，具有良好的扩展性。
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公开(公告)号：CN119756583A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411991335.4
申请日：2024-12-30
Applicant: 昂纳科技(深圳)集团股份有限公司
Inventor： 王铭烽
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及光信号探测技术领域，特别是一种光信号探测系统及其补偿方法、探测设备和存储介质。该方法包括：按照预设周期采集光谱扫描数据；获取当前周期内所述光谱扫描数据的第一信号组，获取所述第一信号组的第一特征和边界频率范围；在下一周期内的光谱扫描数据中，基于所述边界频率范围和所述第一特征获取每个所述第一信号组对应的第二信号组，获取所述第二信号组的第二特征；获取所述第一特征和所述第二特征之间的特征差异，基于所述特征差异修改所述光探测系统的标定数据。本发明能够有效提升光信号探测系统的输出的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN118980428B
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411197585.0
申请日：2024-08-29
Applicant: 射阳拉曼半导体科技有限公司
Inventor： 黄飞
Abstract: 本发明涉及拉曼光谱技术领域，具体是一种LED拉曼光谱连续检测装置，包括该LED拉曼光谱连续检测装置，预先将LED芯片样品安装在物料槽内，且物料槽使得LED芯片样品能够与检测探头一一相对，相比现有的方式，减少LED芯片样品摆放在样品台位置调整的步骤，同时在其中一个LED芯片样品检测结束后，可通过旋转单元控制多棱柱体转动，使得相邻的LED芯片样品转动至与检测探头相对的位置，相比现有LED芯片样品上料和下料方式，本实施例中旋转单元配合多棱柱体，能够快速实现LED芯片样品的上料与下料，效率更高，且能够胜任大批量LED芯片样品的检测。
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公开(公告)号：CN119738353A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202411349206.5
申请日：2024-09-26
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及具有多波长发射的光学测量系统。本文所公开的各种实施方案描述了光子集成电路和相关联的光学测量系统。该光子集成电路可被配置为从复用器的不同输出同时输出不同波长的光。可包括复用光子开关的开关网络可用于选择性地将这些不同波长路由到一组公共的发射组，可从该组发射组从该光子集成电路发射光。
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