利用超表面的偏振状态生成
    52.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118295056A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410345907.5

    申请日:2019-01-24

    Abstract: 本公开涉及利用超表面的偏振状态生成。本公开提供了一种光学部件,该光学部件可以是超表面光栅,该光学部件包括(a)基板以及(b)亚波长间隔的移相元件的阵列,这些移相元件被嵌入在基板上,以在被用偏振入射光照射时,对于有限数量的衍射级中的每个衍射级产生具有不同偏振状态的衍射光束,其中,该有限数量为2或更大。

    一种应用消色差超表面的波前和偏振检测装置及方法

    公开(公告)号:CN118149975A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410286936.9

    申请日:2024-03-13

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于波前和偏振检测技术领域,具体涉及一种应用消色差超表面的波前和偏振检测装置及方法,所述入射光源的光路方向上设置有低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面,所述低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面和微镜阵列均固定在探测器转接环内,所述低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面的光路方向上设置有微镜阵列,所述探测器转接环与探测器CCD芯片固定连接,所述微镜阵列的光路方向上设置有探测器CCD芯片。实现了轻量化及像素配准的偏振矢量测量,多个通光通道采集的偏振矢量信息图像,与分孔径偏振测量相比,减少空间分辨率的牺牲,能够在实现偏振矢量测量的高分辨率,更加高速的完成偏振矢量的探测。

    太赫兹波束光场矢量空间分布测试方法及测试系统

    公开(公告)号:CN118032123A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202310185159.4

    申请日:2023-03-01

    Abstract: 本发明公开了一种太赫兹波束光场矢量空间分布测试方法及测试系统,所述太赫兹波束光场矢量空间分布测试系统,包括分别作为本振信号和被测信号的第一微波源和第二微波源,所述第一微波源和第二微波源分别被一功分器等分成两路信号,其中一路信号通过混频器混频,混频后的差频信号依次经第一低噪声放大器、第一滤波器和锁相环之后馈入IQ混频器,另一路信号分别经过倍频器倍频后转化为具有太赫兹波段的射频输出,并在外差探测器上发生混频,混频后差频信号依次经第二低噪声放大器、第二滤波器后馈入所述IQ混频器。本发明的太赫兹波束光场矢量空间分布测试方法及测试系统能够原位的测量太赫兹波束波前矢量空间分布状态。

    相位差控制装置
    56.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111742202B

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN201980014264.3

    申请日:2019-01-30

    Inventor: 三好有一

    Abstract: 本发明涉及一种能够在CD光谱仪中利用的相位差控制装置的响应性改善技术。相位差控制装置具备:分割偏振器(14),其将来自光源(12)的光分割成直线偏振的测定光和直线偏振的参照光;PEM(16),其以与分光测定相对应的方式对测定光和参照光赋予相位差;PEM驱动器(18),其向PEM(16)供给调制电压;PEM控制电路(24),其输入参照光作为反馈信号,并且向PEM驱动器(18)输出调制控制量信号,相位差控制装置还具备CPU电路(26),该CPU电路监视分割偏振器(14)的光的波长,并输入波长变化作为波长信号,CPU电路(26)将波长信号变换成前馈信号,前馈信号被输出到PEM控制电路(24),PEM控制电路(24)进行基于反馈信号和前馈信号的运算处理,来向PEM驱动器(18)输出调制控制量信号。

    圆偏振光探测方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116659671A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202210159385.0

    申请日:2022-02-21

    Abstract: 本公开提供了一种圆偏振光探测方法,应用于光探测技术领域,包括:获取不同外加偏压下探测器探测到的左圆偏振光电流和右圆偏振光电流,计算在每个该外加偏压下该左圆偏振光电流和该右圆偏振光电流的平均值,基于每个该外加偏压下的该左圆偏振光电流和该右圆偏振光电流的平均值,确定该平均值等于零时该探测器所需施加的目标外加偏压;给该探测器施加该目标外加偏压,利用施加该目标外加偏压后的探测器探测圆偏振光。本申请还公开了一种圆偏振光探测装置、电子设备及存储介质。

    一种基于光学偏振态的参数测量方法

    公开(公告)号:CN116642590A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310508358.4

    申请日:2023-05-06

    Abstract: 本发明涉及一种基于光学偏振态的参数测量方法,方法采用光学偏振测量仪,方法包括以下步骤:设置待测光源;对液晶盒的相位延迟量进行动态定标或静态定标;完成定标后,驱动电路向液晶盒上施加按照一定规律变化的电压信号,基于测量装置得到实验测量模式;扫描多组参数组,得到尝试解模式;将实验测量模式和尝试解模式进行比较,进行迭代计算,得到偏振态参数的最优解,基于最优解确定待测的参数。与现有技术相比,本发明具有减小测量偏差、提高精度、提高效率等优点。

    水下环境偏振光传输特性的测量装置及方法

    公开(公告)号:CN111141389B

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN202010104270.2

    申请日:2020-02-20

    Abstract: 水下环境偏振光传输特性的测量装置及方法,属于偏振传输探测技术领域,包括光源、光束整形透镜、滤光片、线偏振片、1/4波片、玻璃水槽、能量分光棱镜、偏振分光棱镜、光电探测器Ⅰ、光功率计以及光电探测器Ⅱ,所述光源、光束整形透镜、滤光片、线偏振片、1/4波片、玻璃水槽、能量分光棱镜、偏振分光棱镜以及光电探测器Ⅰ依次同光轴布置;所述光功率计设置在分光棱镜的反射方向上;所述光电探测器Ⅱ设置在偏振分光棱镜的反射方向上。本发明测试圆偏振光与线偏振光等固定特殊初始状态的偏振光,经过不同水下环境传输后的偏振、能量,分析并得到水下环境偏振光传输特性,有利于提升水下目标探测识别性能。

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