公开(公告)号：JP6967630B2

公开(公告)日：2021-11-17

申请号：JP2020096568

申请日：2020-06-03

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： チョン ミンイエン ,  リ ジエンリン ,  リン ションウェイ ,  ワン ツシェン

IPC: G05B19/19 ,  G05D1/02

公开(公告)号：JP6918078B2

公开(公告)日：2021-08-11

申请号：JP2019212145

申请日：2019-11-25

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： 劉崇琳 ,  ▲黄▼建興 ,  陳文鍾

IPC: H01C3/00 ,  H01C3/14 ,  H01C1/01 ,  H01C1/084 ,  H01C1/14 ,  H01C3/10

公开(公告)号：JP6796674B2

公开(公告)日：2020-12-09

申请号：JP2019042227

申请日：2019-03-08

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： シュウチャン,シュウ ,  クオイェン,シュウ

IPC: H01M2/10

公开(公告)号：JP2020144130A

公开(公告)日：2020-09-10

申请号：JP2020038437

申请日：2020-03-06

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： 張敏宏 ,  李靜▲りん▼ ,  張晉源 ,  潘政宏 ,  劉茂盛 ,  趙自篤

IPC: G01R31/26 ,  G01R1/067

Abstract: 【課題】 電気部品試験方法及び試験プローブを提供する。 【解決手段】 本明細書に開示されているのは、電気部品を試験するための方法及び試験プローブである。この電気部品は、少なくとも第1の電極と、第2の電極と、を備える。この方法は以下のステップ、すなわち、第1の電極を第1の導電性フレキシブル層で被覆するステップと、第1の電極コンタクトを駆動して、第1の電極コンタクトの第1の端部を、第1の導電性フレキシブル層を介して第1の電極と電気的に接続させるステップと、第2の電極を第2の導電性フレキシブル層で被覆するステップと、第2の電極コンタクトを駆動して、第2の電極コンタクトの第2の端部を、第2の導電性フレキシブル層を介して第2の電極と電気的に接続させるステップと、を含む。第1の導電性フレキシブル層は、異方性導電膜である。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP3227593U

公开(公告)日：2020-09-03

申请号：JP2020002104

申请日：2020-06-03

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： クオ モンジュン ,  チョン ポカイ ,  ヤン チャンチ

IPC: G01R1/06

Abstract: 【課題】放射される不要輻射を低減するシールド構造を備えたプローブコネクタ構造及びテストモジュールを提供する。 【解決手段】プローブコネクタ構造1は、ホルダ10と、プローブユニット20と、金属製シールドカバー30と、を含み、金属製シールドカバー30が当接片31と、シールドシート32と、を含み、当接片31が備える開口部33を介してホルダ10内の突き合わせ部11を露出させ、かつ金属製シールドカバー30がプローブユニット20の側端の対向両側を遮蔽することで、プローブユニット20の側端部から放射される不要輻射を低減し、不要輻射を遮蔽する効果を奏し、プローブコネクタ構造1を使用するテストモジュールが放射妨害波試験を行う時、各周波数の不要輻射がさらに効果的に抑制されて設定した規格基準に達することができる。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP6733001B1

公开(公告)日：2020-07-29

申请号：JP2019082420

申请日：2019-04-24

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： 莊 聖敬 ,  李 明吉 ,  王 治鈞 ,  蔡 誌元

IPC: H02J7/00 ,  H02J50/10 ,  B60M7/00 ,  B60L53/10 ,  H02J50/90

Abstract: 【課題】本発明は車両用のワイヤレス充電モジュールの検査設備及びその検査方法に係るものである。充電モジュールアライメント装置によって送電板と受電板が完全に位置合せられるように両者の位置を校正してから検査する。検査する間に、多軸ステージによって送電板と受電板の位置ずれ量を調節し、位置ずれ量ごとの電力転送効率を算出する。これによって、本発明は、計測位置を高精度に校正することができ、高精度な検査結果が得られ、半自動検査または全自動検査を提供することができ、時間および労力を節約し、検査効率を大幅に改善することができる。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP6731521B2

公开(公告)日：2020-07-29

申请号：JP2019108315

申请日：2019-06-11

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： 許旭昌 ,  許國▲彦▼

IPC: G01R1/067

公开(公告)号：JP6694462B2

公开(公告)日：2020-05-13

申请号：JP2018055828

申请日：2018-03-23

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： 蔡 志 明 ,  陳 昭 旭 ,  廖 漢 洲 ,  向 崇 羽

IPC: H02J7/00 ,  H01M10/04

公开(公告)号：JP2020071219A

公开(公告)日：2020-05-07

申请号：JP2019172635

申请日：2019-09-24

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： 王友延 ,  林佳宏 ,  翁思淵 ,  ▲黄▼國▲ウェイ▼

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28

Abstract: 【課題】プローブ位置合わせの精確度を向上することができると共に、画像分析の計算の複雑度を減少することが可能なプローブ位置合わせ装置を提供する。 【解決手段】測定待機物とプローブ素子との間に設けられており、三角形を呈する透光可能な二つのプリズムで構成され、第1光出射面と、第2光出射面と、光入射面と、を有し、第1光出射面と第2光出射面とは、それぞれプローブ素子と測定待機物とに面し、二つのプリズムの接合面は半分透過可能な反射面を構成し、これにより、光入射面を通過する光線は、反射面に反射されてプローブ素子に入射する分光素子と、分光素子の光入射面に設けられている画像センシング装置と、分光素子の光入射面の対向側に設けられており、一部が反射面を透過する光線は、光反射素子に反射されて反射面に戻して、測定待機物に投射する光反射素子と、を備える。 【選択図】図2

公开(公告)号：JP6385520B2

公开(公告)日：2018-09-05

申请号：JP2017092486

申请日：2017-05-08

Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

Inventor： 劉 茂盛 ,  郭 修▲偉▼

IPC: G01R1/067

CPC classification number: G01R1/07342 ,  G01R1/06716