測試半導體結構的方法
    62.
    发明专利
    測試半導體結構的方法 审中-公开
    测试半导体结构的方法

    公开(公告)号:TW201413260A

    公开(公告)日:2014-04-01

    申请号:TW102123781

    申请日:2013-07-03

    Abstract: 一種積體電路(IC)係包括:佈線電路系統,其在該IC的多個佈線層中包含複數條訊號線路區段;以及複數個微凸塊接點,其被耦合至該佈線電路系統。該IC包含複數個測試電路,被耦合至該等複數條訊號線路區段所組成的個別子集。每一個測試電路係被配置成用以連接該個別子集中的微凸塊接點,以便形成第一組菊鏈以及第二組菊鏈。每一個測試電路係被配置成用以測試該等第一組菊鏈與第二組菊鏈的開路,並且測試該等第一組菊鏈與第二組菊鏈之間的短路。每一個測試電路係被配置成用以決定被偵測到之開路的位置並且決定被偵測到之短路的位置。

    Abstract in simplified Chinese: 一种集成电路(IC)系包括:布线电路系统,其在该IC的多个布线层中包含复数条信号线路区段;以及复数个微凸块接点,其被耦合至该布线电路系统。该IC包含复数个测试电路,被耦合至该等复数条信号线路区段所组成的个别子集。每一个测试电路系被配置成用以连接该个别子集中的微凸块接点,以便形成第一组菊链以及第二组菊链。每一个测试电路系被配置成用以测试该等第一组菊链与第二组菊链的开路,并且测试该等第一组菊链与第二组菊链之间的短路。每一个测试电路系被配置成用以决定被侦测到之开路的位置并且决定被侦测到之短路的位置。

    具有多樣寬度之指的指叉式電容器
    65.
    发明专利
    具有多樣寬度之指的指叉式電容器 审中-公开
    具有多样宽度之指的指叉式电容器

    公开(公告)号:TW201312613A

    公开(公告)日:2013-03-16

    申请号:TW101123671

    申请日:2012-07-02

    CPC classification number: H01L28/86 Y10T29/43

    Abstract: 揭示的是具有多樣寬度之指的指叉式電容器。電容器的一具體態樣(100)包括第一複數個導電指(110)和以連鎖方式與第一複數個導電指(110)而定位的第二複數個導電指(110),以致形成指叉式結構。第一複數個導電指(110)和第二複數個導電指(110)合起來形成一指組,其中該指組(110)之第一指的寬度相對於該指組之第二指是非均勻的。

    Abstract in simplified Chinese: 揭示的是具有多样宽度之指的指叉式电容器。电容器的一具体态样(100)包括第一复数个导电指(110)和以连锁方式与第一复数个导电指(110)而定位的第二复数个导电指(110),以致形成指叉式结构。第一复数个导电指(110)和第二复数个导电指(110)合起来形成一指组,其中该指组(110)之第一指的宽度相对于该指组之第二指是非均匀的。

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