一种天线效率测量装置
    61.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108254629A

    公开(公告)日:2018-07-06

    申请号:CN201711353687.7

    申请日:2017-12-15

    Abstract: 本发明提出了一种天线效率测量装置。包括水平转台、第一水平导轨、第一平台、第二水平导轨、第二平台、支柱、极化转盘、方位角旋转电机、极化角旋转电机,水平转台中央为方位角旋转电机驱动的转子,转轴垂直于地面;第一水平导轨的底部与转子顶面固定连接;第一平台底部与第一水平导轨滑动接触,第一平台顶部与第二水平导轨的底部固定连接;第一水平导轨和第二水平导轨的方向互相垂直;第二平台底部与第二水平导轨滑动接触;支柱垂直地安装在所述第二平台顶部;极化转盘通过水平轴向的轴承安装在所述支柱的顶部,由极化角旋转电机驱动。所述支柱的材料为聚四氟乙烯。本发明解决金属支架对测量结果影响大且无法实现天线方向图全方位测量的问题。

    一种基于微波暗室的高幅度场强传感器校准方法

    公开(公告)号:CN108152772A

    公开(公告)日:2018-06-12

    申请号:CN201711437115.7

    申请日:2017-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于微波暗室的高幅度场强传感器校准方法。与现有的标准场法场强标准装置相比,本发明使用了1000W放大器,并提出了采用该放大器和耐受功率超过1000W的微波器件实现1000V/m或更高场强的产生方法,采用空间衰减的方法避开了微波器件无法在大功率条件下溯源的问题,解决了标准场法和标准天线法目前不能对200V/m以上幅度场强进行溯源的问题,从而可解决目前能够购买到的场强传感器场强幅度测量范围通常超过200V/m,而现有的场强标准装置只能满足200V/m以下场强传感器校准的问题。实现了1GHz以上频段、高于200V/m场强的电磁场传感器校准需求;从而实现了现有场强标准装置不能完成的高幅度场强传感器校准工作。

    一种电流探头校准夹具
    63.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107765204A

    公开(公告)日:2018-03-06

    申请号:CN201710840973.X

    申请日:2017-09-18

    Abstract: 本申请公开了一种电流探头校准夹具,包括N型接头、侧面板、顶面板、中心导体和匹配段导体;所述匹配段导体包括匹配段外导体和匹配段内导体,所述匹配段外导体固定在所述侧面板外侧中央,所述匹配段内导体位于所述匹配段外导体内部中心;所述中心导体位于夹具中心,与所述匹配段内导体可拆卸同轴连接;所述顶面板垂直可拆卸连接在侧面板内侧边缘,与侧面板共同构成夹具框架;N型接头固定连接在所述匹配段外导体上,用于接收标准电流信号;所述校准夹具为对称结构,两侧采用相同结构。本发明解决了传统夹具结构无法满足环形闭合电流探头校准需求,适用于不同尺寸的探头,具有良好的通用性,提高电流探头校准工作的效率。

    一种基于混响室和传递探头的电磁场传感器校准系统

    公开(公告)号:CN106772177A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611128347.X

    申请日:2016-12-09

    CPC classification number: G01R35/005

    Abstract: 本发明公开一种基于混响室和传递探头的电磁场传感器校准系统,所述系统包括:混响室;置于所述混响室内工作区域连接有场强计的传递探头;位于所述混响室内的搅拌器和发射天线;和位于所述混响室外与所述发射天线连接的电磁场信号发生装置,本发明基于混响室技术,可以实现置于所述混响室内工作区域的电磁场传感器校准,可以使用宽带天线代替角锥喇叭天线,提高电磁场传感器校准的效率,使用混响室代替微波暗室,可以使用20W的功率放大器产生200V/m的场强环境,能够降低校准成本,同时使用传递探头法可以将电磁场传感器的校准结果溯源至微波暗室中的标准场强环境,实现电磁场传感器校准的溯源,保证电磁场传感器校准的准确性。

    一种雷电脉冲电场传感器的时域校准装置和方法

    公开(公告)号:CN119846530A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202411910984.7

    申请日:2024-12-24

    Inventor: 刘栋 彭博 齐万泉

    Abstract: 本发明提供了一种雷电脉冲电场传感器的时域校准装置和方法,属于电磁传感技术领域,该时域校准装置包括:高压脉冲源、TEM室、高压分压器、光电传输模块和示波器;高压脉冲源的信号输出端与TEM室的输入端连接,高压分压器的第一端与TEM室的输出端连接,高压分压器的第二端与示波器的第一通道连接;光电传输模块的输入端与待校准的脉冲电场传感器连接,输出端与示波器的第二通道连接,待校准的脉冲电场传感器位于TEM室的时域脉冲场区域中。本发明的一种雷电脉冲电场传感器的时域校准装置通过采用高压脉冲源产生μs级脉冲电压,脉冲峰值功率可达到MW以上,平均功率仅仅到W级,使得时域校准经济可行,可以实现对待校准的脉冲电场传感器的时域校准。

    一种针对芯片引脚传导发射电压的测试装置及方法

    公开(公告)号:CN119827847A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202411966073.6

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本发明公开一种针对芯片引脚传导发射电压的测试装置及方法,包括设置有供电电源的测试电路板、测试探头、和接收机,测试探头包含测试探针和阻抗匹配网络,测试探针直接接触待测芯片的待测引脚,阻抗匹配网络的输入端连接测试探针,输出端连接接收机,待测芯片放置于测试电路板上,供电电源给待测芯片供电形成噪声源,接收机在预设频率范围内扫频得到芯片发射电压测试数据。利用芯片级测试探头测量芯片引脚处的对外发射电压幅值,为芯片的集成电路设计阶段,对无用信号的传导发射输出抑制能力和电路间的电磁兼容性提供评估方法和测量手段,也可作为芯片电磁兼容性筛选的依据。

    用于里德堡原子场强测量的场强衔接方法、系统及设备

    公开(公告)号:CN118209789A

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202311871439.7

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明属于微波电场强度测量领域,具体涉及了一种用于里德堡原子场强测量的场强衔接方法、系统及设备,旨在解决现有技术中对于微波场强,无法做到有效溯源,以及超外差方案场强测量的不确定度较高的问题。本发明包括:调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号,结合微波频率绘制净功率和场强之间的关系图,作为第一关系图,计算第一关系图的斜率k1;调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号,结合加入的耦合光绘制净功率和差频谱峰高度之间的关系图,作为第二关系图,计算第二关系图的斜率k2;基于斜率k1和斜率k2计算得到线性比率K。本发明可以降低里德堡原子场强测量的不确定度,且原理清晰、易于实现与应用。

    一种光频标尺频率间隔测量方法和装置

    公开(公告)号:CN118190178A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202311372146.4

    申请日:2023-10-20

    Abstract: 本申请公开了一种光频标尺频率间隔测量方法,包括以下步骤:生成射频线性频移扫描信号,用所述射频线性频移扫描信号对激光进行频率调制,生成扫频激光;所述扫频激光接入待测的光频标尺模块,获取干涉条纹;根据干涉条纹相邻峰值的时间间距和所述扫频激光在所述时间间距内的频移量,标定所述干涉条纹相邻峰值间距所表示的频移。本申请还包含用于实现所述方法的装置。本申请的技术方案解决现有技术的扫频测量设备价格高、测量精度低的问题,尤其涉及激光频率变化测量装置的频率准确性考核的应用。

    芯片校准夹具的阻抗特性仿真分析方法及装置

    公开(公告)号:CN118133597A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202311855190.0

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明提供一种芯片校准夹具的阻抗特性仿真分析方法及装置,所述方法包括:通过电磁场仿真的方式,建立测试探头和校准夹具的仿真模型;对所述仿真模型进行有限元分析计算,确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素,并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正,确定探头的校准信息。本发明通过电磁场仿真的方式,建立测试探头和校准夹具的仿真模型并开展有限元分析计算,确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素,可并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正,确定探头的校准信息。

    基于紧缩场的雷达天线谐波乱真测量方法及装置

    公开(公告)号:CN118130919A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202311855194.9

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明提供一种基于紧缩场的雷达天线谐波乱真测量方法及装置,方法包括:搭建紧缩场测试暗室,所述紧缩场测试暗室包括:反射面、馈源和馈源转台,利用焦点处高性能馈源照射高精度反射面形成平面波信号,反射面边缘的处理和微波暗室的配合以在空间测试区域创造出一个静区,所述静区用于模拟被测物在无反射的自由空间中的辐射特性;在所述紧缩场测试暗室创造的无反射的自由空间的辐射特性条件下,对待测试的雷达天线进行谐波乱真测量。本发明在紧缩场的测量暗室环境下,利用反馈面形成平面波以等效远场测试条件,有效避免了外场测试条件的复杂电磁环境干扰,使其能够准确的测量由天线端辐射发射出的谐波、乱真干扰信号。

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