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公开(公告)号：CN105203494B
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201510607276.0
申请日：2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 高温半透明材料折射率及吸收系数反演测量装置及方法，属于高温半透明材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决现有半透明材料高温热辐射物性的测量方法复杂并且测量结果不可靠的问题。装置包括傅立叶红外光谱分析仪、数据处理系统、黑体光源B、旋转平台、黑体辐射加热器、黑体光源A、真空罐和循环水恒温套筒；方法首先通过实验测得指定实验温度下待测半透明材料指定方向上的光谱方向表观发射率，在此基础上通过逆问题求解方法计算得到该材料的光谱折射率和光谱吸收系数，利用该方法可以精确地计算出待测材料的光谱折射率和光谱吸收系数。本发明用于高温半透明材料的热物性测量。
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公开(公告)号：CN105203437B
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201510603970.5
申请日：2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。
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公开(公告)号：CN106644852A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201610907548.3
申请日：2016-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N15/0211 , G01N15/00
Abstract: 基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面，通过改变试件的厚度以及入射激光的波长，然后测量不同角度的时域透射及反射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型，在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。
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公开(公告)号：CN106023082A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610348998.3
申请日：2016-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。
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公开(公告)号：CN103487356B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310467042.1
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系，测量颗粒系的反射信号和透射信号，用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况，运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率，本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103091252B
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201310047855.5
申请日：2013-02-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于红外测温仪的材料发射率测量方法，属于高温不透明材料热物性测量技术领域；本发明是为了解决现有材料发射率测量方法的测量结果精确度差、使用复杂和测量速度慢的问题；本发明首先使用红外测温仪对黑体炉的温度进行测量，并通过计算得到红外测温仪接收的杂散辐射能，然后使用热电偶测温仪对待测材料所制成的试件表面温度进行测量，得到了试件表面的真实温度；本发明设计实现了在五种设定红外测温仪发射率条件下使用测量试件表面温度，得到五个测量温度值，利用五个设定发射率和五个测量温度值代入计算公式得到五个材料发射率，并取其平均值获得待测材料发射率，本发明主要应用在高温不透明材料发射率测量技术领域。
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公开(公告)号：CN104133033A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201410416629.4
申请日：2014-08-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种水中悬浮颗粒物上痕量吡哌酸萃取富集和定量的方法，将目标水样用微孔纤维膜过滤，收集过滤后的滤膜，将滤膜晾干后剪成碎片置于三角瓶中，加入萃取剂密封、振荡、超声波萃取；用有机滤膜过滤萃取液，同时将过滤后的萃取液转移至K-D浓缩瓶中；加入脱水干燥剂到萃取过滤液，吸干水份后，将K-D浓缩瓶放入旋转蒸发器进行浓缩；将浓缩后的液体用氮气吹扫至体积为1ml以下；将浓缩液萃取过滤液定容至1mL后转移到安捷伦专用瓶中；采用内标法，用高效液相色谱串联三级质谱联用仪器进行检测；对色谱质谱分析图进行分析，即完成检测。本方法补充了水环境中悬浮颗粒物上吸附的吡哌酸的含量，补充了抗生素检测的空白。
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公开(公告)号：CN103487356A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310467042.1
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系，测量颗粒系的反射信号和透射信号，用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况，运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率，本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN103454244A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310412799.0
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多频调制激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，属于半透明介质辐射特性测量技术领域。本发明为了解决半透明介质辐射特性测量中，单次测量信息的测量结果误差较大的问题。它基于多频调制激光辐照技术，利用多频调制激光照射具有一定黑度涂层的半透明介质表面，通过改变激光调制频率、激光入射角度、试件厚度及试件涂层黑度来获得多组边界处的频域半球反射信号，基于这些反射信号结合逆问题求解技术获得半透明介质的辐射物性参数。本发明用于测量半透明介质辐射特性。
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公开(公告)号：CN119023076A
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202411182647.0
申请日：2024-08-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J5/00 , G01J5/02 , G06T11/00 , G06T3/4007 , G06T3/4053 , G06T7/246
Abstract: 一种基于双相机融合的光场层析成像系统及火焰三维温度场重建方法，它属于火焰温度测量技术领域。本发明解决了现有火焰三维温度场重建方法的重建误差大、重建的时间分辨率低的问题。本发明分别利用RGB相机和高速相机采集火焰光场图像，结合RGB相机和高速相机的特点，对RGB相机采集的相邻两帧图像进行插值，得到高速相机各个采集时间点对应的高分辨率图像，再结合插值图像和高速相机采集的图像进行光线追踪，根据光线追踪结果建立重建方程组，最后对重建方程组进行求解得到黑体光谱辐射强度，再将黑体光谱辐射强度转换为黑体温度，完成三维温度场重建。本发明方法可以应用于火焰三维温度场重建。
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