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公开(公告)号:CN105826278B
公开(公告)日:2020-02-21
申请号:CN201610040558.1
申请日:2016-01-21
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 提供一种中空型电子器件密封用片,其可得到能够将中空型电子器件适宜地埋入热固化性密封用片并抑制了热固化性密封用片的上表面的凹凸的中空型电子器件封装件。一种中空型电子器件密封用片,其具有隔片和热固化性密封用片,隔片的厚度(mm)与25℃时的拉伸弹性模量(N/mm2)之积为200N/mm以上,热固化性密封用片在50℃~100℃范围内的最低熔融粘度为100kPa·s以上。
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公开(公告)号:CN105247975B
公开(公告)日:2018-11-02
申请号:CN201480030840.0
申请日:2014-04-14
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供软磁性薄膜层叠电路基板的制造方法,其是制造在电路基板的至少一个面上层叠有软磁性薄膜的软磁性薄膜层叠电路基板的方法,其具备以下工序:使含有软磁性颗粒、孔隙率为15%以上且60%以下、并且呈半固化状态的软磁性热固化性薄膜与电路基板的一个面接触的工序;以及通过真空热压将软磁性热固化性薄膜制成固化状态的工序。
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公开(公告)号:CN106206470A
公开(公告)日:2016-12-07
申请号:CN201610350092.5
申请日:2016-05-24
Applicant: 日东电工株式会社
CPC classification number: H01L2224/16225 , H01L2224/97 , H01L2924/181 , H01L2924/00012 , H01L23/3121 , H01L21/561 , H01L23/293
Abstract: 本发明提供能够抑制进入电子器件与被粘物之间的中空部的树脂的量在每个封装体中发生偏差的中空型电子器件密封用片。就本发明的中空型电子器件密封用片而言,开始样品的储藏弹性模量的测定,并从开始至储藏弹性模量达到10MPa的时间T为400秒以下。
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