公开(公告)号：KR1019960027675A

公开(公告)日：1996-07-22

申请号：KR1019940034262

申请日：1994-12-14

Applicant: 한국전자통신연구원 ,  주식회사 케이티

Inventor： 김선미 ,  이재흠 ,  이병선

IPC: H04L12/24

Abstract: 본 발명은 상대적 위치값을 이용한 장애 위치(Defect location) 파악 방법에 관한 것으로, VP/VC 연결의 망요소의 위치를판단하는 제1단계와, 장애를 최초로 검출한 장애검출 VP/VC 연결 망요소인 경우에는 VP/VC-AIS OAM 셀내의 장애 위치 필드에 제1특정값을 기입하여 AIS OAM 셀을 송신하고, VP/VC 연결의 연결 망요소의 경우에는 바로 실패상태가 되는 제2단계와, 장애를 최초로 검출한 장애검출 VP/VC 연결 망요소 또는 VP/VC 연결의 연결 망요소가 상기 실패상태에서 수신되는 고장관리 OAM 셀의 OAM 기능타입에 따라 상대적 장애 위치를 파악하는 제3단계와, VP/VC 연결의 종단 망요소인 경우에 실패상태에서 수신되는 고장관리 OAM 셀의 OAM 기능타입에 따라 상대적 장애 위치를 파악하고 RDI OAM 셀을 생성하거나 폐기하는 제4단계를 포함하는 것을 특징으로 하여, 장애발생 위 치파악을 위한 추가의 시험기능을 필요로 하지 않고 자동적으로 장애 발생 사실의 인지와 동시에 위치에 대한 파악이 가능한 효과가 있다.