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公开(公告)号:CN103884696A
公开(公告)日:2014-06-25
申请号:CN201310711965.7
申请日:2013-12-19
Applicant: JDS尤尼弗思公司
Inventor: 乔治·J.·欧肯法斯
CPC classification number: G01J1/0488 , A61B5/0059 , A61B5/0071 , A61B5/0075 , A61B5/14532 , A61B5/1455 , A61B5/1459 , A61B2562/0233 , A61B2562/12 , G01J1/42 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/4406 , G01J2003/1226 , G01N21/645 , G02B5/285
Abstract: 本发明公开了一种具有光透射滤光器的分光计组件,该光透射滤光器包括交替堆叠的连续的非图案化的金属层和电介质层。例如与具有多层电介质的滤光器相比,具有连续金属层的本发明的光透射滤光器的角度相关透射波长偏移小,从而有利于减小分光计组件的尺寸。
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公开(公告)号:CN103872155A
公开(公告)日:2014-06-18
申请号:CN201410101842.6
申请日:2014-03-19
Applicant: 南京大学
IPC: H01L31/0304 , H01L31/18 , G01J1/42
CPC classification number: Y02P70/521 , H01L39/10 , G01J1/42 , H01L39/2416
Abstract: 本发明公开了一种表面等离激元增强的超导单光子探测器及其制备方法。该超导单光子探测器在基于氮化铌的超导单光子探测器的纳米线区表面布置有金纳米颗粒。其制备方法包括将含有十二烷基硫醇-金纳米颗粒的溶液滴入装有水的聚四氟乙烯容器里面;待溶剂蒸发后,在水和空气的界面形成单层的金纳米颗粒层;用聚二甲基硅氧烷蘸取单层的金纳米颗粒层;将聚二甲基硅氧烷上的单层的金纳米颗粒层转贴至基于氮化铌的超导单光子探测器的纳米线性区。相比传统的基于氮化铌的超导单光子探测器,本发明的探测器对400-1000nm波段的可见光到近红外的光子探测效率有提升,特别是对750nm的光子探测效率提升超过10倍。
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公开(公告)号:CN103827955A
公开(公告)日:2014-05-28
申请号:CN201280044578.6
申请日:2012-08-09
Applicant: EIZO株式会社
CPC classification number: G09G5/04 , G01J1/42 , G01J3/0264 , G01J3/506 , G01J3/52 , G09G5/02 , G09G2320/0666 , G09G2320/0693 , G09G2340/06
Abstract: 提供无论显示装置的规格如何都可以通用地测定色彩表现的显示光强度的测定方法、计算机程序、以及测定系统。与光学传感器(2)连接的测定装置(1)可以与作为测定对象的显示装置(信息终端装置(3))通信,向显示装置发送包含色标的内容而显示内容,在显示中使用光学传感器(2)进行测定。为了使用多个色标进行测定,测定装置(1)在显示一个色标时的测定结束的情况下,将包含另一个色标的内容向显示装置发送并显示,在显示中反复进行测定。
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公开(公告)号:CN103676119A
公开(公告)日:2014-03-26
申请号:CN201310607979.4
申请日:2013-11-25
Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司
IPC: G02B19/00 , G02B3/08 , G02B6/32 , G05D3/00 , G02F1/13357
CPC classification number: G02F1/1336 , F24S23/30 , F24S50/20 , G01J1/0238 , G01J1/0411 , G01J1/0422 , G01J1/0448 , G01J1/0451 , G01J1/42 , G01J2001/4266 , G02B3/0037 , G02B3/08 , G02B6/0006 , G02B6/04 , G02B6/32 , G02B19/0014 , G02B19/0042 , G02F2001/133612 , G02F2001/133618
Abstract: 本发明提供了一种太阳光收集装置,其包括透镜基板、多个菲涅尔透镜、连接器基板、多个光纤连接器及追光基板。所述透镜基板具有多个圆形镂空孔。所述多个菲涅尔透镜对应所述多个圆形镂空孔设置在所述透镜基板上。所述连接器基板平行所述透镜基板设置,且与所述透镜基板相距焦距。所述多个光纤连接器可调整地设置于所述连接器基板上。所述追光基板设置于所述透镜基板及所述连接器基板之间,用于同时转动所述透镜基板及连接器基板,以使多个菲涅尔透镜正对太阳光。本发明还提供了利用太阳光作为背光源的液晶显示器。
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公开(公告)号:CN103608661A
公开(公告)日:2014-02-26
申请号:CN201280021684.2
申请日:2012-05-03
Applicant: 西门子医疗保健诊断公司
Inventor: F.克鲁夫卡
IPC: G01N21/00
CPC classification number: G01J1/42 , G01J3/10 , G01J3/42 , G01N21/645 , G01N21/6452 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2021/6478 , G01N2201/0627
Abstract: 公开了适于帮助在对试验器皿中的试验样本进行照明的方法和装置。所述方法包括通过关闭除了感兴趣的光源之外的所有光源并取得读数来对多个波长光源进行排序。照明装置具有:支架,所述支架具有第一和第二臂以及其之间的被适配为接纳试验器皿的空间;耦合到第一臂的光源阵列和透镜阵列;被适配为对来自每个光源的光信号进行滤波的带通滤波器阵列;被适配为对发射到试验器皿的光的范围进行限制的至少一个孔阵列;以及耦合到第二臂的单个光电检测器,被适配为在不移动试验器皿的情况下从每个光源接收光信号。公开了系统,其他方面相同。
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公开(公告)号:CN103443938A
公开(公告)日:2013-12-11
申请号:CN201180069220.4
申请日:2011-03-15
Applicant: 日本先锋公司 , 先锋自动化设备股份有限公司
CPC classification number: G01J1/42 , G01J2001/4252
Abstract: 本发明提供一种可高速地测定半导体发光元件的发光状况,并根据其测定结果检查该半导体发光元件的半导体发光元件检查装置。半导体发光元件检查装置(3)为对从LED(101)发射的发光状况进行检查的LED(101)检查装置(3),具有:CCD(105),其配置于LED(101)的发光中心轴上,且与LED(101)相向配置,其接收从LED(101)发射的光,可在多个地点测定每个地点所接收的受光状况;反射部(123),其反射从LED(101)发射的光,并将其导光至CCD(105);存储部(161),其存储作为比较基准的基准信息,用于与CCD(105)所得到的多个地点的受光状况相关的受光信息进行比较;以及检测器(151),其将基准信息与受光信息进行比较检查。
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公开(公告)号:CN103003848A
公开(公告)日:2013-03-27
申请号:CN201180035188.8
申请日:2011-05-26
Applicant: 德国捷德有限公司
CPC classification number: G01J1/42 , G07D7/12 , G07D7/202 , G07G1/0045 , G07G1/0081
Abstract: 为了测试有价文件(BN)的真实性,在暗场中以空间辨析的方式检测穿过有价文件(BN)的电磁射线(7)的至少一个强度分布,并由此确定空间辨析的暗场特征。然后,通过将有价文件(BN)的所选的测试部分区域(51a,51b)分别指定为多个可疑类中的一个这一过程来进行实际的真实性测试,由指定为至少一个特定可疑类的大致互连的测试部分区域(51a,51b)构成相关区域,并且依据相关区域的形状和/或位置将有价文件(BN)指定为至少两个真实性类别中的与至少一个特定可疑类有联系的一个。
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公开(公告)号:CN102738260A
公开(公告)日:2012-10-17
申请号:CN201210097195.7
申请日:2012-03-30
Applicant: 元太科技工业股份有限公司
IPC: H01L31/032 , H01L31/105 , H01L31/20 , G01J1/42
CPC classification number: G01J1/42 , H01L31/022483 , H01L31/032 , H01L31/105 , H01L31/108
Abstract: 本发明揭露一种光电二极管、光感测组件及光电二极管的制造方法。光电二极管的N型半导体层与本质半导体层分别包含N型非晶型铟镓锌氧化物与本质非晶型铟镓锌氧化物,且本质非晶型铟镓锌氧化物的含氧量高于N型非晶型铟镓锌氧化物的含氧量。
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公开(公告)号:CN102576071A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201080040240.4
申请日:2010-07-15
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01S7/4816 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0411 , G01J1/0418 , G01J1/0437 , G01J1/0448 , G01J1/22 , G01J1/42 , G01S7/489 , G01S7/497 , G01S17/10 , G02F2203/52
Abstract: 本发明推荐了一种光子探测器(1),其除了可活动抑制的光子敏感元件(5)之外还具有光子透射元件(7)。该光子探测器构造用于比如通过改变该光子透射元件(7)的吸收特性或散焦特性来改变由该光子透射元件(7)所透射的并投射到该光子敏感元件(5)上的光子强度。这样该可活动抑制的光子敏感元件就可以总是在最佳工作区域附近并在可活动抑制区域之下被运行,其中该光子敏感元件比如可以作为SPAD(SinglePhotonAvalancheDiode;单光子雪崩二极管)来构造。另外本发明还阐述了具有这种光子探测器的一种距离测量设备。
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公开(公告)号:CN101539746B
公开(公告)日:2011-09-07
申请号:CN200910129664.7
申请日:2009-03-18
Applicant: 株式会社理光
Inventor: 增田浩二
CPC classification number: G03G15/556 , G01B11/00 , G01B11/14 , G01J1/0238 , G01J1/42 , G01N21/55 , G03G11/00 , G03G15/0178 , G03G15/5041 , G03G15/5058 , G03G2215/00042 , G03G2215/00059
Abstract: 本发明提供一种色粉浓度计算方法,反射光学传感器,反射光学传感器装置和图像形成设备。基于支撑构件的反射特性和色粉图案的反射特性之间的差异,根据光接收元件的输出计算色粉浓度。在倾斜于副方向的一个方向上排列的光发射元件以落在支撑构件上的相邻的光斑之间在第二方向上的距离等于或者小于色粉图案在第二方向上的宽度这样的方式发射检测光。光接收元件接收从支撑构件和/或色粉图案反射的反射光。与支撑构件相对,对应于光发射元件的光接收元件在一个方向上排列。
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