-
公开(公告)号:CN101375143B
公开(公告)日:2011-04-13
申请号:CN200780003689.1
申请日:2007-01-24
Applicant: 普拉德研究及开发股份有限公司
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/0218 , G01J3/0232 , G01J3/0294 , G01J3/10 , G01J3/42 , G01N21/274 , G01N21/31 , G01N2021/317 , G01N2201/08
Abstract: 本发明公开了用于流体分析的方法和设备。井下流体分析系统包括输入光信号,该输入光信号照射穿过容纳在样品室(202)中的流体样品。输入光信号可源自多个光源(200)。然后将来自样品室的光信号引导(206)至两个或更多个光谱仪(214,216),用于输出光信号中代表性波长的测量。然后比较光谱仪的输出和井下常见烃类的已知值。从而了解流体样品的组成。此外,可将输入光直接引导(210)至两个或更多个光谱仪,用于对井下高温和噪声环境中的系统进行校准。
-
公开(公告)号:CN101124462B
公开(公告)日:2011-01-26
申请号:CN200580041267.4
申请日:2005-10-25
Applicant: RP风险技术有限公司
Inventor: 哈迈德·哈米德·穆罕默德 , 弗雷德里克·贝里霍尔姆
IPC: G01J3/51
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0294 , G01J3/2823 , G01J3/51 , G01J2003/1213 , G01J2003/2826 , G01N2021/1793 , G01N2021/1797 , G01N2021/3177
Abstract: 本发明涉及待变换成多光谱或超光谱图像的瞬时或非瞬时多频带图像的产生,包括光收集装置(11)、具有至少一个二维传感器阵列(121)和位于装置(1)的光路(OP)中的所述图像传感器阵列(121)之前的瞬时颜色分离装置(123)的图像传感器(12)、以及以使成像局限于电磁谱的特定部分为目的的位于所述光路(OP)中的第一均匀滤谱器(13)。本发明特别教导了包括安装在滤光器轮(114)上或由透射式显示器(115)显示的均匀滤色器或滤谱器和/或滤色器或滤谱器马赛克的滤光器单元(FU)水久地或可互换地位于所述光路(OP)中的所述颜色分离装置(123)之前,或者接近会聚光(B)。每个滤色器或滤谱器马赛克由众多均质滤光区组成。滤色器或滤谱器马赛克的所述滤光区的透射率曲线(TC)可以部分重叠,除此之外,这些透射率曲线与属于所述颜色分离装置(123)的所述滤光区的透射率曲线重叠。所述滤色器或滤谱器马赛克和所述颜色分离装置(123)的透射率曲线(TC)适当遍布待研究的光谱区间。所述颜色分离装置(123)与所述滤色器或滤谱器马赛克的组合产生不同组的线性无关的透射率曲线(TC)。通过对受多重滤光器马赛克的诸区影响的图像区进行标识和分段,由所述图像传感器(12)捕捉到的多重滤光器图像被去马赛克,且在任选的插值步骤之后,获得多频带图像。所得多频带图像被变换成多光谱或超光谱图像。
-
公开(公告)号:CN101014841B
公开(公告)日:2010-05-05
申请号:CN200580026987.3
申请日:2005-06-02
Applicant: 应用光学电子光学及光谱学开发研究所 , 分析科学促进学会
IPC: G01J3/18
CPC classification number: G01J3/1809 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0232 , G01J3/0237 , G01J3/0286 , G01J3/0294 , G01J3/08 , G01J3/12 , G01J3/2803
Abstract: 一种光谱计装置(10)具有一个光谱计(14),用于在一个探测器(42)上产生一种来自辐射源的辐射的第一波长范围的光谱,它包含一个阶梯光栅(36)用于对于进入光谱计装置(10)里的辐射在一个光分散方向(46)上进行光谱分解;包含一个用于分散的元件(34)用于借助于对所述辐射在一个横向分散方向(48)上的光谱分散来进行序列分离,此横向分散方向与阶梯光栅(36)的主分散方向形成一个角度,因此可以产生具有多数分开序列(52)的二维光谱(50);包含一个成像的光学装置(24,38)用于使通过入射间隙(20)进入光谱计装置(10)的辐射在一个成像平面(40)里成象,并且包含一个面积探测器(42),它具有许多探测元件在成象平面(40)里成象,并且包含一个面积探测器(42),它在成象平面(40)里具有许多探测元件的一种二维布置。所述装置的特征在于,设有另外一个光谱计(12),它具有至少另外一个进行分散的元件(64)和另外一个成像的光学装置(60,66),用于在同一个探测器(42)上产生一种来自一个辐射源的辐射的与第一波长范围不同的第二波长范围的光谱(68)。所述光谱可以按面积或者随时间在探测器上进行分离。
-
公开(公告)号:CN101395462A
公开(公告)日:2009-03-25
申请号:CN200780007815.0
申请日:2007-03-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/27
CPC classification number: G01N21/553 , G01J3/02 , G01J3/0256 , G01J3/0294
Abstract: 本发明提供表面等离子体共振传感器用芯片和表面等离子体共振传感器。在透明基板(12)的上表面形成有Au等金属层(13)。在金属层(13)的上表面形成厚度互不相同的介电质层(14a、14b、14c)(任意一个介电质层的厚度也可为0),分别构成测定区域(15a、15b、15c)。并且,在介电质层(14a、14b、14c)的上表面固定不同种类的抗体(22a、22b、22c)。而且,对照射光而在测定区域(15a、15b、15c)反射的信号进行接收,分析将其分解后得到的信号,从而能够同时检测各测定区域的表面状态。
-
公开(公告)号:CN101213428A
公开(公告)日:2008-07-02
申请号:CN200680020430.3
申请日:2006-06-08
Applicant: RSP系统有限责任公司
CPC classification number: G01J3/08 , G01J3/0205 , G01J3/0294 , G01J3/0297 , G01J3/44 , G01J2003/4424
Abstract: 本发明涉及一种测量光束至少两种光谱学上位移的光谱分布的光谱设备,所述设备包括色散元件和检测器,所述色散元件当被光束照射时,适用于产生所述光束中光谱分量的空间色散;该检测器适用于测量至少一部分所述色散光谱分量的强度;所述设备还包括光学位移装置,适用于以至少两种不同方式照射所述色散元件,使所述光束不同地投射到所述色散元件上,从而使所述色散元件产生所述光束中光谱分量的至少两种空间上位移的空间色散。本发明还涉及一种探测系统,该探测系统包括:测量光束至少两种光谱学上位移的光谱分布的所述光谱设备,和测量光束至少两种光谱学上位移的光谱分布的方法。
-
公开(公告)号:CN101124462A
公开(公告)日:2008-02-13
申请号:CN200580041267.4
申请日:2005-10-25
Applicant: RP风险技术有限公司
Inventor: 哈迈德·哈米德·穆罕默德 , 弗雷德里克·贝里霍尔姆
IPC: G01J3/51
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0294 , G01J3/2823 , G01J3/51 , G01J2003/1213 , G01J2003/2826 , G01N2021/1793 , G01N2021/1797 , G01N2021/3177
Abstract: 本发明涉及待变换成多光谱或超光谱图像的瞬时或非瞬时多频带图像的产生,包括光收集装置(11)、具有至少一个二维传感器阵列(121)和位于装置(1)的光路(OP)中的所述图像传感器阵列(121)之前的瞬时颜色分离装置(123)的图像传感器(12)、以及以使成像局限于电磁谱的特定部分为目的的位于所述光路(OP)中的第一均匀滤谱器(13)。本发明特别教导了包括安装在滤光器轮(114)上或由透射式显示器(115)显示的均匀滤色器或滤谱器和/或滤色器或滤谱器马赛克的滤光器单元(FU)永久地或可互换地位于所述光路(OP)中的所述颜色分离装置(123)之前,或者接近会聚光(B)。每个滤色器或滤谱器马赛克由众多均质滤光区组成。滤色器或滤谱器马赛克的所述滤光区的透射率曲线(TC)可以部分重叠,除此之外,这些透射率曲线与属于所述颜色分离装置(123)的所述滤光区的透射率曲线重叠。所述滤色器或滤谱器马赛克和所述颜色分离装置(123)的透射率曲线(TC)适当遍布待研究的光谱区间。所述颜色分离装置(123)与所述滤色器或滤谱器马赛克的组合产生不同组的线性无关的透射率曲线(TC)。通过对受多重滤光器马赛克的诸区影响的图像区进行标识和分段,由所述图像传感器(12)捕捉到的多重滤光器图像被去马赛克,且在任选的插值步骤之后,获得多频带图像。所得多频带图像被变换成多光谱或超光谱图像。
-
公开(公告)号:CN101014841A
公开(公告)日:2007-08-08
申请号:CN200580026987.3
申请日:2005-06-02
Applicant: 应用光学电子光学及光谱学开发研究所 , 分析科学促进学会
IPC: G01J3/18
CPC classification number: G01J3/1809 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0232 , G01J3/0237 , G01J3/0286 , G01J3/0294 , G01J3/08 , G01J3/12 , G01J3/2803
Abstract: 一种光谱计装置(10)具有一个光谱计(14),用于在一个探测器(42)上产生一种来自辐射源的辐射的第一波长范围的光谱,它包含一个阶梯光栅(36)用于对于进入光谱计装置(10)里的辐射在一个光分散方向(46)上进行光谱分解;包含一个用于分散的元件(34)用于借助于对所述辐射在一个横向分散方向(48)上的光谱分散来进行序列分离,此横向分散方向与阶梯光栅(36)的主分散方向形成一个角度,因此可以产生具有多数分开序列(52)的二维光谱(50);包含一个成像的光学装置(24,38)用于使通过入射间隙(20)进入光谱计装置(10)的辐射在一个成像平面(40)里成象,并且包含一个面积探测器(42),它具有许多探测元件在成象平面(40)里成象,并且包含一个面积探测器(42),它在成象平面(40)里具有许多探测元件的一种二维布置。所述装置的特征在于,设有另外一个光谱计(12),它具有至少另外一个进行分散的元件(64)和另外一个成像的光学装置(60,66),用于在同一个探测器(42)上产生一种来自一个辐射源的辐射的与第一波长范围不同的第二波长范围的光谱(68)。所述光谱可以按面积或者随时间在探测器上进行分离。
-
公开(公告)号:CN1982944A
公开(公告)日:2007-06-20
申请号:CN200610076439.8
申请日:2006-04-20
Applicant: 富士通株式会社
Inventor: 柴田康平
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0291 , G01J3/0294 , G01J3/0297 , G02B5/1866 , G02B6/29311 , G02B6/29358 , G02B6/29397
Abstract: 多波长分光装置。在使用多个衍射光栅的多波长分光装置中,第一衍射光栅是p偏振光和s偏振光的衍射效率在工作波长范围的短波长侧相等的衍射光栅,第二衍射光栅是p偏振光和s偏振光的衍射效率在工作波长范围的长波长侧相等的衍射光栅。通过使用两个这种衍射光栅进行色散,可以增大角色散量,并且可以制造下述的分光装置,该分光装置消除了衍射效率的波长依赖性,并具有很小的衍射效率的波长依赖性。
-
公开(公告)号:CN1318742A
公开(公告)日:2001-10-24
申请号:CN01104753.4
申请日:2001-02-21
Applicant: 特克特朗尼克公司
Inventor: D·R·安德森
CPC classification number: G01J3/1804 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0243 , G01J3/0294 , G01J2003/1828 , G01J2003/2866 , G02B6/3534 , G02B6/3568 , G02B6/3586
Abstract: 一种光学系统,通过光隔离的光路将光信号耦合到分立的光检测器上,以对光谱分析仪中的校准信号和测试信号一起进行检测。成对的光纤对称设在光轴任一边,供与一边的输入光纤和另一边的输出光纤准直的光学元件之用。输入光纤分别接收校准信号和测试信号,输出光纤与各检测器连接。光校准源产生处在光学系统第一级光谱范围内的第二级或以上的谱线。衍射光栅将测试信号的第一级光谱分量传送给一个检测器,将校准信号的第二级或以上的谱线从准直光学元件传送给另一检测器。对来自检测器的电信号数字化并进行处理,获得校正误差,以用于校正由光谱分析仪显示的测试信号。
-
公开(公告)号:KR1020060025402A
公开(公告)日:2006-03-21
申请号:KR1020040074193
申请日:2004-09-16
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01N21/645 , G01J3/0294 , G01N21/8483 , G02B3/02
Abstract: Provided are an optical system for analyzing multi-channel samples which uses a mirror rotating at high speeds and an aspherical mirror, and a multi-channel sample analyzer employing the optical system. The optical system for analyzing multi-channel samples, includes a light source unit which emits light traveling along an optical axis; a semi-spheroid aspherical mirror disposed in rotational symmetry about the optical axis; and an inclined mirror which reflects the light exiting the light source unit to the semi-spheroid aspherical mirror, while rotating about the optical axis, wherein an opening is formed in the center of the semi-spheroid aspherical mirror such that the light exiting the light source unit enters the inclined mirror through the semi-spheroid aspherical mirror.
-
-
-
-
-
-
-
-
-