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公开(公告)号：JP6275236B2
公开(公告)日：2018-02-07
申请号：JP2016238655
申请日：2016-12-08
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: G01R35/00 , H03K5/04 , G01R31/3183
CPC classification number: G01R29/02 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , H03K3/011
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公开(公告)号：JP6243396B2
公开(公告)日：2017-12-06
申请号：JP2015255872
申请日：2015-12-28
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
CPC classification number: G05B11/01 , G01R31/2834 , G01R31/3641 , G01R35/00 , G01R31/3191 , G01R35/005
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公开(公告)号：JP2017201311A
公开(公告)日：2017-11-09
申请号：JP2017092486
申请日：2017-05-08
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: G01R1/067
CPC classification number: G01R1/07342 , G01R1/06716
Abstract: 【課題】表面に酸化膜または高抵抗ポリマー層を有する物体であっても、電気特性試験の正確な結果を生成することができる電気プローブを提供する。 【解決手段】電気プローブが本体10と、プローブヘッド20と複数のピン30を含む。プローブヘッドは本体に配置され、プローブヘッドは、表面に複数の開口部を有する。各ピンは互いに接続された接触部320と挿入部310を含む。各ピンは、接触部と挿入部との間に鈍角を有し、ピンの挿入部はそれぞれ開口部に挿入される。 【選択図】図1F
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公开(公告)号：JP6192698B2
公开(公告)日：2017-09-06
申请号：JP2015206281
申请日：2015-10-20
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R35/005 , G01R31/2834 , G01R31/2882
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公开(公告)号：JP2016195528A
公开(公告)日：2016-11-17
申请号：JP2015255872
申请日：2015-12-28
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
CPC classification number: G01R31/2834 , G05B11/01
Abstract: 【課題】試験手順の柔軟性及び効率性を向上させることができる自動試験装置及び方法を提供する。 【解決手段】自動試験システムは、少なくとも一つのバッテリ形成装置と試験装置とを含む。バッテリ形成装置は、ネットワークから第1の制御コマンドを受信し、第1の制御コマンドに応じて試験手順を実行する。試験手順は、充電モード及び放電モードを含む。試験装置は、バッテリ形成装置に選択的に接続される。試験手順中、試験装置がバッテリ形成装置に接続されると、試験装置は第1の測定結果を生成する。試験装置は、試験装置の無線通信インターフェイスを介して第1の測定結果をバッテリ形成装置に送信する。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够提高测试程序的灵活性和效率的自动测试装置和方法。解决方案：自动测试系统包括至少一个电池形成装置和测试装置。 电池形成装置从网络接收第一控制命令，并根据第一控制命令执行测试程序。 测试程序包括充电模式和放电模式。 测试装置选择性地连接到电池形成装置。 当在测试过程中测试装置连接到电池形成装置时，测试装置产生第一测量结果。 测试装置经由测试装置的无线电通信接口将第一测量结果发送到电池形成装置。选择的图示：图1
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP5373043B2
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：JP2011267167
申请日：2011-12-06
Applicant: クロマ エーティーイー インコーポレイテッドChroma Ate Inc.
Inventor： ツェン，イ−シイ , チャン、ティエン−テン , リー、ジェフ , チェン、チー−ユ , チェン、フス−ティン
CPC classification number: G01R31/2635 , G01R1/0408
Abstract: A testing apparatus for flip chip LEDs includes a transparent substrate, a spacing member, a flexible transparent carrier, and a vacuum generator. The spacing member is configured on a first surface of the transparent substrate. The flexible transparent carrier is removably assembled to the spacing member so that a closed space is formed by the flexible transparent carrier, the spacing member, and the first surface of the transparent substrate. The vacuum generator is connected to the closed space for pumping air out of the closed space, and then a part of the transparent substrate clings to the first surface to form a testing area for loading the flip chip LED.
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公开(公告)号：JP2021107806A
公开(公告)日：2021-07-29
申请号：JP2020166625
申请日：2020-10-01
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Abstract: 【課題】プレスヘッドとテストソケット基板とが押下力の影響を受けて分離してしまうことを防ぐプレスヘッドロック機構及びそれを有する電子部品検査装置を提供する。 【解決手段】プレスヘッドロック機構は、アクチュエータ3、スライダー4及びロックピン5を備える。アクチュエータ3は、プレスヘッド及びテストソケット基板6のうちの少なくとも何れか1つに配設される。スライダー4は、プレスヘッド及びテストソケット基板6のうちの少なくとも何れか1つに配設されるとともに、アクチュエータ3に接続される。ロックピン5は、プレスヘッド及びテストソケット基板6のうちの少なくとも何れか1つに配設される。プレスヘッドとテストソケット基板6とが接合されたときに、アクチュエータ3によりスライダー4が特定方向に摺動されてロックピン5を堅固に固定し、プレスヘッドとテストソケット基板6とが分離することを防ぐ。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2021081414A
公开(公告)日：2021-05-27
申请号：JP2020141199
申请日：2020-08-24
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: H05K7/20 , H01L23/467 , G01R31/00
Abstract: 【課題】放熱機能を具有する負荷モジュールを備えた電子負荷装置の構造を提供する。 【解決手段】 主にマザーボード及び負荷モジュールで構成する電子負荷装置及び放熱機能を具有する負荷モジュールである。マザーボードは複数個の第一接続ポートを具有し、負荷モジュールはスレーブボード及び放熱ユニットを含む。スレーブボードは第二接続ポートとフットスロットを具有し、第二接続ポートは複数個の第一接続ポートの中の一つと挿し抜きできるよう接続することができ、フットスロットはパワーコンポネントと接続するために用いる。放熱ユニットは筒状本体及び複数個の放熱フィンを具有し、筒状本体の定義は、外表面と相対する内表面を具有し、前記複数個の放熱フィンを外表面に接続する。パワーコンポネントをフットスロットと接続する際、パワーコンポネントは内表面と接触する。 【選択図】 図1
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公开(公告)号：JP2020153983A
公开(公告)日：2020-09-24
申请号：JP2020045904
申请日：2020-03-17
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Abstract: 【課題】 電池試験装置及びその方法を提供する。 【解決手段】 対象として電池を試験するための装置及びその方法について開示する。電池試験装置は、電源モジュール及び短絡感知モジュールを含む。電源モジュールは、第1の試験電圧又は第1の試験電流を供給するように構成される。電源モジュールに結合された短絡感知モジュールは、第1の試験期間の間、第1の試験電圧又は電流を積分し、それによって電源モジュールによって供給された第1の出力エネルギーを計算するように構成される。短絡感知モジュールは、第1の出力エネルギーが所定のエネルギー範囲を超えているかどうかも判断する。範囲を超えている場合、同じモジュールがエラー信号を生成する。第2の試験期間の間、短絡感知モジュールがエラー信号を生成する回数を計算することにより、短絡感知モジュールはエラーカウントを生成する。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2019215344A
公开(公告)日：2019-12-19
申请号：JP2019108315
申请日：2019-06-11
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: G01R1/067
Abstract: 【課題】削り取り構造を有するクリップ試験装置を提供する。 【解決手段】クリップ試験装置1は第1のクランプ部材10、第2のクランプ部材12、シャフト14、および導電性部材16を備える。第1のクランプ部材10は第1のピン接合部材と第1の基板とを有し、第2のクランプ部材12は第2のピン接合部材と第2の基板とを有する。シャフトは、第1のピン接合部材および第2のピン接合部材に取り外し可能に枢着されている。導電性部材は第1のクランプ部材10上に配置され、かつ第1の基板と第2の基板との間に配置されている。導電性部材16は上面と下面とを有する。導電性部材16の下面は第1の基板に面しており、導電性部材16の少なくとも一部は波状であり、その上面に第1の削り取り構造を有する。 【選択図】図2
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