-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1019980028946A
公开(公告)日：1998-07-15
申请号：KR1019960048141
申请日：1996-10-24
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 김형철
Abstract: 측정물체를 이동시키지 않고 고속측정이 가능하도록 그 구조가 개선된 물체의 표면 높이 측정장치에 대해 개시한다. 이 물체의 표면높이 측정장치는 광을 방출하는 발광부(10)와, 이 광이 투과되며 상호 XY축 방향으로 마련되고 물체(20)의 표면에 광을 XY 방향으로 조사시키며 주파수 변조에 따라 굴절률의 주기가 변화되는 제 1,2 음향광학 변조기(30,40)와, 물체(20)의 표면으로부터 반사된 광이 투과되고 상호 XY축 방향으로 마련되며 주파수 변조에 따라 굴절률의 주기가 변화되는 제 3,4 음향광학 변조기(50,60)와, 제 3,4 음향광학 변조기(50,60)를 통과한 반사광을 수광하는 수광부(70)를 포함하여서, 물체 표면의 인접된 지점들로부터 반사되는 각 반사광이 수광부(70)에 입사되는 위치를 검출하여 표면높이를 측정하게 된다. 이와 같이 구성된 물체의 표면높이 측정장치는 측정물체나 측정장치를 이동하지 않고도 고속으로 고정밀한 측정값을 얻을 수 있는 효과가 있다.
-
-
公开(公告)号：KR1019950012244A
公开(公告)日：1995-05-16
申请号：KR1019930022233
申请日：1993-10-25
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 김형철
IPC: G06F15/16
Abstract: 본 발명은 멀티프로세서 시스템의 리셋회로에 관한 것으로, 전원인가, 리셋스위치 및 리셋요구신호에 의해 리셋신호를 발생하는 리셋신호검출 및 인가회로의 리셋신호에 따라 리셋되며 슬레이브단의 오동작을 감시하여 슬레이브 리셋신호 및 상기 리셋요구신호를 발생하는 마스터 프로세서와 마스터 프로세서의 제어에 따라 데이타를 전달하며 리셋요구신호와 슬레이브 리셋신호를 출력하는 마스터 입출력장치와 리셋신호와 슬레이브 리셋신호를 전달하는 리셋신호 발생회로와 리셋신호 발생회로의 출력에 따라 리셋하며 마스터 프로세서와 통신하는 슬레이브 프로세서와 슬레이브 프로세서의 제어에 따라 데이타를 전달하는 슬레이브 입출력장치를 구비하여 마스터 프로세서가 자신 및 복수의 슬레이브 프로세서의 동작을 감시하여 오동작시에 기 프로세서들을 궤환 리셋할 수 있다.
-
-
-
Search Results
75
records
(took 0.024 seconds)
