Abstract:
생체조직과 같은 단단하지 않은 조직 및 얇은 두께의 측정 매질 등을 효과적으로 고정한 상태에서 유전율 등의 전기적 특성을 정밀하게 측정하는 것이 가능하도록, 한쪽면에는 안착홈이 형성되고 중앙을 관통하여 선로구멍이 형성되는 암부재와, 암부재의 안착홈에 결합되고 암부재의 선로구멍과 동축상에 선로구멍이 중앙에 관통하여 형성되는 수부재와, 암부재의 안착홈과 수부재 사이에 설치되고 중앙이 빈 링형상으로 형성되는 샘플지지부재와, 암부재 및 수부재의 선로구멍에 각각 설치되고 암부재 및 수부재와 전기적으로 서로 단절되도록 절연재로 피복된 상태로 선로구멍에 각각 설치되고 서로 이격된 상태로 설치되는 한쌍의 전송선로와, 암부재 및 수부재가 서로 맞닿는 면 반대쪽 면에 각각 설치되고 전송선로와 외부 회로와의 전기적 연결이 이루어지는 한쌍의 커넥터를 포함하는 동축선로 샘플홀더를 제공한다. 동축선로, 샘플, 홀더, 생체 조직, 유전율, 측정, 전송선로, 오링
Abstract:
A coaxial line type sample holder is provided to obtain accurately measured data and to minimize a reason of an error by supporting a measuring sample through a sample supporting member. A loading groove(12) is formed in one side of a female member(10). A line hole(16) is formed in a center of the female member. A male member(20) is coupled in the loading groove of the female member. A line hole(26) is formed in a center of the male member. A sample supporting member(30) is installed between the loading groove of the female member and the male member. A pair of transmission lines(40,42) is installed in the line holes of the female member and the male member. A pair of transmission lines is coated with an insulation material, and is separated each other.
Abstract:
A high power test system of a high frequency and a method thereof are provided to increase the reliability and accuracy of a test by testing the property of the device under high power RF environment. A signal input part(210) generates a high frequency signal sweeping the frequency, and a monitor unit(220) monitors high frequency signal and power of output signal of a device to be tested. A test controller(230) calculates power difference between high frequency signal and the output signal of the device to be tested and obtains the loss of the frequency.
Abstract:
A broadband power durability test system and a method for testing the same are provided to enhance power durability characteristics by detecting a weak point of a resonator electrode according to a weak frequency. A network analyzer(100) generates a continuous wave signal according to a frequency sweep in order to analyze electrical characteristics of a DUT(Device Under Test)(420). A BPDT(Broadband Power Durability Testing) module(300) receives the continuous wave signal, monitors power of input and output signals, and transfers the monitored power to the network analyzer. A high temperature tester(400) tests a high temperature stress acceleration lifetime of the DUT. A control analysis computer(800) controls each of components of a system and analyzes test data from the components.
Abstract:
본 발명은 반도체 시료의 신뢰성 시험장치에 관한 것으로, 반도체 시료와 평가회로판을 포함하는 부품들이 탑재되는 시료 탑재부와, 반도체 시료의 하부에 장착되어 시험온도를 유지시키기 위한 가열블럭과, 가열블럭과 분리된 구조로 상기 가열블럭를 에워싸는 구조로 제작되어 주변 부품들의 온도를 냉각시키기 위한 냉각블럭과, 반도체 시료를 상, 하로 이동시키는 고정블럭을 포함하는 반도체 시료의 신뢰성 시험장치를 제공한다. 신뢰성, 반도체 시료, 신뢰성 시험장치
Abstract:
PURPOSE: A fabrication method of a plate-type optical waveguide is provided to select any amorphous material as a material for a core of waveguide by using an engraving etching. CONSTITUTION: After forming a metal mask on a silica glass substrate(210) by a thermal deposition or a sputtering, a waveguide pattern is formed through a lithography processing. At this time, the waveguide pattern has a groove on a defined core region. A groove corresponding to the core of the waveguide is formed by etching the silica glass substrate(210). Then, an amorphous metal oxidation material(221) is filled into the groove formed on the silica glass substrate(210) by performing a sol-gel processing. An amorphous layer(250) having a similar refractive index with the silica glass substrate(210) is deposited on the entire surface of the resultant structure.
Abstract:
본 발명은 이종 접합 평면 도파로형 광증폭기 및 그 제조 방법에 관한 것으로서, 개별 제조되는 신호광 및 펌핑광이 입사되는 저손실 광 도파로 소자와 Er, Nd 등 희토류 금속 이온이 함유된 증폭용 광 도파로 소자를 결합시킨 구조의 평면 도파로형 광증폭기와 그 제조 방법을 제공한다. 또한 본 발명은 이러한 구조를 갖는 증폭기를 이용하여 분배기, 파장다중화기 등의 PLC(Planar Lightwave Circuit)소자와 결합시켜 소자에서 발생되는 신호 감쇄를 보상시킨 광증폭 응용 소자 제조를 제공한다. 본 발명에 따르면 저손실 도파로는 각종 기능성 소자의 집적이 가능하고, 광증폭용 도파로는 증폭 특성만 최적화하여, 개별 제조된 두 도파로 소자를 결합시켜 광증폭기를 제조하는 것이 가능하므로 본 발명의 증폭기의 경우 증폭 효과와 소자의 기능을 모두 최대화 할 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A manufacturing method of waveguide type optical amplifier is provided to manufacture waveguide type optical amplifier with structure separating low loss transmission line layer and optical amplifier layer by building waveguide for optical amplifier containing rare earth metal ion on top or bottom of low loss waveguide layer. CONSTITUTION: A waveguide for amplifier is composed of the first matter containing rare earth metal ion. An input and output waveguide is composed of the second matter not containing each rare earth metal ion. The waveguide for amplifier amplifies optical signal inputted from the optical signal input waveguide overlapped to one section, and translates the optical signal to the optical signal output waveguide overlapped to another section. A low loss waveguide of clad layer(47) upper part does not contain rare earth metal ion and a waveguide layer of low part contains rare earth metal ion for optical amplifier. A some of function elements like this, wavelength multiplexor(45), optical turnout, other else is integrated to low loss waveguide.
Abstract:
본 발명은 민생용 및 산업용 전자기기에 사용되는 마이크로파 대역 부품용 소재에 관한 것으로, 포화자화의 제어가 용이하고 낮은 강자성공명선폭과 양호한 큐리온도를 지닌 마이크로파 소자용 자성체 세라믹 조성물, 이를 이용한 마이크로파 소자용 자성체 세라믹 및 그의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명의 마이크로파 소자용 자성체 세라믹 조성물은, 산화이트륨, 산화철, 산화알루미늄을 주성분과 산화붕소, 산화비스무스, 산화구리와 산화붕소의 화합물, 산화아연과 산화붕소의 화합물을 부성분으로 하고, 하기 화학식 1로 표시되며, 본 발명에 따른 마이크로파 소자용 자성체 세라믹은, 하기 화학식에 따라, 산화이트륨, 산화철, 산화알루미늄을 혼합하여 하소하고, 산화붕소, 산화비스무스, 산화구리와 산화붕소의 화합물, 산화아연과 산화붕소의 화합물을 재혼합한 후, 성형 및 소결하여 제조된 것으로, 상온에서 100∼1,800 G의 포화자화와 사용온도 20∼120℃에서 0.2 %/℃ 이하의 포화자화 온도계수 및 60 Oe 이하의 강자성공명선폭을 가지면서 적정소결온도를 1250℃이하로 감소시킨 것을 특징으로 한다. (화학식 1 : Y 3 Fe 5-x Al x O 12 (여기서, 0≤x≤1.5, 0 2 O 3 ≤5(wt%), 0 2 O 3 ≤5(wt%), 0 2 O 4 ≤5(wt%), 0 2 O 4 ≤5(wt%)이다).