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公开(公告)号：CN107131596B
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201710374786.7
申请日：2017-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种通信基站制冷方法及系统，具体涉及一种利用土壤冷源针对通信基站制冷设备的节能方法及系统，本发明为了解决现有的通讯基站制冷方法没有对基站内部的热场进行优化，未能利用基站周围自然冷源的缺点，而提出一种利用土壤冷源针对通信基站制冷设备的节能方法及系统。本发明的方法包括：计算基站周围土壤的温度随深度的变化关系；建立地下埋管的出口温度随埋管长度、半径、气流速度的关系式；绘制地下埋管的出风口温度随埋管半径和长度变化的曲线；绘制地下埋管出风口温度随埋管长度和气流速度变化的曲线；确定最佳进风位置；根据土壤深度、埋管半径、埋管长度以及最佳进风位置规划布置地下埋管。本发明适用于通信基站制冷系统。
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公开(公告)号：CN110132874A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910446648.4
申请日：2019-05-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多角度测量的弥散介质光学参数场探测装置及方法，属于频域近红外光学成像技术领域，为解决现有技术中光学参数场重建时仅用一次调频激光入射得到探测信号进行重建，其所得的结果存在病态及串扰严重的问题，包括：激光控制器、激光头、CCD相机和数据采集处理系统；所述激光控制器的输出端同时与激光头的激光控制信号输入端和数据采集处理系统的信号输入端连接，所述数据采集处理系统的信号输入端与CCD相机的信号输出端连接。本发明运用重建算法处理得到的重建结果具有较高的鲁棒性，可以更好地改善频域重建问题中的病态问题及串扰问题，更加高效、准确的解决弥散介质的光学参数重建问题。
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公开(公告)号：CN106905805B
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201710212108.0
申请日：2017-03-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C09D133/12 , C09D5/33 , C09D7/61 , C09D7/43 , D06M15/263 , E04F13/02
Abstract: 一种降温发光多功能复合墙体涂层的制备方法，涉及一种墙体涂层的制备方法。本发明是为了解决由于空调的长时间使用而造成的能源的大量消耗和目前反射型隔热涂料对可见光也有较高的反射率，会造成光污染对人体造成不适感的技术问题。本发明：一、制备反光涂层基底；二、制备反光涂层；三、制备发光涂层。本发明的反光涂层对近红外辐射的反射率最高可达77.1％，并且稀土荧光粒子可吸收反光涂层反射的光，在停止光照后仍有长余辉现象，每户家庭每年可节省电能360千瓦时，具有很高的实用价值。本发明应用于制备墙体涂层。
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公开(公告)号：CN106018286B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
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公开(公告)号：CN107131596A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710374786.7
申请日：2017-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种通信基站制冷方法及系统，具体涉及一种利用土壤冷源针对通信基站制冷设备的节能方法及系统，本发明为了解决现有的通讯基站制冷方法没有对基站内部的热场进行优化，未能利用基站周围自然冷源的缺点，而提出一种利用土壤冷源针对通信基站制冷设备的节能方法及系统。本发明的方法包括：计算基站周围土壤的温度随深度的变化关系；建立地下埋管的出口温度随埋管长度、半径、气流速度的关系式；绘制地下埋管的出风口温度随埋管半径和长度变化的曲线；绘制地下埋管出风口温度随埋管长度和气流速度变化的曲线；确定最佳进风位置；根据土壤深度、埋管半径、埋管长度以及最佳进风位置规划布置地下埋管。本发明适用于通信基站制冷系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106018286A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/17 , G01N2021/1734
Abstract: 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
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公开(公告)号：CN105547485A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510889296.1
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01J5/0018 , G01J5/10
Abstract: 基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将调制激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。本发明实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN105547469A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510889073.5
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/42
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将脉冲激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明的仿真计算，可实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN105319174A
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201510907097.9
申请日：2015-12-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 同时获取半透明材料温变导热系数及吸收系数的测量方法，涉及同时获取半透明介质温度相关导热系数及吸收系数技术。测量过程中使用某波长连续激光照射待测样品，借助探测器测量待测样本的随时间变化的温度响应以及透射辐射强度，最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的导热系数及吸收系数。本发明通过建立导热系数及吸收系数随温度变化的半透明介质导热辐射耦合换热的正、反问题模型，在介质其他参数已知的前提下，提出了采用微粒群优化算法同时反演得到半透明介质温度相关导热系数及吸收系数的方法。本发明适用于航天、国防和民用工业。
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公开(公告)号：CN105203437A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510603970.5
申请日：2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。
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