K边缘成像
    81.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102088907A

    公开(公告)日:2011-06-08

    申请号:CN200980126238.6

    申请日:2009-06-22

    Abstract: 一种成像系统,包括发射穿过检查区域的多色辐射的辐射源(110),以及探测穿过所述检查区域的辐射并产生指示探测的光子的能量的信号的探测器(116)。所述系统还包括能量鉴别器(122),其基于多个不同能量阈值能量分辨所述信号,其中,所述能量阈值中的至少两个具有与置于所述检查区域内的混合物中的两种不同元素的至少两个不同K边缘能量对应的值。所述系统还包括信号分解器(132),其将经能量分辨的信号分解为代表至少两个不同K边缘能量的至少多K边缘成分。在一个例子中,造影剂中两种不同元素的化学计量比已知并且基本恒定。

    X射线半导体成像器像素的电隔离

    公开(公告)号:CN101911299A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN200880123119.0

    申请日:2008-12-26

    CPC classification number: H01L27/1463 H01L27/14659

    Abstract: 为了减轻出现在半导体探测器中的电荷共享的影响,提供了一种改进的半导体探测器(200),其包括:布置用于形成至少一个开口(230)的多个阳极(210),每个开口由该多个阳极中的两个阳极形成;至少一个阴极(220);位于该多个阳极和该至少一个阴极之间的探测器单元(240);其中,该探测器单元包括至少一个沟槽(250),该至少一个沟槽中的每个具有与由多个阳极中的两个阳极形成的至少一个开口中的一个对准的第一开口(252),至少一个沟槽中的每个朝向至少一个阴极扩展。通过在探测器单元中形成沟槽,可以通过相应阳极而不是几个邻近阳极接收由单一光子产生的电荷云,这因此改进了半导体探测器的频谱分辨率和计数速率。

    用于多谱光子计数读出电路的数字脉冲处理

    公开(公告)号:CN101680956A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200880020825.2

    申请日:2008-05-23

    CPC classification number: G01T1/171

    Abstract: 一种装置包括局部最小值识别器(408)和脉冲堆积误差校正器(232),所述局部最小值识别器(408)识别信号中的重叠脉冲之间的局部最小值,其中所述脉冲具有指示由辐射敏感探测器相继探测的来自多能量辐射束的光子的能量的幅值,而所述脉冲堆积误差校正器(232)在使用对应于不同能级的至少两个阈值对所述脉冲进行能量鉴别时,基于所述局部最小值校正脉冲堆积能量鉴别误差。这一技术可以减少当以高计数率对光子计数时的谱误差。

    CT成像系统
    86.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101495040A

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:CN200680034705.9

    申请日:2006-09-12

    Inventor: R·普罗克绍

    Abstract: 本发明涉及一种CT成像系统,用于对例如病人的所关注对象中存在的物质、例如造影剂进行成像。为了提供一种涉及有限的技术难度和成本但是导致对比度增强、并可以对所关注对象内物质成像的CT成像系统,所提出的CT成像系统包括:多色X射线源(2),用于发射多色X射线辐射(4);能量分辨X射线探测器(6),用于探测穿过所述对象之后的X射线(4),并提供对于多个能量元(bi)的多个能量分辨探测信号(di);计算单元(12),使用将探测信号描述为所述物质的K边缘效应、光电效应和康普顿效应的组合的所述探测信号(di)模型,通过对所述多个能量分辨探测信号(di)解方程组来确定所述物质的K边缘分量(k),其中每种效应对所述探测信号贡献相应的分量(p,c,k);以及重建单元(13),用于从在不同探测器位置获得的所述物质的计算的K边缘分量(k),来重建所述物质的K边缘图像。本发明还涉及相应的图像处理设备和方法。

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