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公开(公告)号：KR1020040025191A
公开(公告)日：2004-03-24
申请号：KR1020020057037
申请日：2002-09-18
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: PURPOSE: A tray for test handler is provided to minimize the loss and prevent the damage of sockets by picking a semiconductor device located on a correct position. CONSTITUTION: A tray for test handler includes a body(110) and an anti-pickup unit. The body(110) includes a plurality of pockets(112) for storing a semiconductor device. The anti-pickup unit prevents an operation for picking up the semiconductor device located on an incorrect position in a process for picking up the semiconductor device stored within the pockets(112). The anti-pickup unit includes a plate(120). The plate(120) includes openings(122) to pass the semiconductor device located on a correct position.
Abstract translation: 目的：提供用于测试处理器的托盘，以最小化损耗，并通过拾取位于正确位置的半导体器件来防止插座损坏。 构成：用于测试处理器的托盘包括主体（110）和反拾取单元。 主体（110）包括用于存储半导体器件的多个凹穴（112）。 反拾取单元防止在用于拾取存储在凹穴（112）内的半导体器件的处理中拾取位于不正确位置的半导体器件的操作。 防拾取单元包括板（120）。 板（120）包括使位于正确位置的半导体器件通过的开口（122）。
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公开(公告)号：KR1020040006439A
公开(公告)日：2004-01-24
申请号：KR1020020040720
申请日：2002-07-12
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: PURPOSE: An arrangement block of a test handler is provided to stably and accurately pick up a semiconductor device and to alleviate the damage transmitted to the semiconductor device during the picking process. CONSTITUTION: An arrangement block of a test handler includes a block(124) and an alleviation member(130). The arrange block(124) of the test handler is used for arranging the position of the semiconductor devices. The block(124) includes a plurality of pockets(122) for receiving the semiconductor devices(d). And, the alleviation member(130) alleviates the load applied to the semiconductor devices(d) during the process for picking up the semiconductor devices(d) received in the plurality of pockets(122).
Abstract translation: 目的：提供一种测试处理器的布置块，用于稳定且准确地拾取半导体器件，并减轻在拣选过程中传输到半导体器件的损坏。 构成：测试处理器的布置块包括块（124）和缓解构件（130）。 测试处理器的排列块（124）用于布置半导体器件的位置。 块（124）包括用于接收半导体器件（d）的多个凹穴（122）。 并且，减轻构件（130）减轻了在拾取多个凹穴（122）中容纳的半导体器件（d）的处理期间施加到半导体器件（d）的负载。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：KR2020000004642U
公开(公告)日：2000-03-06
申请号：KR2019980015159
申请日：1998-08-12
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H04M1/06
Abstract: 가. 청구범위에 기재된 고안이 속한 기술분야.
본 고안은 전화기에 관한 것으로, 특히 크래들 착탈식 전화기에 관한 것이다.
나. 고안이 해결하려고 하는 기술적 과제.
본 고안은 전화기가 크래들을 착탈 할 수 있는 구조로 이루어져 크래들 사용위치를 자유로이 바꿀 수 있는 크래들 착탈식 전화기를 제공한다.
다. 고안의 해결방법의 요지.
본 고안은 크래들 착탈식 전화기에 있어서, 전화기 몸체의 적소에 다수 개 형성된 크래들 장착홈과, 상기 전화기 몸체와 분리형인 착탈식 크래들; 외부 적소에 핸드셋 장착홈을 형성하는 크래들 본체와, 상기 크래들 본체의 일측에 설치되어 상기 크래들 장착홈에 장착되는 크래들 장착기를 구비하며, 상기 핸드셋 장착홈 내부에 후크스위치가 돌출 되도록 형성되고, 상기 착탈식 크래들이 상기 전화기 몸체의 크래들 장착홈에 장착될 때 이를 전기적으로 감지하여 그 감지신호를 전화기의 제어부로 보내는 크래들 장착감지 스위치를 구비함을 특징으로 한다.
라. 고안의 중요한 용도.
전화기 -
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