从记录介质中恢复管理信息的方法和设备

    公开(公告)号:CN101504856A

    公开(公告)日:2009-08-12

    申请号:CN200910005077.7

    申请日:2004-05-07

    Inventor: 朴容彻

    Abstract: 从记录介质中恢复管理信息的方法和设备。本发明提供一种一次写入型光记录介质和用于向该一次写入型光记录介质存储和从该一次写入型光记录介质恢复缺陷管理信息的方法和设备。该记录介质包括至少一个记录层,以及在该记录层上的数据区。该数据区包括至少一个备用区和用户数据区。该备用区包含至少一个替换簇,每个该替换簇在其中存储相应缺陷簇的地址信息。

    在记录介质上记录管理数据和再现数据的方法和设备

    公开(公告)号:CN100520941C

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:CN200480012610.8

    申请日:2004-05-07

    Inventor: 朴容彻

    Abstract: 在记录介质上的数据结构包括存储数据块的临时缺陷管理区。数据块包括顺序记录信息和临时定义结构。顺序记录信息提供关于记录介质的数据区中连续记录区的信息。临时定义结构包括到临时缺陷管理区中信息的至少一个指针。

    记录介质以及用于在记录介质上记录数据/从记录介质再现数据的方法和装置

    公开(公告)号:CN100505067C

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN200580009062.8

    申请日:2005-03-22

    Inventor: 朴容彻

    Abstract: 公开了一种记录介质以及用于将数据记录到该记录介质/从该记录介质再现数据的方法和装置。该具有用于管理记录介质的数据区域的数据结构的记录介质包括至少一个物理访问控制(PAC)簇,该至少一个PAC簇包括用于管理对记录介质的逻辑盖写的信息,其中每一PAC簇包括PAC首部,该PAC首部对于每一PAC簇是共同适用的;以及PAC专用信息区域,该区域包括对每一PAC簇专用的信息,其中该PAC首部包括标识记录介质的用户数据区域中的至少一个段区域的段信息。

    一次性写入光学记录介质及其缺陷管理信息的管理方法

    公开(公告)号:CN100385512C

    公开(公告)日:2008-04-30

    申请号:CN200380109904.8

    申请日:2003-10-01

    Inventor: 朴容彻 金成大

    CPC classification number: G11B20/1883 G11B2020/1873 G11B2220/20

    Abstract: 本发明提供了一次性写入光学记录介质,用于分配所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理区的方法,以及用于分配所述一次性写入光学记录介质的备用区的方法。这里提供的具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的管理方法包括下列步骤:分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质,将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上;以及使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。

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