光学检测系统
    82.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103575670A

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201310221101.7

    申请日:2013-06-05

    Abstract: 本发明是关于一种光学检测系统,用以检测具有光源及预定显示范围的待测显示装置的光学分布,且预定显示范围被区分为复数虚拟检测区,该系统包括:致能光源发光的供能模组;检测光源在上述复数虚拟检测区之一范围内,造成前述被选定的虚拟检测区内,所显示各波长发光强度的分光模组;复数分别逐一对应虚拟检测区的光学感测模组;储存各光学感测模组波长修正参数的记忆模组;接收分光模组所得待测显示装置在被选定虚拟检测区的波长分布,且依照各光学感测模组的波长修正参数与目前感测值,补偿计算各光学感测模组应测得感测值的处理模组。

    传感器电路以及电子设备
    85.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102967364A

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN201210253419.9

    申请日:2012-07-20

    CPC classification number: G01J1/4204 G01J1/0488 G01J1/4228 G01J1/44 G01J3/506

    Abstract: 提供一种传感器电路以及电子设备。不论对各个光接收元件是否一样地照射光,传感器电路都会进行照度的测定而不会在各个分光特性的检测结果产生偏向或灵敏度的偏差,该传感器电路包括光接收元件(PD1、PD2),各个光接收元件(PD1、PD2)从互不相同的分光特性(A、B)中设定一个分光特性,各个光接收元件(PD1、PD2)在照度的测定时,依次切换设定分光特性(A、B),使得成为互不相同的分光特性。

    不均检查装置及不均检查方法

    公开(公告)号:CN102842276A

    公开(公告)日:2012-12-26

    申请号:CN201210200100.X

    申请日:2012-06-14

    Applicant: 索尼公司

    CPC classification number: G01J3/506 G01J3/462 H04N17/02

    Abstract: 本发明涉及不均检查装置以及不均检查方法。该不均检查装置包括:图像拾取部,获取测试对象的拾取图像;图像生成部,基于拾取图像生成各个颜色不均检查图像以及亮度不均检查图像;计算部,利用颜色不均检查图像以及亮度不均检查图像计算评价参数;以及检查部,利用所计算的评价参数进行不均检查。计算部根据颜色和亮度两者的不均可见度计算评价参数。

    颜色测定装置、以及颜色测定方法

    公开(公告)号:CN102213618A

    公开(公告)日:2011-10-12

    申请号:CN201110079124.X

    申请日:2011-03-28

    Inventor: 山岸英一

    CPC classification number: G01J3/513 G01J3/465 G01J3/506

    Abstract: 本发明提供一种颜色测定装置和颜色测定方法,该颜色测定装置包括:摄像部;信号产生部,其选择设定了多个测定区域的示教图像或者颜色测定用的测量图像来显示在显示装置中;照相机控制部,其控制摄像部来对显示在显示装置中的图像进行摄像;测定区域识别部,其对由摄像部摄像的示教图像进行图像处理来识别测定区域;以及颜色测定部,其测定在由摄像部摄像的测量图像中的与由测定区域识别部识别出的测定区域对应的每个测量区域的颜色。

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