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    REFRACTIVE INDEX BASED MEASUREMENTS
    82.
    发明申请
    REFRACTIVE INDEX BASED MEASUREMENTS 审中-公开
    基于折射指数的测量

    公开(公告)号：WO2014147088A1

    公开(公告)日：2014-09-25

    申请号：PCT/EP2014/055439

    申请日：2014-03-18

    Applicant: TECHNICAL UNIVERSITY OF DENMARK

    Inventor： SØRENSEN, Henrik Schiøtt ,  JØRGENSEN, Thomas Martini

    IPC: G01N21/85

    CPC classification number: G01N21/45 ,  G01N21/85 ,  G01N2201/0231

    Abstract: In a method for performing a refractive index based measurement of a property of a fluid such as chemical composition or temperature, a chirp in the local spatial frequency of interference fringes of an interference pattern is reduced by mathematical manipulation of the recorded light intensity in the interference pattern or by the physical positioning and arrangement of a detector used for capturing the interference pattern.

    Abstract translation: 在用于进行基于折射率的诸如化学成分或温度等流体性质的测量的方法中，干涉图案的干涉条纹的局部空间频率中的啁啾通过数学处理干涉中记录的光强度而被减少 图案或通过用于捕获干涉图案的检测器的物理定位和布置。

    発光計測装置
    83.
    发明申请
    発光計測装置 审中-公开
    发光测量装置

    公开(公告)号：WO2014002653A1

    公开(公告)日：2014-01-03

    申请号：PCT/JP2013/064267

    申请日：2013-05-22

    Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ

    Inventor： 野田　英之 ,  岡野定　雅弘

    IPC: G01N21/76 ,  C12M1/34

    CPC classification number: G01N21/76 ,  C12M1/34 ,  G01J1/0252 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/1211 ,  G02B7/008 ,  H01L31/024

    Abstract: 　発光計測において、暗電流値または暗電流パルス数の低減と温度に対する暗電流値または暗電流パルス数のゆらぎを防ぎ、かつ光信号を高い立体角で取込み可能な、化学発光や生物発光のような指向性のない発光を高感度に検出することができる微弱発光検出装置を提供する。試料を収める容器のホルダを保持する板状部材と、前記試料中の発光を検出する光検出部と、前記光検出部の温度制御を行う温度制御部と、前記光検出部の受光面に送風を行う送風部と、を発光測定装置に備える。

    Abstract translation: 提供了一种弱发光检测装置，其能够在发光测量中降低暗电流值和暗电流脉冲计数，防止暗电流值和暗电流脉冲计数相对于温度的波动，并且捕获具有大的光信号 可以以高灵敏度检测无发光和化学发光等方向性的发光。 发光测量装置设置有用于保持其中存储样品的容器保持器的板构件，用于检测样品中的发光的光检测器，用于控制光检测器的温度的温度控制单元，以及吹风机 光检测器的光接收面上的空气。

    DEVICE FOR DETECTING TRACE GASES
    84.
    发明申请
    DEVICE FOR DETECTING TRACE GASES 审中-公开
    检测跟踪气体的装置

    公开(公告)号：WO2013010984A3

    公开(公告)日：2013-09-19

    申请号：PCT/EP2012063897

    申请日：2012-07-16

    Applicant: UNIV REIMS CHAMPAGNE ARDENNE ,  AEROVIA ,  ZENINARI VIRGINIE ,  JOLY LILIAN ,  PARVITTE BERTRAND ,  DECARPENTERIE THOMAS ,  DURRY GEORGES ,  LE LOARER RONAN

    Inventor： ZENINARI VIRGINIE ,  JOLY LILIAN ,  PARVITTE BERTRAND ,  DECARPENTERIE THOMAS ,  DURRY GEORGES ,  LE LOARER RONAN

    IPC: G01N21/03 ,  G01N21/05 ,  G01N21/35

    CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01N2201/0216 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/0233

    Abstract: The device (102) for detecting trace gases comprises, in a closed casing (104): an analysis cell (112) equipped with means allowing air samples to enter and exit; a laser light source (106) that emits a laser beam intended for said analysis cell; a main photosensitive sensor (156) positioned to receive the laser beam output from said analysis cell and designed to emit a signal that is representative of the light intensity received by said sensor; and a temperature regulating means (144 to 150) designed to keep at a predefined constant temperature, jointly: the laser light source; the air entering into the analysis cell; an optical bench (118) supporting the cell and the laser light source and; the contents of the closed casing.

    Abstract translation: 用于检测痕量气体的装置（102）包括在封闭的壳体（104）中：分析单元（112），其配备允许空气样品进出的装置; 激光源（106），其发射用于所述分析单元的激光束; 主感光传感器（156），定位成接收从所述分析单元输出的激光束，并设计成发射代表由所述传感器接收的光强度的信号; 和设计成保持在预定的恒定温度的温度调节装置（144至150），共同地包括：激光源; 空气进入分析池; 支撑电池和激光光源的光学台架（118）; 封闭套管的内容物。

    分光装置
    85.
    发明申请
    分光装置 审中-公开
    光谱仪器

    公开(公告)号：WO2012176851A1

    公开(公告)日：2012-12-27

    申请号：PCT/JP2012/065897

    申请日：2012-06-21

    Applicant: 株式会社島津製作所 ,  軍司 昌秀

    Inventor： 軍司　昌秀

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01N21/17 ,  F21V29/00 ,  F21V29/02 ,  F21Y101/00

    CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18 ,  G01J3/42 ,  G01N30/74 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/1211

    Abstract: 　記憶手段２７に、光源５の点灯状態において分光器３内で光軸が安定している時のサーミスタ２３の検出温度が記憶されている。光源５が消灯状態から点灯されたとき、制御部２９はヒーター２５を動作させるとともに、制御部２９はファン２１を停止状態にさせておく。これにより、分光器３は、ランプハウス１からの熱によって加熱されるとともに、ヒーター２５によっても加熱される。サーミスタ２３の検出温度が記憶手段２７に記憶された検出温度に到達したとき、制御部２９はヒーター２５の動作を停止させてヒーター２５による分光器３の加熱を停止するとともに、ランプハウス１の温度が安定するようにファン２１を所定の回転数で動作させる。

    Abstract translation: 当光源（5）被照亮时，当光谱仪（3）中的光轴稳定时由热敏电阻（23）检测的温度被存储在存储装置（27）中。 当光源（5）从关闭状态接通时，控制单元（29）激活加热器（25），并且控制单元（29）停止风扇（21）。 结果，分光器（3）被来自灯壳体（1）的热量加热，并被加热器（25）加热。 当由热敏电阻（23）检测到的温度达到存储在存储装置（27）中的检测温度时，控制单元（29）停止加热器（25）的操作，从而停止对分光器（3）的加热 加热器（25），并且风扇以使得灯室（1）的温度稳定的方式以预定速度操作。

    ANALYTICAL EQUIPMENT ENCLOSURE INCORPORATION PHASE CHANGING MATERIALS
    86.
    发明申请
    ANALYTICAL EQUIPMENT ENCLOSURE INCORPORATION PHASE CHANGING MATERIALS 审中-公开
    分析设备包装合同相变材料

    公开(公告)号：WO2010078218A2

    公开(公告)日：2010-07-08

    申请号：PCT/US2009/069525

    申请日：2009-12-24

    Applicant: SPECTRASENSORS, INC. ,  HU, Xuejiao ,  FEITISCH, Alfred

    Inventor： HU, Xuejiao ,  FEITISCH, Alfred

    IPC: G01N21/39 ,  G01N21/53

    CPC classification number: G01N21/39 ,  G01N2201/022 ,  G01N2201/023 ,  G01N2201/0231

    Abstract: Thermally controlled enclosures that can be used with gas analyzers are described. The enclosures incorporate one or more phase changing materials that buffer ambient and internal heat loads to reduce the power consumption demand of mechanical or electronic heating apparatus. Maintenance of gas analyzer equipment at a consistent temperature can be important to achieving stable and reproducible results. Related systems, apparatus, methods, and/or articles are also described.

    Abstract translation: 描述了可用于气体分析仪的热控制外壳。 外壳采用缓冲环境和内部热负荷的一种或多种相变材料，以减少机械或电子加热设备的功耗需求。 在一致的温度下维护气体分析仪设备对于获得稳定和可重现的结果是重要的。 还描述了相关系统，装置，方法和/或制品。

    LIGHT DETECTION DEVICE
    87.
    发明公开
    LIGHT DETECTION DEVICE 审中-公开

    公开(公告)号：US20240201081A1

    公开(公告)日：2024-06-20

    申请号：US18554570

    申请日：2022-01-28

    Applicant: SONY GROUP CORPORATION

    Inventor： YUSUKE MADA ,  ATSUSHI ITO ,  MASAKI ORIHASHI

    IPC: G01N21/3563 ,  F25B21/02

    CPC classification number: G01N21/3563 ,  F25B21/02 ,  G01N2201/0231

    Abstract: The present technology relates to a light detection device capable of receiving light from an object to be measured without interference. The light detection device includes a Peltier element configured of a P-type semiconductor and an N-type semiconductor disposed between a first substrate and a second substrate, and a light receiving part configured to receive light from the object having been subjected to temperature modulation by the Peltier element, in which the first substrate is provided on the object side, the second substrate is provided on the light receiving part side, and at least parts of the first substrate and the second substrate are configured to transmit light from the object. The present technology can be applied to, for example, a detection device that detects a predetermined material by receiving and analyzing light from an object to be measured.

    Raman spectroscopy based measurement system
    88.
    发明授权
    Raman spectroscopy based measurement system 有权

    公开(公告)号：US11906434B2

    公开(公告)日：2024-02-20

    申请号：US17714035

    申请日：2022-04-05

    Applicant: NOVA LTD

    Inventor： Yonatan Oren

    IPC: G01N21/65 ,  G01N21/95 ,  G03F7/00

    CPC classification number: G01N21/65 ,  G01N21/9501 ,  G03F7/70616 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/06113

    Abstract: A method and system are presented for use in measuring one or more characteristics of patterned structures. The method comprises: performing measurements on a patterned structure by illuminating the structure with exciting light to cause Raman scattering of one or more excited regions of the pattern structure, while applying a controlled change of at least temperature condition of the patterned structure, and detecting the Raman scattering, and generating corresponding measured data indicative of a temperature dependence of the detected Raman scattering; and analyzing the measured data and generating data indicative of spatial profile of one or more properties of the patterned structure.

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