用于检测样本内分析物的器件及方法

    公开(公告)号:CN105143852B

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201480023212.X

    申请日:2014-04-04

    CPC classification number: G01N21/75 G01N21/8483 G01N33/54366 G01N2201/062

    Abstract: 本发明涉及用于检测样本内分析物的器件:其包括:(a)n个光源部,其包括产生光(light)的光源;(b)反应带,其包括(i)被照射(illumination)来自上述光源部的光并包括与上述分析物反应的物质的检查区域、(ⅱ)被照射来自上述光源部的光并包括对照物质的对照区域、以及(ⅲ)被照射来自上述光源部的光的背景区域,上述检查区域和背景区域被照射相同的一个光,上述对照区域和背景区域被照射相同的一个光,上述检查区域及对照区域共享上述背景区域;照射于上述检查区域和背景区域的光和照射于上述对照区域和背景区域的光相同或者不同;以及(c)最少n+1个受光部,其检测分别由上述反应带的检查区域、对照区域及背景区域发射(emitting)的光。

    检查用照明装置及检查系统

    公开(公告)号:CN106415247B

    公开(公告)日:2018-06-01

    申请号:CN201580026658.2

    申请日:2015-08-04

    Inventor: 增村茂树

    Abstract: 本发明提供一种检查用照明装置,所述检查用照明装置在由被检查对象的特征仅产生少许的反射、透射、散射上的变化,也可在一定的条件下,能够辨别拍摄装置的观察立体角内的光的变化量。具体而言,即使反射、透射、散射的变化极小的特征也可以检测出来。在所述检查用照明装置中包括:面光源(1),射出检查光;至少一个遮光罩(M1),位于所述面光源(1)和所述检查对象(W)之间;以及透镜(2),配置在比所述遮光罩(M1)离所述检查对象(W)近的一侧,以使所述遮光罩位于以该透镜的焦点位置为中心的位置。从所述面光源(1)发出的光因透镜(2)照射到所述检查对象(W)时形成的、对所述检查对象(W)的检查光的照射立体角上,形成由因述遮光罩(M1)形成的暗部区域,根据被检查对象的特征点产生的反射、透射、散射的变化,可改变所述检查光的照射立体角的形状、大小及倾斜角。

    开放类型的散射光烟雾检测器、特别地具有侧视器LED

    公开(公告)号:CN105678948B

    公开(公告)日:2018-05-15

    申请号:CN201510878255.2

    申请日:2015-12-04

    CPC classification number: G08B17/107 G01K1/024 G01N21/49 G01N2201/062

    Abstract: 本发明公开了开放类型的散射光烟雾检测器、特别地具有侧视器LED。本发明涉及一种具有外壳(2)和容纳在其上的电路基板(3)的开放类型的散射光烟雾检测器(1),其中至少一个光发射器(4)和一个光接收器(5)布置在电路基板上。电路基板具有与外壳相对地设置的内面(IS)和与内面相对地设置的外面(AS)。光发射器(4)被体现用于发射具有定向射线(RS)的光束(L)。光发射器和光接收器布置在具有在散射光烟雾检测器外部露天定位的散射光体积(M)的散射光阵列中。根据本发明,定向射线在光发射器与散射光体积之间传播经过的路径的部分平行于电路基板的外面行进。优选地,光发射器是安置在侧视器封装中的发光二极管(LED)并且光接收器是安置在反向鸥翼封装中的光电二极管。光电二极管与其传感器表面(F)通过充当孔和机械保护的电路基板(3)中的开口(OF)对准到相对地设置的散射光体积(M)。

    使用反射及透射图来检测光罩劣化

    公开(公告)号:CN104303048B

    公开(公告)日:2018-05-04

    申请号:CN201380025799.3

    申请日:2013-03-07

    Abstract: 在检验期间使用光学光罩检验工具来针对每一局部区域获得对应于从光罩的每一局部区域的多个子区域反射的光的多个反射强度值的平均值。还在所述检验期间使用所述光学光罩检验工具来针对每一局部区域获得对应于透射通过所述光罩的每一局部区域的所述子区域的光的多个透射强度值的平均值。通过针对每一局部区域组合多个反射强度值的所述平均值与多个透射强度值的所述平均值而产生组合强度分布图,使得:如果光罩尚未劣化,那么从所述组合强度分布图消除所述光罩的光罩图案;且如果所述光罩已劣化,那么不从所述组合强度分布图消除所述光罩的所述光罩图案。

    用于通过光散射测量颗粒尺寸分布的设备和方法

    公开(公告)号:CN104067105B

    公开(公告)日:2018-04-10

    申请号:CN201280042740.0

    申请日:2012-09-11

    Abstract: 用于通过光散射测量颗粒尺寸分布的装置(100),包括蓝色LED(102)和633纳米的氦氖激光器(104)。来自LED和激光器的光输出由二向色元件(116)分别地传送或反射到一个穿过容纳有样品的样品池(122)的共同路径上,样品的颗粒尺寸分布是待测量的。从样品池散射的光由一个或更多个检测器(112B‑H)检测。由样品池传送的光由检测器112A,112J检测。来自一个或更多个检测器的输出信号被传递给计算单元(114),计算单元计算颗粒尺寸分布。来自蓝色发光二极管的光有一小部分被二向色元件反射到检测器(110)。类似地,来自激光器的光的一小部分经过二向色元件传送至检测器。来自检测器的输出信号被反馈到控制单元(106,108),以稳定发光二极管和激光器的输出功率。

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