接觸探針及探針單元
    4.
    发明专利
    接觸探針及探針單元 审中-公开
    接触探针及探针单元

    公开(公告)号:TW201910782A

    公开(公告)日:2019-03-16

    申请号:TW107126160

    申请日:2018-07-27

    Abstract: 本發明之接觸探針係具有:圓筒狀之管構件;軸環,係具有中空部,且固定在管構件之長邊方向之至少一方之端部的內周側;以及內部導體,係具有抵接在由管構件與軸環所形成之段部的凸緣部,且沿著長邊方向伸縮自如,而貫通管構件。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明之接触探针系具有:圆筒状之管构件;轴环,系具有中空部,且固定在管构件之长边方向之至少一方之端部的内周侧;以及内部导体,系具有抵接在由管构件与轴环所形成之段部的凸缘部,且沿着长边方向伸缩自如,而贯通管构件。

    檢查用導電性接觸件及半導體檢查裝置
    7.
    发明专利
    檢查用導電性接觸件及半導體檢查裝置 审中-公开
    检查用导电性接触件及半导体检查设备

    公开(公告)号:TW201802479A

    公开(公告)日:2018-01-16

    申请号:TW106104521

    申请日:2017-02-10

    CPC classification number: G01R1/067

    Abstract: 提供一種包含第一端部及相對於第一端部之第二端部之導電性接觸件。第一端部具有第一線狀脊、第二線狀脊、第三線狀脊、第四線狀脊、第一頂點、第二頂點、第三頂點、第四頂點及第五頂點。第一線狀脊、第二線狀脊、第三線狀脊及第四線狀脊彼此間隔且以形成十字形之方式配置。第一頂點、第二頂點、第三頂點及第四頂點位於第一端部之外周,且分別設置於第一線狀脊與第二線狀脊之間、第二線狀脊與第三件線狀脊之間、第三件狀脊與第四線狀脊之間以及第四線狀脊與第一線狀脊之間。

    Abstract in simplified Chinese: 提供一种包含第一端部及相对于第一端部之第二端部之导电性接触件。第一端部具有第一线状嵴、第二线状嵴、第三线状嵴、第四线状嵴、第一顶点、第二顶点、第三顶点、第四顶点及第五顶点。第一线状嵴、第二线状嵴、第三线状嵴及第四线状嵴彼此间隔且以形成十字形之方式配置。第一顶点、第二顶点、第三顶点及第四顶点位于第一端部之外周,且分别设置于第一线状嵴与第二线状嵴之间、第二线状嵴与第三件线状嵴之间、第三件状嵴与第四线状嵴之间以及第四线状嵴与第一线状嵴之间。

    成膜裝置
    10.
    发明专利
    成膜裝置 审中-公开
    成膜设备

    公开(公告)号:TW201544193A

    公开(公告)日:2015-12-01

    申请号:TW104106797

    申请日:2015-03-04

    CPC classification number: B05B7/14 C23C24/04

    Abstract: 本發明提供一種可於利用冷噴塗法之成膜裝置中,使附著於粉末通過之通路的內壁之粉末量均勻化之成膜裝置。成膜裝置係具備:氣體粉末混合部10,係將氣體與粉末予以混合並供給至噴嘴5;氣體室11,係透過至少1個氣體通過口13a與氣體粉末混合部10連通,將氣體導入至氣體粉末混合部10;粉末供給管12,係將粉末供給至氣體粉末混合部10,且係貫通氣體室11,使粉末的射出口12a突出於氣體粉末混合部10並且朝向噴嘴5的前端方向配置;以及整流部14,係設於氣體室11內之粉末供給管12之周圍,對被導入至氣體室11之氣體予以整流,使之通過氣體通過口13a。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种可于利用冷喷涂法之成膜设备中,使附着于粉末通过之通路的内壁之粉末量均匀化之成膜设备。成膜设备系具备:气体粉末混合部10,系将气体与粉末予以混合并供给至喷嘴5;气体室11,系透过至少1个气体通过口13a与气体粉末混合部10连通,将气体导入至气体粉末混合部10;粉末供给管12,系将粉末供给至气体粉末混合部10,且系贯通气体室11,使粉末的射出口12a突出于气体粉末混合部10并且朝向喷嘴5的前端方向配置;以及整流部14,系设于气体室11内之粉末供给管12之周围,对被导入至气体室11之气体予以整流,使之通过气体通过口13a。

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