同時マルチステートセンスから生じるバラツキの緩和
    7.
    发明专利
    同時マルチステートセンスから生じるバラツキの緩和 审中-公开
    松弛的从同时多状态感而产生的变化

    公开(公告)号:JP2015506528A

    公开(公告)日:2015-03-02

    申请号:JP2014549059

    申请日:2012-11-19

    CPC classification number: G11C11/5642 G06F11/1072

    Abstract: 同時マルチ閾値(SMT)センスから生じ得るセンスバラツキを緩和するための方法および装置が提供される。SMTセンス中に、2以上の異なるバイアス条件を使用して、2つの異なる閾値電圧を同時にセンスしてもよい。しかしながら、検証に使用したものとは異なるバイアス条件を使用して読み出しする際に、メモリセルの閾値電圧シフトに差異が生じ得る。一実施形態では、各プログラム状態は、SMT検証中に使用した両方(またはすべて)のバイアス条件を使用して読み出される。言い換えると、2つ(またはそれよりも多く)の異なるセンス動作を使用して、各メモリセルを読み出す。これらの異なるセンス動作からのデータを使用して、ECCデコーダに対する初期値(例えば、LLR、LR、確率)を計算してもよい。一実施形態では、この技術は、通常の読み出しが失敗した場合にのみ実行される。

    Abstract translation: 提供了用于减轻可能从同步多阈值(SMT)感出现感变化的方法和装置。 SMT在这个意义上,使用两个或多个不同的偏压条件下,两个不同的阈值电压可被同时感测。 然而,当读取通过使用不同的偏置条件与用于验证,也可以在存储器单元的阈值电压偏移发生差异。 在一个实施例中,每个节目的状态是通过使用两个在SMT验证中使用(或全部)的偏置条件读取。 换句话说,使用的不同的感测操作中,读取每个存储器单元的两个(或更多个)。 从这些不同的感测操作中的数据,对于所述ECC解码器的初始值(例如,LLR,LR,概率)可以被计算。 在一个实施例中,仅当正常读取失败则执行该技术。

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