半導体装置、モジュール、およびテスト方法
    3.
    发明专利
    半導体装置、モジュール、およびテスト方法 审中-公开
    半导体器件,模块和测试方法

    公开(公告)号:JP2016035947A

    公开(公告)日:2016-03-17

    申请号:JP2014157370

    申请日:2014-08-01

    Abstract: 【課題】良品判別の精度を高めることができる半導体装置を得る。 【解決手段】半導体装置は、基板電圧を変更可能に構成されたトランジスタを含むフリップフロップを複数有し、モード切替信号に基づいて、複数のフリップフロップがシフトレジスタとして動作する第1のモードと、第1のモードとは異なる第2のモードとの間で切り替え可能に構成されたフリップフロップ部と、モード切替信号に基づいて、基板電圧を生成する制御部とを備える。 【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题:实现能够提高对无缺陷产品的辨别精度的半导体器件。解决方案:一种半导体器件,包括:触发器部分,其具有多个触发器,每个触发器包括以一种方式构成的晶体管 能够改变衬底电压,并且以能够在多个触发器作为移位寄存器操作的第一模式与不同于第一模式的第二模式之间的模式切换信号进行切换的方式构成; 以及基于模式切换信号生成基板电压的控制部

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