劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法

    公开(公告)号:JPWO2020217355A1

    公开(公告)日:2021-05-06

    申请号:JP2019017501

    申请日:2019-04-24

    Abstract: 光送信信号を出力するレーザダイオード(105)を有する光トランシーバ(101)の温度を取得する温度取得部(111)と、レーザダイオード(105)に流れるバイアス電流を取得するバイアス電流取得部(112)と、取得された温度とバイアス電流との関係を示す補正関数を算出する補正関数演算部(114)と、補正関数を用いて、劣化診断時に取得されたバイアス電流の温度補正値を算出する温度補正値算出部(116)と、温度補正値を用いて、劣化診断時に取得されたバイアス電流を補正する補正後バイアス電流算出部(117)と、バイアス電流の初期値である初期バイアス電流と補正された補正後バイアス電流とを比較して、レーザダイオード(105)の状態を判定するバイアス電流変化量算出部(118)と、を備える。

    劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法

    公开(公告)号:JP6704534B1

    公开(公告)日:2020-06-03

    申请号:JP2019549500

    申请日:2019-04-24

    Abstract: 光送信信号を出力するレーザダイオード(105)を有する光トランシーバ(101)の温度を取得する温度取得部(111)と、レーザダイオード(105)に流れるバイアス電流を取得するバイアス電流取得部(112)と、取得された温度とバイアス電流との関係を示す補正関数を算出する補正関数演算部(114)と、補正関数を用いて、劣化診断時に取得されたバイアス電流の温度補正値を算出する温度補正値算出部(116)と、温度補正値を用いて、劣化診断時に取得されたバイアス電流を補正する補正後バイアス電流算出部(117)と、バイアス電流の初期値である初期バイアス電流と補正された補正後バイアス電流とを比較して、レーザダイオード(105)の状態を判定するバイアス電流変化量算出部(118)と、を備える。

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