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    発光体計測装置及び発光体計測方法
    1.
    发明专利
    発光体計測装置及び発光体計測方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020153713A

    公开(公告)日：2020-09-24

    申请号：JP2019050291

    申请日：2019-03-18

    Applicant: 大塚電子株式会社

    Inventor： 西田 吉彦 ,  佐野 弘幸

    IPC: G01M11/00 ,  G01J1/00

    Abstract: 【課題】計測球面上の広い範囲から発光体の輝度を計測することができる小型化が容易な発光体計測装置を提供すること。 【解決手段】発光体計測装置は、保持部50から見て軸A2の一方側に支持部42がある非反転姿勢と、保持部50から見て軸A2の他方側に支持部42がある反転姿勢のうち、非反転姿勢で第1アーム30及び第2アーム40を回動させて、計測球面の第1領域内の複数の撮像位置からサンプル80の輝度データを取得し、反転姿勢で第1アーム30及び第2アーム40を回動させて、第1領域に隣接する第2領域内の複数の前記撮像位置からサンプル80の輝度データを取得する。 【選択図】図1

    分光輝度計の校正に用いる基準光源装置及びそれを用いる校正方法
    3.
    发明专利
    分光輝度計の校正に用いる基準光源装置及びそれを用いる校正方法 审中-公开

    公开(公告)号：JPWO2016151778A1

    公开(公告)日：2018-01-11

    申请号：JP2017507231

    申请日：2015-03-24

    Applicant: 大塚電子株式会社

    Inventor： 白岩 久志 ,  佐野 弘幸

    IPC: G01J3/10 ,  G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/10

    Abstract: 輝度基準面における輝度ムラを低減する。開口である輝度基準面(18)を備える積分球(12)と、前記積分球(12)の外壁(12b)に互いに離間して設けられ、前記積分球(12)の内部に波長特性が同等の光をそれぞれ入射する複数の第1光ポート(14a),(14b)と、を含む分光輝度計(40)の校正に用いる基準光源装置(10)が提供される。前記複数の第1光ポート(14a),(14b)は、前記積分球(12)の外壁(12b)における、前記輝度基準面(18)の中心からの距離が等しく、前記輝度基準面(18)の中心を通る前記積分球(12)の回転対称軸Rに対して回転対称性を有する複数位置に設けられてよい。

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