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公开(公告)号：JP6116117B2
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：JP2011281170
申请日：2011-12-22
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: G01N21/3554
CPC classification number: G01N35/00693 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N21/61 , G01N21/8507
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公开(公告)号：JP6271139B2
公开(公告)日：2018-01-31
申请号：JP2013058416
申请日：2013-03-21
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: G01K1/14 , G01K11/12 , G01N21/359
CPC classification number: G01J5/0806 , G01J5/0014 , G01J5/029 , G01J5/042 , G01J5/084 , G01J5/0896 , G01J5/58 , G01J5/602
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公开(公告)号：JP2017129594A
公开(公告)日：2017-07-27
申请号：JP2017047769
申请日：2017-03-13
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: G01N21/03 , G01N21/15 , G02B5/122 , G01N21/3504 , G01N21/61
Abstract: 【課題】試料ガスを従来に比して正確に分析可能とする測定ユニットおよびガス分析装置を提供する。 【解決手段】煙道壁の外側に配置される1つの照射部と、照射部から出射され煙道の中を通過した測定光を反射する第1リフレクタと、煙道壁の外側に配置され第1リフレクタで反射された測定光を受光する1つの受光部と、煙道壁の外側に配置され測定光を受光部に向けて反射する第2のリフレクタと、照射部と第2リフレクタの間の光路上の空間に設けられ、既知物質を収容する既知物質収容部と、照射部から出射された測定光を第1リフレクタで反射させて試料ガスを分析し、照射部から出射された測定光を第2リフレクタで反射させてガス分析装置の既知物質を用いた補正又は校正を行う演算部と、煙道壁の外側に配置され成分濃度の分析を行うときに第2リフレクタを光路上から外し、補正又は校正を行うときに第2リフレクタを光路上に配置する切替部とを備える。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP5813409B2
公开(公告)日：2015-11-17
申请号：JP2011171188
申请日：2011-08-04
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: G01N21/01
CPC classification number: G01N21/15 , G01N1/2202 , G01N1/2208 , G01N1/2247 , G01N1/26 , G01N2021/151 , G01N21/3504 , G01N21/8507
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP6416453B2
公开(公告)日：2018-10-31
申请号：JP2011281515
申请日：2011-12-22
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: G01N21/61
CPC classification number: G01N21/61 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2021/3513 , G01N2021/536 , G01N2021/8514 , G01N2021/8578
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公开(公告)号：JP2017129374A
公开(公告)日：2017-07-27
申请号：JP2016007053
申请日：2016-01-18
Applicant: 株式会社堀場製作所
Inventor： 井戸 琢也
IPC: G01N21/3504 , G01N21/39
CPC classification number: G01N21/274 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01N21/314 , G01N21/3504 , G01N21/359 , G01N21/39 , G01J2003/423 , G01N21/3554 , G01N21/8507 , G01N2201/0612 , G01N2201/127
Abstract: 【課題】分析装置において、測定光の経時変化による吸光度への影響を確認する。 【解決手段】分析装置は、基準ガス充填空間と、スペクトル生成部75と、スペクトル比較部76と、を備える。基準ガス充填空間は、測定光の光路上に形成され、測定対象ガスとは異なる基準ガスが予め決められた第1濃度にて充填される空間である。スペクトル生成部75は、基準ガス充填空間を通過した測定光である検出光の波長と、検出光の相対強度と、を関連付けた実測スペクトルデータDmsを生成する。スペクトル比較部76は、第1濃度の基準ガスの吸収スペクトルを直接吸収法により予め実測した基準吸収スペクトルデータDssと、実測スペクトルデータDmsとの差異を算出する。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2017026345A
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015142206
申请日：2015-07-16
Applicant: 株式会社堀場製作所
Abstract: 【課題】ガス中に含まれる検出対象成分を、検出対象成分による測定光の吸光量に基づいて短時間に検出する。 【解決手段】ガス成分検出装置100、200、300は、光源3と、検出部5と、信号出力部95と、を備える。光源3は、検出対象成分と相互作用する波長範囲を少なくとも含む測定光L m をダクト50内に照射する。検出部5は、測定光L m のうち、光散乱粒子P及び/又はダクト50の内壁51’により散乱及び/又は反射されてきた検出光L d を検出する。信号出力部95は、検出部5により検出された検出光L d の強度に基づいて、ダクト50内を流れるガスSGに検出対象成分が含まれるか否かの判定に用いられる判定信号を出力する。 【選択図】図1
Abstract translation: 包含在气体中的检测对象成分在由检测对象成分的测量光的光吸收的基础上很短的时间被检测。 一种气体成分检测装置100，200和300包括光源3，检测器5，信号输出部95，所述。 光源3照射的测定光Lm至少包括与所述导管50的检测对象成分相互作用的波长范围。 测量光Lm，以检测已通过所述光散射的内壁51散射和/或反射的检测光Ld的检测器5，颗粒P和/或管道50”。 基于已经由所述检测单元5检测到的检测光Ld的强度信号输出单元95，并输出用于确定是否包括检测目标组分气体SG流入管道50的判定信号。 点域1
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公开(公告)号：JP2019110164A
公开(公告)日：2019-07-04
申请号：JP2017240867
申请日：2017-12-15
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: H01S5/343 , G01N21/01 , G01N21/3504 , H01S5/026
Abstract: 【課題】温度センサの検出温度と半導体レーザ素子部の温度との誤差を小さくする。 【解決手段】基板2上に設けられたクラッド層33とコア層32とから構成される光導波路3Aを有する半導体レーザ素子部3と、基板2上に設けられ、光導波路3Aの層構成の全部又は一部と同じ層構成を有する温度センサ素子部4とを備える。 【選択図】図3
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