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公开(公告)号：JP2019138691A
公开(公告)日：2019-08-22
申请号：JP2018020118
申请日：2018-02-07
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】被測定面の表面粗さと、被測定面の表面粗さ以外の表面形状とを同時に測定し、且つ触針の破損を防止可能な表面形状測定機を提供する。 【解決手段】検出器と、検出器を、第1回転方向と、第1回転方向とは反対側の第2回転方向とに揺動自在に支持する第1弾性支持部材と、第1弾性支持部材を、揺動支点の軸方向に垂直で且つ被測定面に平行な駆動方向に沿って移動させる駆動部と、駆動部により第1弾性支持部材を介して駆動される検出器を被測定面に沿って案内する直線状の検出器ガイドと、被測定面に接触する1又は複数の第1接触点を有し、検出器ガイドを、検出器の被測定面に対向する面側とは反対面側に対向する位置に支持するガイド支持部材と、検出器に設けられ、検出器を検出器ガイドに沿って移動自在に検出器ガイドにより支持させる検出器支持部材と、を備える。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP6458335B1
公开(公告)日：2019-01-30
申请号：JP2018020118
申请日：2018-02-07
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】被測定面の表面粗さと、被測定面の表面粗さ以外の表面形状とを同時に測定し、且つ触針の破損を防止可能な表面形状測定機を提供する。 【解決手段】検出器と、検出器を、第1回転方向と、第1回転方向とは反対側の第2回転方向とに揺動自在に支持する第1弾性支持部材と、第1弾性支持部材を、揺動支点の軸方向に垂直で且つ被測定面に平行な駆動方向に沿って移動させる駆動部と、駆動部により第1弾性支持部材を介して駆動される検出器を被測定面に沿って案内する直線状の検出器ガイドと、被測定面に接触する1又は複数の第1接触点を有し、検出器ガイドを、検出器の被測定面に対向する面側とは反対面側に対向する位置に支持するガイド支持部材と、検出器に設けられ、検出器を検出器ガイドに沿って移動自在に検出器ガイドにより支持させる検出器支持部材と、を備える。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP5943099B1
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：JP2015014383
申请日：2015-01-28
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】小型化を図ることができる真円度測定装置を提供する。 【解決手段】真円度測定装置1は、ベース10と、ベース10上に設けられ、ワークWを載置する載物台12と、ベース10上に立設されたコラム14と、コラム14に沿って移動可能に支持されたキャリッジ16と、径方向(左右方向)の旋回軸の周りに旋回可能にキャリッジ16に支持された旋回アーム18と、径方向に移動可能に支持された径方向移動アーム20と、径方向移動アーム20の先端に固定された検出器ホルダ22とを有し、検出器ホルダ22に検出器24が固持され、径方向移動アーム20の径方向への移動により検出器24の径方向の位置が調整される。 【選択図】図1
Abstract translation: 提供一种圆度测定仪的小型化。 圆度测量装置1包括：底座10，设置在基座10中，安装基座12用于安装工件W，立设在基部10上的柱14，该柱14上 这是由滑架16支撑，其可移动地沿支撑，可枢转地滑架16和枢轴臂18，可移动地支撑可径向移动约在径向方向上枢转轴线的径向方向（横向） 其被固定到所述径向移动臂20的前端的臂20，和一个检测器支架22，所述检测器的检测器24在保持器22固定地在径向移动臂20的径向方向上保持，检测器通过该移动 的24的径向位置进行调整。 点域1
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公开(公告)号：JP2015175855A
公开(公告)日：2015-10-05
申请号：JP2015093577
申请日：2015-04-30
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B5/00
Abstract: 【課題】構造を簡単にして製造費用を抑えることができ、測定位置の使用可能範囲を大きく確保して変位検出性能を向上できること。 【解決手段】互いに相対移動可能な第1検出要素及び第2検出要素を含む変位検出手段3と、第1検出要素が設けられるベース4と、ベース4に対して、アーム回転軸A回りに回転自在に連結され、第2検出要素が設けられたアーム5と、ベース4に対して、アーム回転軸Aに垂直な仮想面内に沿うように延びる測定子回転軸M回りに回転自在に連結され、測定子回転軸Mから離間した位置に接触子7が設けられた測定子6と、を備える。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：通过简化结构来抑制生产成本，并通过确保测量位置的可用范围大大提高位移检测性能。解决方案：双向位移检测器包括：位移检测装置3，包括第一检测元件和 第二检测元件，其彼此相对移动; 设置有第一检测元件的基座4; 臂5，其围绕臂旋转轴线A可旋转地连接到基座4并设置有第二检测元件; 以及可旋转地连接在量规头部旋转轴线M周围的量规头6，该测量头部旋转轴线M在与臂旋转轴线A垂直的虚拟平面内延伸，并且在与量规头部旋转轴线M分离的位置处设置有接触元件7。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2015175736A
公开(公告)日：2015-10-05
申请号：JP2014052678
申请日：2014-03-14
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B5/00
Abstract: 【課題】構造を簡単にして製造費用を抑えることができ、測定位置の使用可能範囲を大きく確保して変位検出性能を向上できること。 【解決手段】第1検出要素及び第2検出要素を含む変位検出手段3と、第1検出要素が設けられるベース4と、ベース4に対して、アーム回転軸A回りに回転自在に連結され、第2検出要素が設けられたアーム5と、ベース4に対して、アーム回転軸Aに垂直な測定子回転軸M回りに回転自在に連結され、測定子回転軸Mから離間した位置に接触子7が設けられた測定子6と、を備え、測定子6は、アーム回転軸A方向に沿う測定子回転軸Mを挟んだ両側に、アーム5に対して離間可能に当接する一対の当接部13a、13bを有し、アーム5は、ベース4に対して、アーム回転軸A回りに沿う周方向の一方側へ向けて付勢されているとともに、測定子回転軸M回りに沿う周方向の両側からそれぞれ一対の当接部13a、13bを付勢可能である。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：通过简化结构来抑制生产成本，并通过确保测量位置的可用范围大大提高位移检测性能。解决方案：双向位移检测器包括：位移检测装置3，包括第一检测元件和 第二检测元件; 设置有第一检测元件的基座4; 臂5，其围绕臂旋转轴线A可旋转地连接到基座4并且设置有第二检测元件; 以及与头臂旋转轴线A垂直的量规头部旋转轴线M可旋转地连接并在与量规头部旋转轴线M分离的位置处设置有接触元件7的量规头6。量规头6包括一对抵接部 13a，13b可沿着臂旋转轴线A围绕测量头旋转轴线M两侧分别抵靠臂5。臂5沿着臂旋转轴线A沿圆周方向的一个侧面方向对底座4通电 并且能够沿着测量头旋转轴线M的周边方向的两侧分别对一对抵接部13a，13b通电。
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公开(公告)号：JP2015068648A
公开(公告)日：2015-04-13
申请号：JP2013200288
申请日：2013-09-26
Applicant: 株式会社東京精密
IPC: G01B5/20
Abstract: 【課題】ワークの円筒面の直径(半径)を精度良く求めることができ、高精度な真円度測定が可能な真円度測定装置を提供する。 【解決手段】ベース12と、載置されたワーク14を回転する回転台16と、回転台の回転軸に対して平行に伸びるコラム20と、コラムに沿って移動可能なキャリッジ22と、ホルダ支持部材34及びホルダ固定部36を有し、ホルダ固定部を回転台の回転軸とワークの測定点を含む測定平面に平行に移動可能な検出器ホルダ移動機構24と、測定子30が測定平面で変位可能なように、検出器ホルダに取り付けられた検出器28と、検出器ホルダ移動機構に設けられ、検出器ホルダの測定平面に平行な方向の位置を検出する第1及び第2の位置検出手段42,44,46,48と、各位置検出手段の検出結果に基づいて、検出器の測定子がワークに接触する測定点の位置を算出する測定点算出手段と、を備える真円度測定装置。 【選択図】図2
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够精确地获得工件的圆柱形表面的直径（半径）并且以高精度测量圆形度的圆度测量装置。解决方案：圆度测量装置包括：基部12; 用于旋转安装的工件14的转台16; 平行于旋转台的旋转轴延伸的柱20; 可沿柱移动的托架22; 具有保持器支撑构件34和保持器固定部36的检测器保持器移动机构24，并且能够将保持器固定部平行于包括旋转台的旋转轴和作业的测量点的测量平面移动; 附接到检测器保持器的检测器28，用于使得测量元件30能够在测量平面中移位; 第一和第二位置检测装置42,44,46和48，用于检测与检测器支架的测量平面平行的方向上的位置; 以及测量点计算装置，用于根据每个位置检测装置的检测结果来计算检测器的测量元件与工件接触的测量点的位置。
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公开(公告)号：JP2021131244A
公开(公告)日：2021-09-09
申请号：JP2020025445
申请日：2020-02-18
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】マスターピース及び長ストロークの水平アームを用いることなく大径のワークの径測定が可能なワークの径測定方法及び真円度測定機を提供する。 【解決手段】未校正の基準器MRの周面に対して測定子28の変位方向の一方向側から測定子を接触させた状態で基準器と検出器24とを回転中心CPの周りに相対回転させながら、測定子の位置を検出する第1検出ステップと、基準器の周面に対して変位方向の他方向側から測定子を接触させた状態で基準器と検出器とを回転中心の周りに相対回転させながら、測定子の位置を検出する第2検出ステップと、第1検出ステップ及び第2検出ステップで検出された測定子の位置に基づき、回転中心の位置を演算する回転中心演算ステップと、ワークWに対して他方向側から測定子を接触させた状態でワークと検出器とを回転中心の周りに相対回転させる第3検出ステップと、周面の径を演算する径演算ステップと、を有する。 【選択図】図9
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