中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

122 records (took 0.045 seconds)

    光学素子アセンブリ、光学撮像装置、及び、光加工装置
    1.
    发明专利
    光学素子アセンブリ、光学撮像装置、及び、光加工装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2021047268A

    公开(公告)日：2021-03-25

    申请号：JP2019168955

    申请日：2019-09-18

    Applicant: 株式会社東芝

    Inventor： 大野 博司 ,  碓井 隆

    IPC: G02B3/00 ,  G02B7/02 ,  G03B19/12 ,  G03B11/00 ,  G03B17/55 ,  B23K26/064 ,  G02B15/00

    Abstract: 【課題】 より高速に焦点位置を調整可能な光学素子アセンブリを提供することである。 【解決手段】 光学素子アセンブリは、透明なロッドと、ミラーと、発光素子とを有する。ロッドは、第1端から入射する第1波長域の光を通過させて第2端から出射し、第1波長域から外れる第2波長域の光を吸収する。ミラーは、ロッドの第1端の側に配置され、第1波長域の光及び第2波長域の光の一方を透過し、他方を反射し、第1波長域の光及び第2波長域の光をロッドの第1端に入射する。発光素子は、第2波長域の光を発光し、ミラーを介してロッドの第1端に第2波長域の光を入射する。 【選択図】図1

    測定方法及び測定装置
    4.
    发明专利
    測定方法及び測定装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020143917A

    公开(公告)日：2020-09-10

    申请号：JP2019038601

    申请日：2019-03-04

    Applicant: 株式会社東芝

    Inventor： 戸谷 公紀 ,  大野 博司

    IPC: G01N21/896 ,  G01N21/45

    Abstract: 【課題】容易な測定方法を提供する。 【解決手段】一つの実施形態に係る測定方法は、背景画像、及び前記背景画像の光を透過可能な物質、を含む第1の映像を取得することと、前記背景画像及び前記物質を含み、当該背景画像と当該物質との相対的な位置関係が前記第1の映像と異なる第2の映像を取得することと、前記第1の映像と前記第2の映像との間での前記背景画像の位置の差異である第1の変位量を算出することと、を備える。 【選択図】図1

    光学素子および照明装置
    8.
    发明专利
    光学素子および照明装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2019050208A

    公开(公告)日：2019-03-28

    申请号：JP2018210049

    申请日：2018-11-07

    Applicant: 株式会社東芝 ,  東芝マテリアル株式会社

    Inventor： 大野 博司 ,  加藤 光章 ,  林原 弘道 ,  近藤 弘康 ,  津田 亮二 ,  大屋 恭正

    IPC: F21K9/232 ,  F21K9/61 ,  F21Y115/10 ,  F21V8/00

    Abstract: 【課題】広配光な光を効率良く射出できる光学素子、およびこの光学素子を備えた照明装置の開発。 【解決手段】可視光に対して透明な材料により形成され、中心軸に対して回転対称となる形状を有する光学素子50を使った照明装置であって、光学素子の内部には、透明な材料が存在しない空孔1が設けられている。空孔の内面は、中心軸Cを含む平面と該内面とが交差する空孔の境界線Lが光学素子の外方に向けて膨らむ曲線部分を含むような形状を有する。また、空孔内に原点Oをとり、当該原点に対して境界線に沿って時計回りに進む方向を正方向とし、境界線上の第1の点Aにおける第1の接線ベクトルV1をとり、第1の点に対して正方向に隣接する第2の点Bにおける第2の接線ベクトルV2をとった場合、この第2の接線ベクトルの第1の接線ベクトルに対する上記時計回りを正とする成す角が常に0度以上であり、空孔の内面は内側に凹む面を含まない。 【選択図】図2

    光学検査装置及び光学検査方法
    9.
    发明专利
    光学検査装置及び光学検査方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2019007802A

    公开(公告)日：2019-01-17

    申请号：JP2017122606

    申请日：2017-06-22

    Applicant: 株式会社東芝

    Inventor： 大野 博司 ,  加納 宏弥 ,  岡野 英明 ,  本宮 佳典

    IPC: G01N23/20 ,  G01B11/06 ,  G01N21/41

    Abstract: 【課題】非接触で内部検査が可能な光学検査装置を提供する。 【解決手段】光学検査装置10は、受光した光線の光線方向に係る情報を受光信号として出力する受光部13と、前記受光信号を処理して、基準となる基準光線方向に係る情報と被検物40を通過した通過光の通過光線方向に係る情報とを取得して、前記基準光線方向に係る情報と前記通過光線方向に係る情報とを比較した結果に基づいて、被検物40の内部の物理量に係る情報を取得する処理回路14とを備える。 【選択図】図1

Patent Agency Ranking