パラメータのデータ構造および半導体装置の製造装置
    1.
    发明专利
    パラメータのデータ構造および半導体装置の製造装置 审中-公开
    的数据结构的参数的制造装置以及半导体装置

    公开(公告)号:JP2016213396A

    公开(公告)日:2016-12-15

    申请号:JP2015097924

    申请日:2015-05-13

    CPC classification number: H01L21/02 G05B19/418

    Abstract: 【課題】パラメータが関連付けられる製造装置の部材の特性などに着目して、より効率的にパラメータを管理できる構成が要望されている。 【解決手段】半導体装置の製造装置での処理内容を複数の品種ごとに切り換えるためのパラメータのデータ構造は、製造装置に固有のパラメータを含む、複数の品種にわたって共通に利用される第1のデータと、複数の品種ごとにそれぞれ設けられる複数の第2のデータとを含む。複数の第2のデータの各々は、対応する品種に応じた複数のパラメータと、第2のデータに含まれる複数のパラメータのうち、他の品種との間で共通化されるパラメータを特定する情報とを含む。 【選択図】図5

    Abstract translation: 聚焦像的参数的部件的特征相关联的制造设备,来管理参数更有效的结构是期望的。 用于制造装置的处理内容将A参数的数据结构切换到每一个多个特定于制造装置的品种的半导体器件中,在共同使用的多个品种的第一数据,其中包括的参数的 和多个第二多个分别设置在各类型的数据。 多个第二数据中的每个信息包括用于相应的品种的多个参数,多个包括在第二数据参数中,指定是常见的与其它品种的参数 包括门。 点域5

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