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    凝縮システム
    2.
    发明专利
    凝縮システム 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020082076A

    公开(公告)日：2020-06-04

    申请号：JP2019193657

    申请日：2019-10-24

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 蔡政廷 ,  楊蘭昇 ,  鍾紹恩

    IPC: B01D5/00

    Abstract: 【課題】凝縮システムを提供する。 【解決手段】凝縮層を検出対象物の表面に生成するための凝縮システムにおいて、検出対象物の表面の温度よりも高い露点温度を有する凝縮空気流を発生させるための空気流生成装置と、それぞれ少なくとも1つの第1の穴を有する少なくとも1つの均流板を含み、空気流生成装置に近く、凝縮空気流を受けるように配置される均流モジュールを含み、空気流生成装置に連通される流路装置と、を備え、凝縮空気流が空気流生成装置から流路装置に流れる凝縮システム。 【選択図】図1A

    バッテリセルの半製品を試験する方法
    6.
    发明专利
    バッテリセルの半製品を試験する方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018190706A

    公开(公告)日：2018-11-29

    申请号：JP2018055828

    申请日：2018-03-23

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 蔡 志 明 ,  陳 昭 旭 ,  廖 漢 洲 ,  向 崇 羽

    IPC: H02J7/00 ,  H01M10/04

    CPC classification number: H01M10/48 ,  G01R19/16542 ,  H01M10/425 ,  H01M10/44 ,  H01M2010/4271

    Abstract: 【課題】バッテリセルの半製品を試験するための方法を提供する。 【解決手段】バッテリセルの半製品は、第1導体と第2導体との間の電圧差が閾値電圧未満であるときに一定の電流で充電される。バッテリセルの半製品は、第1導体と第2導体との間の電圧差が閾値電圧以上である場合に一定電圧で充電される。全電気量は、デフォルト期間の後に取得し、全電気量は、デフォルト期間の間、定電流でバッテリセルの半製品に充電される電気量である。したがって、バッテリセルの半製品の電極に関する絶縁性は、全電気量が閾値電気量よりも大きい場合に不良と判断される。 【選択図】図3

    支持装置
    7.
    发明专利
    支持装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018185282A

    公开(公告)日：2018-11-22

    申请号：JP2017141347

    申请日：2017-07-20

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 莊聖敬 ,  連魁文 ,  劉崇琳 ,  莊明儒 ,  グゥォ シゥ ウェイ ,  王銘輝 ,  王志賢

    IPC: G01R31/36

    CPC classification number: H05K7/20009 ,  H01M10/4285 ,  H05K5/0217

    Abstract: 【課題】支持装置を提供する。 【解決手段】支持装置は、電子素子を支持するように配置される。支持装置は、トレイと、複数の凹み構造と、を備える。トレイは、その内方におけるキャビティと、前記キャビティと連通する少なくとも1つの吸気孔と、を有する。凹み構造は、キャビティへ凹むようにトレイに配置される。複数の凹み構造の各々は、支持表面と、複数の第1のスペーサーと、を含み、対応する1つの電子素子の少なくとも一部を収納するように配置される。支持表面は、キャビティと連通する排気孔を有する。第1のスペーサーは、対応する1つの凹み構造の支持表面に配置される。対応する1つの電子素子が第1のスペーサーに支持される場合、如何なる隣り合う2つの前記第1のスペーサーと対応する電子素子とは、第1の流路を形成する。 【選択図】図1

    気密性試験方法及び装置
    8.
    发明专利
    気密性試験方法及び装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018136308A

    公开(公告)日：2018-08-30

    申请号：JP2017240019

    申请日：2017-12-14

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 鄭柏凱 ,  楊蒼奇 ,  王▲啓▼書

    IPC: G01M99/00 ,  G01M3/26

    CPC classification number: G01M3/3272 ,  G01M3/3263 ,  G01M3/3281 ,  G01R1/0416 ,  G01R1/06722 ,  G01R31/2601

    Abstract: 【課題】試験方法及び試験装置に関し、特に気密性試験のための方法及び装置を提供する。 【解決手段】試験チャンバーと格納チャンバーを接続し、格納チャンバーに陰圧を供給し、格納チャンバー又は試験チャンバーにおける圧力を測定して第1圧力値を取得し、陰圧及び第1圧力値に応じて試験チャンバーの気密性を判定し、格納チャンバーへの陰圧の供給を停止し、格納チャンバーにおける圧力を測定して第2圧力値を取得し、格納チャンバーへの陰圧の供給を停止して所定時間後、格納チャンバーにおける圧力を測定して第3圧力値を取得し、第2圧力値及び第3圧力値に応じて試験チャンバーの気密性を判定する。気密性試験装置は、試験チャンバー、格納チャンバー、陰圧発生器、及び圧力計を含む。格納チャンバーは、試験チャンバーに接続されている。陰圧発生器は、格納チャンバーに接続されている。圧力計は、格納チャンバーに接続されている。 【選択図】なし

    プローブ
    10.
    发明专利
    プローブ 审中-公开
    探测器

    公开(公告)号：JP2017037064A

    公开(公告)日：2017-02-16

    申请号：JP2016133793

    申请日：2016-07-06

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 劉 茂盛 ,  郭 修▲韋▼ ,  陳 昭旭

    IPC: G01R1/067 ,  G01R1/073

    CPC classification number: G01R1/06722 ,  G01R31/3644

    Abstract: 【課題】修理時、ユーザが回路基板からプローブの全てのコンポーネントを取り外す必要のないプローブを提供する。 【解決手段】プローブ1は、第1の導電体10と、第2の導電体20と、電圧測定部30とを含む。第1の導電体は第1の貫通孔を備え、第1の貫通孔は第1の導電体の両端に亘って延在する。第2の導電体は着脱可能に第1の導電体上に配置され、第2の導電体は作用面と第2の貫通孔を備える。作用面は、第2の導電体の第1の導電体から離れた第1の導電体の一端に配置される。互いに対向する第2の貫通孔の両端は、それぞれ、作用面と第1の貫通孔の一端に配置される。第1の貫通孔は、第2の貫通孔に連通する。電圧測定部は、第1の貫通孔及び第2の貫通孔を貫通する。 【選択図】図1

    Abstract translation: 进行维修，用户提供的探针A是没有必要从电路板除去所述探针的所有组件。 探针1包括第一导体10，第二导体20和电压测量单元30。 第一导体包括第一通孔，所述第一通孔穿过第一导体的两端延伸。 可拆卸地设置在主体上的第一导体的第二导体，所述第二导体包括工作表面和通孔的第二。 工作面被设置在所述第一导体的一端与第二导体的第一导体的路程。 通过彼此面对的第二孔洞的两端分别设置于该工作表面的一个端部和所述第一通孔。 第一通孔与通孔的第二连通。 电压测量单元，通过所述第一通孔和第二通孔。 点域1

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