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公开(公告)号：CN119575451A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202311153009.1
申请日：2023-09-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 上海核工程研究设计院股份有限公司
Abstract: 本公开提供一种射线衰减设备，包括：传输装置，包括：外壳；准直通道，形成于外壳内，包括适用于接受射线的输入端口和适用于引出射线的输出端口；吸收片，由射线屏蔽材料制成，设置在输出端口的外部；以及驱动装置，被构造成驱动吸收片相对于传输装置的输出端口移动，使得吸收片在屏蔽来自于输出端口的射线的屏蔽位置和全部离开输出端口的错开位置之间移动。本公开还提供一种放射性物质检测系统，包括射线衰减设备，能够发射射线的废物桶设置在准直通道的输入端口附近；以及探测器，探测器的检测端面向准直通道的输出端口，以检测从输出端口出射的射线剂量。吸收片用于在屏蔽位置用于吸收一部分射线，以使得穿过吸收片的射线的剂量减少。
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公开(公告)号：CN117476267A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311519754.3
申请日：2023-11-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 上海核工程研究设计院股份有限公司
IPC: G21K1/02
Abstract: 提供一种用于透射放射源的准直器结构，包括：透射放射源；第一屏蔽块，设置在所述透射放射源的出射侧，用于阻挡所述透射放射源发出的射线；第一准直孔，位于所述第一屏蔽块上且贯穿所述第一屏蔽块；以及驱动装置，与所述第一屏蔽块连接，用于驱动所述第一屏蔽块移动，使得所述透射放射源发出的射线穿过所述第一准直孔或被所述第一屏蔽块阻挡。本公开可以通过驱动装置驱动第一屏蔽块移动，使得第一屏蔽块上的第一准直孔与透射放射源发出的射线束束中对准或者不对准，实现对透射放射源的射线与外界环境的关断处理。
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公开(公告)号：CN117451399A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311390793.8
申请日：2023-10-24
Applicant: 上海核工程研究设计院股份有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于核工业技术领域，提出了一种废料桶表面沾污自动取样装置、检测系统及方法，在位于擦拭轮和放布机构之间的位置上设置有第一导向张紧轮，位于擦拭轮和收布机构之间的位置上设置有第二导向张紧轮，擦拭布传输过程中，一直被第一导向张紧轮和第二导向张紧轮张紧；并且，擦拭布与第一导向张紧轮靠近机架的一侧接触，擦拭布与第二导向张紧轮远离机架的一侧接触，根据擦拭布在不同位置节点的输送特点，避免了放布过快或收布过慢等误差引起的出现松弛现象和堆积的现象，保证了取样和检测效率及精度；同时，擦拭布处在第二导向张紧轮与收布机构之间的部分平行于与水平面，有利于检测仪的水平扫描，避免了因扫描角度偏差较大等导致的检测误差。
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公开(公告)号：CN119723124A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202510228639.3
申请日：2025-02-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种电子产品的风险检测方法和风险检测设备，应用于射线检测技术领域。该方法包括：根据获取的产品重量信息和基准重量信息，确定重量差异信息；根据获取的第一图像和第二图像，确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的峰值信噪比，峰值信噪比表征待检产品与基准产品之间的整体相似性；根据获取的第一图像和第二图像，确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的减影值，减影值表征待检产品与基准产品之间的局部差异性；根据重量差异信息、峰值信噪比和减影值，确定待检产品的风险程度。本发明通过较低的射线能量和剂量可以减小检测成本和减小防护难度。
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公开(公告)号：CN107765320B
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN201711188850.9
申请日：2017-11-24
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明公开了一种检查系统。检查系统包括用于形成检查通道的门形框架，门形框架包括用于安装射线源的舱体和分别设置于舱体的两侧且支撑舱体的竖支撑臂。竖支撑臂可伸缩地设置。该检查系统在需要转场运输时控制竖支撑臂缩回从而减小检查系统整体的高度以符合运输高度要求；在到达工作场地后控制竖支撑臂伸出从而使检查通道的高度满足检查作业的要求，因此本发明的检查系统可以更好地满足转场运输要求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108761555B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN201810560645.9
申请日：2018-05-25
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种集装箱车辆检查系统和集装箱车辆检查方法。集装箱车辆检查系统具有供集装箱车辆通过的沿第一方向延伸的扫描通道，包括：扫描设备，包括用于输出辐射束以检查集装箱车辆的辐射源；多个区域激光传感装置，沿所述第一方向间隔布置，每个所述区域激光传感装置具有用于感测集装箱车辆的感测区域并检测集装箱车辆进入其感测区域和/或离开其感测区域的感测信息；和控制装置，与所述扫描设备和所述多个区域激光传感装置信号连接，并根据所述多个区域激光传感装置的感测信息操纵所述扫描设备检查集装箱车辆。基于本发明提供的集装箱车辆检查系统和集装箱车辆检查方法，利于准确判断车辆位置，并能够减少误动作，提升检查成功率。
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公开(公告)号：CN108562932B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN201810756335.4
申请日：2018-07-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明公开了一种辐射检测系统，涉及辐射检测技术领域，用以提高辐射检测系统行走的灵活性。该辐射检测系统包括车体、辐射检测设备以及行走设备。辐射检测设备设于车体；行走设备设于车体下方，用于带着车体行走；其中，行走设备被构造为能相对于车体绕着竖直轴线转动。上述技术方案提供的辐射检测系统，设有能够相对于车体绕着竖直轴线转动的行走设备，辐射检测系统能够实现朝着多个方向前进，在采用上述辐射检测系统对被检货物/车辆进行检查时，通过行走设备控制实现前进、后退、横向行走、原地转弯、回转等多个方向的行走，提高了辐射检测系统行走以及转场的灵活性。
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公开(公告)号：CN107966460B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN201711429492.6
申请日：2017-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本发明的辐射检查系统和辐射检查方法可以兼顾检查效率和检查精度。
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公开(公告)号：CN117607932A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311801406.5
申请日：2023-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明一种移动式辐射探测设备，包括：可移动安装架(1)；辐射探测器(2)，相对所述可移动安装架(1)可动地安装于所述可移动安装架(1)上，辐射探测器(2)用于探测待测物的辐射种类和/或辐射剂量；调节装置，设于所述辐射探测器(2)和所述可移动安装架(1)之间，用于调节所述辐射探测器(2)相对所述可移动安装架(1)的高度和/或角度；其中，所述移动式辐射探测设备探测待测物时通过移动所述可移动安装架(1)和通过调节所述辐射探测器(2)相对所述可移动安装架(1)的高度和/或角度以使所述辐射探测器(2)靠近和对准待测物。
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公开(公告)号：CN108254395B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201711456583.9
申请日：2017-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备。该装置包括：图像采集模块，被配置为在使用移动式图像扫描设备扫描受检物的扫描过程中，采集受检物的扫描图像，确定扫描图像的图像参数；臂摆检测模块，被配置为在扫描过程中，检测探测器臂在指定方向上的位移偏移量，并建立探测器臂的臂摆模型，以拟合探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的函数关系；图像参数校正模块，被配置为通过臂摆模型和扫描图像的图像参数，确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系，并基于变化关系对扫描图像进行校正。根据本发明实施例提供的扫描图像校正装置，可以改善扫描图像的成像质量，获得较好的扫描图像校正效果。
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