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公开(公告)号：CN108303317B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201810064289.1
申请日：2018-01-23
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01M13/005 , G06F30/20 , G06F119/04 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供了一种橡胶密封圈失效检测方法，步骤包括：通过应力加载、老化试验计算多个橡胶密封圈的残余压缩永久变形率；测定经老化试验后的各个橡胶密封圈表面交联密度和表面氧元素相对原子含量并建立橡胶密封圈残余压缩永久变形率回归分析预测方程，从随弹贮存T时间后的橡胶密封圈表面截取细薄片并测定其表面交联密度X1和表面氧元素相对原子含量X2，将测定出的数据代入回归分析预测方程，求解随弹贮存T时间后的橡胶密封圈残余压缩永久变形率，结合设计失效临界值给出检测结果。采用本发明检测方法，无需将橡胶密封圈从弹药产品上拆解下来，实现了随弹长期贮存的橡胶密封圈的无损检测，且检测结果准确、可靠，操作过程简单、快捷。
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公开(公告)号：CN109580465A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811514798.6
申请日：2018-12-12
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明公开了一种强化光热效应的自然环境加速试验装置及其使用方法,试验装置包括试验箱和试验箱内的温湿度传感器，试验箱设置于太阳跟踪设备上，太阳跟踪设备连接控制器，控制器控制太阳跟踪设备动作以实现太阳高度角和方位角的跟踪，使试验箱顶部始终与太阳光线垂直；使用方法步骤包括：测试接地电阻；将样品放置于试验区域，启动太阳跟踪设备，使试验箱的箱盖外表面始终与太阳光垂直；夜间，停止太阳跟踪。本发明不仅能够提高试验箱内试验区的升温速率和最大温升量值，使辐射热效应强化效果更好、试验加速倍率更高，而且能够确保环境试验结果的准确性，节约用电，降低能耗，还能够防止试验装置的燃爆危险，安全性好。
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公开(公告)号：CN112179771B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202011059005.3
申请日：2020-09-30
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明提供了一种固体推进剂应变量加载器及其使用方法，包括带有滑块的刚性框架，滑块两端分别配合在刚性框架的两根侧梁上；还包括位移调节机构，用于将滑块调节至预设位置并固定；在刚性框架上设置有用于卡合固体推进剂样品的卡部和百分表，百分表的测头接触滑块并与滑块的滑动方向一致。使用方法步骤包括：计算应变加载量；将滑块调至初始位置，卡放样品，根据加载量调节滑块位置，将带有固体推进剂样品的加载器转移至试验环境中，开展相关试验。本发明以极其简单和巧妙的结构实现了模拟固体推进剂在固体火箭发动机中的受力情况，所提供的固体推进剂应变量加载器具有非常高的精确度、稳定性和可靠性，同时使得试验操作非常简单、快速。
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公开(公告)号：CN116125162A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202211544763.3
申请日：2022-12-02
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明提供一种基于腐蚀损伤试验的机载电子产品日历寿命评估方法，包括以下步骤：S1、确定与机载电子产品相匹配的试验模式；S2、确定与机载电子产品实际使用环境相关联的试验参数；试验参数包括加速因子和试验时间；S3、根据步骤S2确定的加速因子和试验时间对步骤S1得到的试验模式进行腐蚀试验；S4、根据腐蚀试验的试验结果对机载电子产品的寿命可靠性进行评估。本发明突破了按照GJB150开展腐蚀试验的局限，通过引入干湿交替、多应力协同、精确控制相对湿度时间占比和试验样品表面潮解时间占比等措施，能够有效保证试验与实际环境腐蚀损伤机制的一致性，利用受试产品用腐蚀材料的典型标准件腐蚀进程速率之比，实现实验室时间与日历寿命相关联。
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公开(公告)号：CN113960501A
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN202111038905.4
申请日：2021-09-06
Applicant: 中国航空综合技术研究所 , 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01R31/69
Abstract: 本发明提供了一种基于S参数Nyquist图的电连接器损伤程度表征方法，该方法包括：选择电连接器，针对该电连接器进行不同损伤程度的实验室对比试验，按照电连接器规定的频率范围，对不同损伤程度等级下的电连接器进行S参数测试，确定不同损伤程度等级下电连接器的测试试验频率范围，在试验频率范围内针对不同损伤程度的电连接器进行S参数测试，转换成Nyquist图，根据电连接器S参数Nyquist图的变化规律，判定电连接器的损伤程度情况。本发明无需对电连接器进行拆解，无需破坏电连接器内部接触件接触端面的表面状态，能够在电连接器接触件性能退化初期便捕捉到电连接器性能变化的信号，测试手段更灵敏、测试结果更精准。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109297896B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201811286861.5
申请日：2018-10-31
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明公开了一种复合固体推进剂老化机理一致性评价方法，步骤包括：将复合固体推进剂样品在同一气候环境下分别开展自然环境加速试验、库房贮存试验；达到规定老化天数和年限后，分别检测样品的储能模量、纯净凝胶含量、元素相对原子含量、腐蚀形貌；对比分析样品在自然环境加速试验和库房贮存试验条件下的储能模量、纯净凝胶含量、元素相对原子含量、腐蚀形貌的变化规律。本发明通过协同表征样品在自然环境加速试验、库房贮存试验中储能模量、纯净凝胶含量、腐蚀形貌、元素相对原子含量等参量变化趋势，建立了复合固体推进剂在两种试验条件下老化机理一致性的评价方法，以真实、快速地反映复合固体推进剂在库房贮存试验条件下的贮存老化性能。
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公开(公告)号：CN111024598A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911366403.7
申请日：2019-12-26
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于飞机吊挂结构的环境试验装置，包括疲劳试验系统、环境试验系统和试验控制系统；疲劳试验系统采用卧式动态疲劳试验机，卧式动态疲劳试验机的疲劳试验区域内置于环境试验区域内，卧式动态疲劳试验机的主体结构位于环境试验区域外，在环境试验系统的试验箱两对侧壁上分别设置有同轴线布置的孔，疲劳试验机的两个夹具连杆各自穿过对应的孔后伸入环境试验区域内，孔的直径大于夹具连杆外径，在孔处设置有弹性密封件实现夹具连杆与试验箱的软连接和密封连接。本发明不仅能够实现腐蚀试验装置与疲劳试验装置的配合使用，而且有助于真实、准确、快速地开展飞机吊挂结构腐蚀-疲劳性能试验；本发明结构紧凑，体积小，稳定性优异。
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公开(公告)号：CN114088761A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202111368048.4
申请日：2021-11-18
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所 , 湖北航天化学技术研究所
IPC: G01N24/08
Abstract: 本方案公开了一种复合固体推进剂填料/基体界面作用评价方法，该方法包括：基于无填充基体与填充了填料的基体的特征参数或是填充了不同填料的基体的特征参数的比较，评价填料/基体之间的界面作用；所述特征参数包括氢原子横向弛豫时间和表观交联密度中的一个或两个。本发明基于低场核磁共振技术，具有技术成熟，操作简单，实验快速的特点，可以在较短时间内获得实验结果。
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公开(公告)号：CN109522519A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201811313259.6
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G06F17/18
Abstract: 本发明提出了一种弹药部组件多个性能参数间的相依性评价方法，在Sklar定力的基础上给出了双参数退化的可靠性模型。进一步针对该模型，提出了一种具有更高效率的两步法来估计模型中的未知参数，首先分别对两个性能参数退化过程进行建模分析，估计出其边缘分布中的未知参数；然后，将边缘分布参数估计值代入整体极大似然函数中。通过与库房贮存的实测值进行对比分析，使用本发明方法计算得到参数1这一参数的模型预测精度达到85.92%，参数2这一参数的模型预测精度达到88.60%，最终的双参数Copula函数值的模型预测精度达到93.75%。
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公开(公告)号：CN109470793A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811570559.2
申请日：2018-12-21
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N30/02 , G01N21/29 , G01N23/2273 , G01N21/3563
Abstract: 本发明属于借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料技术领域，具体涉及一种电子元器件灌封胶贮存环境损伤机理分析方法。所述电子元器件灌封胶贮存环境损伤机理分析方法，包括以下步骤：A.将电子元部件样品在自然环境条件下开展多年贮存试验；B.贮存试验结束后，分别检测电子元部件表面和内部灌封胶的分子结构、色差、元素相对原子含量、化学官能团；C.将电子元部件灌封胶表面和内层的分子结构、色差、元素相对原子含量、化学官能团分别进行对比分析。采用本发明的方法来分析电子元器件灌封胶贮存环境下的损伤机理，具有真实性好、准确度高等优点。
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