信息处理装置、信息处理方法、以及记录有信息处理程序的记录介质

    公开(公告)号:CN114331947B

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202111106817.3

    申请日:2021-09-22

    Abstract: 本公开提供一种能够简易地对映现在通过透射电子显微镜(TEM:Transmission Electron Microscope)而拍摄到的图像上的材料的结晶性的不相同的区域进行判断的信息处理装置、信息处理方法、以及记录有信息处理程序的记录介质。服务器(14)的取得部(142)取得通过透射电子显微镜而拍摄到的图像。接下来,计算部(144)针对所取得的图像的局部区域中的每一个,而对该局部区域中所包含的像素的像素值的差异进行计算。判断部(146)针对图像的局部区域中的每一个,而基于被计算出的局部区域的像素值的差异来对局部区域的结晶性的高度进行判断。

    信息处理装置、信息处理方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN114332851A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111113105.4

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本发明提供一种能够简易地对映现在通过透射电子显微镜(TEM:Transmission Electron Microscope)而拍摄到的图像中的材料的结晶性进行判断的信息处理装置、信息处理方法以及记录介质。服务器(14)的取得部(142)取得通过透射电子显微镜而拍摄到的图像。接下来,变换部(144)针对所取得的图像的局部区域中的每一个,而对局部区域的图像执行二维傅立叶变换。聚类部(146)基于所得到的局部区域中的每一个的二维傅立叶变换的结果,而对从二维傅立叶变换的结果中得到的频率强度进行聚类。然后,判断部(148)基于聚类结果,而对图像中的结晶性不同的区域进行判断。

    信息处理装置、信息处理方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN114332851B

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202111113105.4

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本发明提供一种能够简易地对映现在通过透射电子显微镜(TEM:Transmission Electron Microscope)而拍摄到的图像中的材料的结晶性进行判断的信息处理装置、信息处理方法以及记录介质。服务器(14)的取得部(142)取得通过透射电子显微镜而拍摄到的图像。接下来,变换部(144)针对所取得的图像的局部区域中的每一个,而对局部区域的图像执行二维傅立叶变换。聚类部(146)基于所得到的局部区域中的每一个的二维傅立叶变换的结果,而对从二维傅立叶变换的结果中得到的频率强度进行聚类。然后,判断部(148)基于聚类结果,而对图像中的结晶性不同的区域进行判断。

    信息处理装置、信息处理方法、以及记录有信息处理程序的记录介质

    公开(公告)号:CN114331947A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111106817.3

    申请日:2021-09-22

    Abstract: 本公开提供一种能够简易地对映现在通过透射电子显微镜(TEM:Transmission Electron Microscope)而拍摄到的图像上的材料的结晶性的不相同的区域进行判断的信息处理装置、信息处理方法、以及记录有信息处理程序的记录介质。服务器(14)的取得部(142)取得通过透射电子显微镜而拍摄到的图像。接下来,计算部(144)针对所取得的图像的局部区域中的每一个,而对该局部区域中所包含的像素的像素值的差异进行计算。判断部(146)针对图像的局部区域中的每一个,而基于被计算出的局部区域的像素值的差异来对局部区域的结晶性的高度进行判断。

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