分析测试装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110998296A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201880049023.8

    申请日:2018-06-13

    Abstract: 一种分析测试装置(12)包括:一个或多个光发射器(13),其配置成发射第一波长范围(Δλa)内的光。该分析测试装置(12)还包括一个或多个第一光检测器(14),每个第一光检测器(14)对第一波长周围的第二波长范围(Δλb)敏感。该分析测试装置(12)还包括一个或多个第二光检测器(15),每个第二光检测器(15)对第二波长周围的第三波长范围(Δλc)敏感,所述第二波长与第一波长不同。该分析测试装置(12)还包括校正模块(16),其配置成接收来自第一和第二光检测器(14,15)的信号(19,20),并基于来自第一和第二光检测器(14,15)的信号(19,20)的权重差异产生校正信号(21)。配置该分析测试装置(12),使得来自光发射器(13)的光经由包括样品接收部分(7)的光路到达第一和第二光检测器(14,15)。

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