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公开(公告)号：CN102458226B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201080028658.3
申请日：2010-06-15
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01B9/02058 , A61B3/102 , G01B9/02012 , G01B9/02072 , G01B9/02091
Abstract: 本发明涉及一种能够通过检测光源和传感器的状态来正确检测OCT设备的故障的具有简单结构的设备。摄像设备包括切换单元，切换单元在第一模式和第二模式之间进行切换，在第一模式下，检测单元能够检测来自被检物的返回光束和参考光束的合成光束，在第二模式下，检测单元能够检测所述参考光束。可以基于在第二模式下通过检测单元检测到的参考光束的强度，将所述摄像设备切换成第一模式。
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公开(公告)号：CN102016549A
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN200980115967.1
申请日：2009-05-07
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01B9/02058 , A61B3/102 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B9/02002 , G01B9/02035 , G01B9/02091 , G01N21/4795 , G01N2021/1787
Abstract: 提供可缩短成像时间的光学相干断层(OCT)成像装置和相应的方法。该装置包括用于将入射到光学部分上的测量光束的第一光束直径变为比第一光束直径大的第二光束直径的光束直径改变部分(21)。调整台基于第一光束直径下来自检查对象(12)的位置的返回光束的强度信息来调整会聚光学部分(20)的位置。通过光束直径改变部分(21)，在通过调整台调整的位置处，光束直径从第一光束直径变为第二光束直径，以使具有第二光束直径的测量光束入射到检查对象(12)上。由于使用光束直径小的测量光束，因此可以在相对较短的时间内调整会聚光学部分(20)，并且，由于使用光束直径大的测量光束，因此可以以高横向分辨率获取与参照光束的合成光束。
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公开(公告)号：CN103356161A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310110922.3
申请日：2013-04-01
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/102 , A61B3/0041
Abstract: 本发明涉及一种光学相干断层成像设备及其控制方法。所述光学相干断层成像设备用于使用基于来自波长扫频型光源的光的干涉光来拍摄被检眼的断层图像，并且包括：部位获取单元，用于获取摄像对象部位；显示控制单元，用于显示与获取到的所述摄像对象部位有关的信息；以及摄像单元，用于通过使用来自所述波长扫频型光源的光对所述被检眼的所述摄像对象部位进行扫描，来拍摄断层图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102824158B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201210288274.6
申请日：2009-05-07
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01B9/02058 , A61B3/102 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B9/02002 , G01B9/02035 , G01B9/02091 , G01N21/4795 , G01N2021/1787
Abstract: 本发明涉及可缩短成像时间的光学相干断层成像装置和光学相干断层成像方法。该装置包括用于将入射到光学部分上的测量光束的第一光束直径变为比第一光束直径大的第二光束直径的光束直径改变部分。调整台基于第一光束直径下来自检查对象的位置的返回光束的强度信息来调整会聚光学部分的位置。通过光束直径改变部分，在通过调整台调整的位置处，光束直径从第一光束直径变为第二光束直径，以使具有第二光束直径的测量光束入射到检查对象上。由于使用光束直径小的测量光束，因此可以在相对较短的时间内调整会聚光学部分，并且由于使用光束直径大的测量光束，因此可以以高横向分辨率获取与参照光束的合成光束。
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公开(公告)号：CN103356161B
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201310110922.3
申请日：2013-04-01
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/102 , A61B3/0041
Abstract: 本发明涉及一种光学相干断层成像设备及其控制方法。所述光学相干断层成像设备用于使用基于来自波长扫频型光源的光的干涉光来拍摄被检眼的断层图像，并且包括：部位获取单元，用于获取摄像对象部位；显示控制单元，用于显示与获取到的所述摄像对象部位有关的信息；以及摄像单元，用于通过使用来自所述波长扫频型光源的光对所述被检眼的所述摄像对象部位进行扫描，来拍摄断层图像。
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公开(公告)号：CN102016549B
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN200980115967.1
申请日：2009-05-07
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01B9/02058 , A61B3/102 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B9/02002 , G01B9/02035 , G01B9/02091 , G01N21/4795 , G01N2021/1787
Abstract: 提供可缩短成像时间的光学相干断层(OCT)成像装置和相应的方法。该装置包括用于将入射到光学部分上的测量光束的第一光束直径变为比第一光束直径大的第二光束直径的光束直径改变部分(21)。调整台基于第一光束直径下来自检查对象(12)的位置的返回光束的强度信息来调整会聚光学部分(20)的位置。通过光束直径改变部分(21)，在通过调整台调整的位置处，光束直径从第一光束直径变为第二光束直径，以使具有第二光束直径的测量光束入射到检查对象(12)上。由于使用光束直径小的测量光束，因此可以在相对较短的时间内调整会聚光学部分(20)，并且，由于使用光束直径大的测量光束，因此可以以高横向分辨率获取与参照光束的合成光束。
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公开(公告)号：CN102824158A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210288274.6
申请日：2009-05-07
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01B9/02058 , A61B3/102 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B9/02002 , G01B9/02035 , G01B9/02091 , G01N21/4795 , G01N2021/1787
Abstract: 本发明涉及可缩短成像时间的光学相干断层成像装置和光学相干断层成像方法。该装置包括用于将入射到光学部分上的测量光束的第一光束直径变为比第一光束直径大的第二光束直径的光束直径改变部分。调整台基于第一光束直径下来自检查对象的位置的返回光束的强度信息来调整会聚光学部分的位置。通过光束直径改变部分，在通过调整台调整的位置处，光束直径从第一光束直径变为第二光束直径，以使具有第二光束直径的测量光束入射到检查对象上。由于使用光束直径小的测量光束，因此可以在相对较短的时间内调整会聚光学部分，并且由于使用光束直径大的测量光束，因此可以以高横向分辨率获取与参照光束的合成光束。
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公开(公告)号：CN102458226A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201080028658.3
申请日：2010-06-15
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01B9/02058 , A61B3/102 , G01B9/02012 , G01B9/02072 , G01B9/02091
Abstract: 本发明涉及一种能够通过检测光源和传感器的状态来正确检测OCT设备的故障的具有简单结构的设备。摄像设备包括切换单元，切换单元在第一模式和第二模式之间进行切换，在第一模式下，检测单元能够检测来自被检物的返回光束和参考光束的合成光束，在第二模式下，检测单元能够检测所述参考光束。可以基于在第二模式下通过检测单元检测到的参考光束的强度，将所述摄像设备切换成第一模式。
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