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公开(公告)号：CN102818523B
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201210262125.2
申请日：2012-07-26
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明涉及一种小工件视觉测量方法及测量系统，其中方法包括：在被测工件的高度范围内，利用线结构光发生器生成的线结构光对被测工件所在的测量系统进行高度分层标定，得到测量系统的高度标定参数；利用测量系统中的圆形靶标在每一分层高度对测量系统进行平面二维尺寸标定，得到每一分层高度对应的平面标定参数；将平面标定参数与高度标定参数进行拟合，建立平面标定参数和高度标定参数的对应关系；利用激光三角法测量被测工件的台阶面的高度；通过被测工件的台阶面的高度、该被测工件的台阶面的高度对应的平面标定参数和对应关系获取被测工件的测量参数。本发明可以实现对被测工件的不同高度平面几何尺寸的测量，并提高被测工件测量的准确性。
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公开(公告)号：CN102818523A
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN201210262125.2
申请日：2012-07-26
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明涉及一种小工件视觉测量方法及测量系统，其中方法包括：在被测工件的高度范围内，利用线结构光发生器生成的线结构光对被测工件所在的测量系统进行高度分层标定，得到测量系统的高度标定参数；利用测量系统中的圆形靶标在每一分层高度对测量系统进行平面二维尺寸标定，得到每一分层高度对应的平面标定参数；将平面标定参数与高度标定参数进行拟合，建立平面标定参数和高度标定参数的对应关系；利用激光三角法测量被测工件的台阶面的高度；通过被测工件的台阶面的高度、该被测工件的台阶面的高度对应的平面标定参数和对应关系获取被测工件的测量参数。本发明可以实现对被测工件的不同高度平面几何尺寸的测量，并提高被测工件测量的准确性。
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公开(公告)号：CN101365144B
公开(公告)日：2010-06-30
申请号：CN200810167595.4
申请日：2008-10-14
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供一种线阵CCD扫描检测系统的调整及标定方法，步骤如下：靶标上有高精度加工的多条等间距竖线和两条平行横线；将靶标件置于生产线上，调整靶标平面与被测平面共面，并使靶标竖线与传送带前进方向平行；采集靶标图像，根据图像处理结果调整线阵CCD相机的阵列方向与传送带运动方向垂直，调整靶标处在成像系统正焦面上；调整完毕后采集靶标图像，对该图像进行处理得到靶标各条直线的位置，进而求出标定参数。本发明可用于线阵CCD扫描视觉检测系统的现场标定，具有调整快速、标定简单的特点。
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公开(公告)号：CN101365144A
公开(公告)日：2009-02-11
申请号：CN200810167595.4
申请日：2008-10-14
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供一种线阵CCD扫描检测系统的调整及标定方法，步骤如下：靶标上有高精度加工的多条等间距竖线和两条平行横线；将靶标件置于生产线上，调整靶标平面与被测平面共面，并使靶标竖线与传送带前进方向平行；采集靶标图像，根据图像处理结果调整线阵CCD相机的阵列方向与传送带运动方向垂直，调整靶标处在成像系统正焦面上；调整完毕后采集靶标图像，对该图像进行处理得到靶标各条直线的位置，进而求出标定参数。本发明可用于线阵CCD扫描视觉检测系统的现场标定，具有调整快速、标定简单的特点。
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