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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114578142A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202210166948.9
申请日：2022-02-23
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01R29/10
Abstract: 本申请实施例提供了一种天线测量方法、装置、球面测量设备及可读存储介质，应用于球面测量设备，天线测量方法包括：获取待测量天线的尺寸参数；根据所述待测量天线的尺寸参数获取球面测量设备的测量参数，根据所述测量参数计算所述球面测量设备的初始探头阵列数量和初始间隔距离；对初始探头阵列的数量和初始间隔距离进行预设的采样次数筛选，以获取目标探头阵列数量和目标间隔距离；基于目标探头阵列数量和目标间隔距离设置所述球面测量设备中的探头阵列位置，并根据预设时间间隔对所述待测量天线进行对应所述采样次数的测量。通过分时多次测量的方式，本实施例中的天线测量方法有效降低了探头阵列的数量，从而有效减少了测量设备的制作成本。
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公开(公告)号：CN116679316A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202210166668.8
申请日：2022-02-23
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01S17/89
Abstract: 本公开实施例中提供了一种双频段太赫兹调频连续波成像系统及方法。该系统包括信号传输设备和上位机，信号传输设备包括第一频段单元、第二频段单元、极化线栅、聚焦透镜和样品移动台，其中，上位机分别连接第一频段单元和第二频段单元。通过信号传输设备获取待测样品的不同预设位置的各第一回波信号和第二回波信号，其中，对应同一预设位置的第一回波信号和第二回波信号的极化方向不同，通过上位机将各组第一回波信号和第二回波信号融合为对应预设位置的目标信号，并基于待测样品的各预设位置对应的目标信号形成待测样品对应的图像。本申请通过融合待测样品在不同极化下的回波信号以提升带宽，可较大地提升成像系统的距离向分辨率。
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公开(公告)号：CN114839619A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202210543407.3
申请日：2022-05-19
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种大焦深双频段太赫兹调频连续波雷达成像方法及系统；所述系统包括：太赫兹辐射源，透镜，分束镜，抛物面反射镜，极化线栅，待测样品，数据采集卡，上位机；通过大焦深双频段准光系统可获取厚样品在双频段不同极化下的回波信息，同时通过频段融合‑扩展傅里叶算法可大大提升距离向分辨率。与现有的太赫兹无损检测技术相比，本发明所提出的准光设计和算法可大大提升成像系统的焦深及距离向分辨率，从而加大测试样品厚度及位置灵活度，降低对大带宽硬件需求及系统复杂度。
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公开(公告)号：CN116678850A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202210166665.4
申请日：2022-02-23
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/3586 , G01S17/89 , G01S7/48
Abstract: 本申请提供一种太赫兹无损检测系统及方法。该系统包括信号获取设备以及成像控制平台，获取设备包括扫描信号发生单元、样品移动单元以及回波信号接收单元，成像控制平台包括参数设置单元、扫描方式单元、运动控制单元、多级图像显示单元。本申请中的运动控制单元根据参数设置单元发送的扫描数值以及扫描方式单元发送的扫描模式，控制样品移动单元进行移动，以使回波信号接收单元接收到对应待测样品的不同预设位置的回波信号，对待测样品的形貌没有限制。且通过多级图像显示单元可以对回波信号进行整合处理，并进行深入地分析与计算，可以直观地显示待测样品的多维度检测信息，检测效率高。
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公开(公告)号：CN115047635A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210543400.1
申请日：2022-05-19
Applicant: 北京理工大学
IPC: G02B27/09 , G02B27/10 , G01N21/3586 , H01Q13/02
Abstract: 本发明公开了一种多频段太赫兹调频连续波透射与反射成像系统，系统包括太赫兹收发一体模块，太赫兹接收模块、抛物面镜，分束镜，待测样品。利用空间复用技术设计了六频段的太赫兹准光成像系统，具有透射与反射同时成像优势，并可实现样品在太赫兹多频段即超宽带下透反射信息的获取，配合二维机械扫描可实现对物体的高分辨率三维成像。既可以获取样品的透射和反射信息，又可获取样品在多个太赫兹频段即大带宽下的信息，极大提升了系统距离向分辨率，从而获取更为精确的样品信息。
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