公开(公告)号：CN107193784B

公开(公告)日：2020-11-20

申请号：CN201710351440.5

申请日：2017-05-17

Applicant: 南京大学

Inventor： 李丽 ,  钱昕伟 ,  李宏炜 ,  潘红兵 ,  何书专 ,  沙金 ,  李伟

IPC: G06F17/17

Abstract: 本发明提供了一种高精度低硬件复杂度的sinc插值实现方法，包括：将采样点数据和待插值点数据存储于RAM的不同bank中，根据待插值点数据的整数部分从RAM中取出采样点数据，并且和待插值点数据的小数部分一起，分成两部分输入计算单元中，分别进行通分除法计算和SIN计算，最后通过延时模块后相乘得到结果数据，全过程采用流水线设计。本发明支持多种插值核长度，支持浮点复数计算，通过卷积核现场计算的方式，在保证了计算效率的同时，提高了计算精度，降低了硬件资源的开销。

公开(公告)号：CN107193784A

公开(公告)日：2017-09-22

申请号：CN201710351440.5

申请日：2017-05-17

Applicant: 南京大学

Inventor： 李丽 ,  钱昕伟 ,  李宏炜 ,  潘红兵 ,  何书专 ,  沙金 ,  李伟

IPC: G06F17/17

Abstract: 本发明提供了一种高精度低硬件复杂度的sinc插值实现方法，包括：将采样点数据和待插值点数据存储于RAM的不同bank中，根据待插值点数据的整数部分从RAM中取出采样点数据，并且和待插值点数据的小数部分一起，分成两部分输入计算单元中，分别进行通分除法计算和SIN计算，最后通过延时模块后相乘得到结果数据，全过程采用流水线设计。本发明支持多种插值核长度，支持浮点复数计算，通过卷积核现场计算的方式，在保证了计算效率的同时，提高了计算精度，降低了硬件资源的开销。