一种用于KDP晶体DPN水溶修复形貌演变模拟的表面微纳缺陷三维形貌演变模拟方法

    公开(公告)号:CN118447201A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410534147.2

    申请日:2024-04-30

    Abstract: 本发明一种用于KDP晶体DPN水溶修复形貌演变模拟的表面微纳缺陷三维形貌演变模拟方法,涉及微纳制造领域,为解决现有方法无法将KDP元件表面微纳缺陷三维形貌转化为DPN水溶修复形貌演变模拟模型初始值进行微纳缺陷三维形貌演变模拟的问题。包括:步骤一、采集KDP光学元件表面微纳缺陷三维云图;步骤二、对三维云图进行预处理,转换导出为一维数组;步骤三、对一维数组进行零点偏移和归一化缩放;步骤四、对一维数组进行二维像素矩阵映射变换;步骤五、重写为灰度图像后导入模拟模型,对每个二维像素点进行坐标映射;步骤六、进行反演变换实现三维云图的重建;步骤七、进行初始化并求解,得到以缺陷实际形貌为初始值的DPN水溶修复形貌演变过程。

    一种用于KDP晶体表面微纳缺陷DPN水溶扫描修复的AFM探针作用轨迹生成方法

    公开(公告)号:CN118447202A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410534151.9

    申请日:2024-04-30

    Abstract: 本发明提供一种用于KDP晶体表面微纳缺陷DPN水溶扫描修复的AFM探针作用轨迹生成方法,涉及微纳制造领域,为解决现有方法仅能假设AFM探针的作用是空间均匀场,未考虑AFM探针扫描工艺参数对结果的影响的问题。包括:步骤一、构建DPN液桥全范围计算模型,获取AFM探针在KDP晶体元件表面的作用域;步骤二、构建DPN水溶修复形貌演变模型,根据作用域尺寸构建开关函数;步骤三、根据AFM探针扫描工艺参数构建液桥对称中心时变函数;步骤四、将对称中心时变函数加载到开关函数对称中心上,对开关函数进行时变修正;步骤五、对DPN水溶修复形貌演变模型进行系数加权,生成AFM探针动态作用轨迹;步骤六、将作用轨迹加载到演变模型,模拟DPN水溶修复形貌演变过程。

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