公开(公告)号：CN101893684A

公开(公告)日：2010-11-24

申请号：CN201010108917.5

申请日：2010-02-10

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 刘思久 ,  朱敏 ,  黄辉 ,  李治 ,  李萌

IPC: G01R31/3167 ,  G01R31/3187

Abstract: 基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块及测试系统及利用此系统的测试方法，它涉及一种混合电路的测试模块及测试方法，它解决了现有的自动测试设备存在的体积大、成本高、限制电流、测试不灵活的问题，测试功能模块由片上系统SOC、跟随器、模拟开关和电平转换电路连接而成。测试系统除包括测试功能模块外，还包括控制器。测试方法具体如下：一、片上系统SOC控制模拟开关由工作状态转换到测试状态；二、产生激励信号；三、对响应信号进行A/D采样，并存储采样结果；四、根据采样结果的数据传输方式进行数据处理并显示结果；五、片上系统SOC控制模拟开关测试状态转换到工作状态。本发明适用于混合电路的测试。

公开(公告)号：CN101893684B

公开(公告)日：2012-06-06

申请号：CN201010108917.5

申请日：2010-02-10

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 刘思久 ,  朱敏 ,  黄辉 ,  李治 ,  李萌

IPC: G01R31/3167 ,  G01R31/3187

Abstract: 基于片上系统SOC的BIST通用基础测试模块及测试系统及利用此系统的测试方法，它涉及一种混合电路的测试模块及测试方法，它解决了现有的自动测试设备存在的体积大、成本高、限制电流、测试不灵活的问题，测试功能模块由片上系统SOC、跟随器、模拟开关和电平转换电路连接而成。测试系统除包括测试功能模块外，还包括控制器。测试方法具体如下：一、片上系统SOC控制模拟开关由工作状态转换到测试状态；二、产生激励信号；三、对响应信号进行A/D采样，并存储采样结果；四、根据采样结果的数据传输方式进行数据处理并显示结果；五、片上系统SOC控制模拟开关测试状态转换到工作状态。本发明适用于混合电路的测试。