公开(公告)号：CN117929290B

公开(公告)日：2024-12-20

申请号：CN202311837991.4

申请日：2023-12-28

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 赵方舟 ,  符泽邦 ,  张亦宁 ,  岳彩旭 ,  宫冬悦 ,  曹希峰 ,  李丹 ,  陈巨辉

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/01

Abstract: 多距离探测的时域宽光谱双层介质光谱参数场测量方法，本申请运用宽光谱多个波段光源的选取提供充足的入射光谱信息，利用时域模型提供丰富的时变探测信号，通过不同位置光源的入射及边界出射辐射信号的探测，结合重建优化算法分析边界测量信号中的光谱信息，基于丰富的宽光谱多距离时变探测信号的获取和分析，克服双层介质模型光谱参数反问题重建的病态性，可以更加准确的解决双层介质光谱参数测量问题，避免了现有技术中单点探测的均匀介质模型所能获取的信息有限，不能很好的反映介质内的真实参数分布的问题，进而提升了光谱参数重建精度。

公开(公告)号：CN117929290A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202311837991.4

申请日：2023-12-28

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 赵方舟 ,  符泽邦 ,  张亦宁 ,  岳彩旭 ,  宫冬悦 ,  曹希峰 ,  李丹 ,  陈巨辉

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/01

Abstract: 多距离探测的时域宽光谱双层介质光谱参数场测量方法，本申请运用宽光谱多个波段光源的选取提供充足的入射光谱信息，利用时域模型提供丰富的时变探测信号，通过不同位置光源的入射及边界出射辐射信号的探测，结合重建优化算法分析边界测量信号中的光谱信息，基于丰富的宽光谱多距离时变探测信号的获取和分析，克服双层介质模型光谱参数反问题重建的病态性，可以更加准确的解决双层介质光谱参数测量问题，避免了现有技术中单点探测的均匀介质模型所能获取的信息有限，不能很好的反映介质内的真实参数分布的问题，进而提升了光谱参数重建精度。