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公开(公告)号：CN103528599A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310455613.X
申请日：2013-09-29
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01D3/028
Abstract: 基于非均匀光纤布拉格光栅分布式传感的光谱识别方法，涉及基于非均匀光纤布拉格光栅分布式传感的光谱识别技术领域。解决了现有光谱识别方法在进行光谱识别时，当光纤布拉格光栅长度与被测物体的尺寸相当，同时被测物体体内存在非均匀的传感参数的作用场时，导致光纤布拉格光栅的反射谱形状发生改变，进而影响光谱识别效率的问题。基于非均匀光纤布拉格光栅分布式传感的光谱识别方法，它包括以下步骤：计算非均匀应变场作用下的光栅折射率分布；建立非均匀外界应变场作用下光栅光谱识别的传输矩阵模型；传输矩阵模型得出非均匀外界应变场作用下直角三角谱光纤布拉格的光谱变化。本发明适用于非均匀光纤布拉格光栅的光谱识别。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105844593A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610047496.7
申请日：2016-01-25
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G06T5/00
CPC classification number: G06T5/002 , G06T5/005 , G06T2207/20032
Abstract: 本发明针对干涉图像的预处理，通过改进的去噪方法、二值化算法、细化及修补算法，提出一种单幅干涉圆条纹图像预处理的自动化处理方法。本发明利用在P?M模型上引入扩散系数，修改中值滤波窗口，然后采用加权方式将两者结合形成去噪方法，该方法对图像边缘和细节保护明显。本发明采用的细化修补算法不但可以去除图像中的毛刺，而且在保证图像连通性的前提下去除多余二像素，从而使图像细化成单像素图像。本发明对单幅干涉圆条纹进行特征信息提取具有重要意义，可为基于单幅干涉圆条纹分析的光学测量技术的应用提供可靠地分析方法。
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公开(公告)号：CN103528599B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201310455613.X
申请日：2013-09-29
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01D3/028
Abstract: 基于非均匀光纤布拉格光栅分布式传感的光谱识别方法，涉及基于非均匀光纤布拉格光栅分布式传感的光谱识别技术领域。解决了现有光谱识别方法在进行光谱识别时，当光纤布拉格光栅长度与被测物体的尺寸相当，同时被测物体体内存在非均匀的传感参数的作用场时，导致光纤布拉格光栅的反射谱形状发生改变，进而影响光谱识别效率的问题。基于非均匀光纤布拉格光栅分布式传感的光谱识别方法，它包括以下步骤：计算非均匀应变场作用下的光栅折射率分布；建立非均匀外界应变场作用下光栅光谱识别的传输矩阵模型；传输矩阵模型得出非均匀外界应变场作用下直角三角谱光纤布拉格的光谱变化。本发明适用于非均匀光纤布拉格光栅的光谱识别。
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公开(公告)号：CN105844593B
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201610047496.7
申请日：2016-01-25
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明针对干涉图像的预处理，通过改进的去噪方法、二值化算法、细化及修补算法，提出一种单幅干涉圆条纹图像预处理的自动化处理方法。本发明利用在P‑M模型上引入扩散系数，修改中值滤波窗口，然后采用加权方式将两者结合形成去噪方法，该方法对图像边缘和细节保护明显。本发明采用的细化修补算法不但可以去除图像中的毛刺，而且在保证图像连通性的前提下去除多余二像素，从而使图像细化成单像素图像。本发明对单幅干涉圆条纹进行特征信息提取具有重要意义，可为基于单幅干涉圆条纹分析的光学测量技术的应用提供可靠地分析方法。
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公开(公告)号：CN204479018U
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201520223545.9
申请日：2015-04-14
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 基于子孔径拼接法与计算全息法的非球面干涉检测装置，涉及利用子孔径拼接法与计算全息法获取非球面光学元件表面粗糙度的装置，属于光学检测领域，本实用新型为解决现有干涉法测量非球面光学元件时精度较低、速度较慢、耗时长的问题。本实用新型包括He-Ne激光器、第一反光镜、第二反光镜、第三反光镜、准直器、扩束镜、第一准直透镜、第二准直透镜、第三准直透镜、分光镜、非球面光学元件、步进电机、起偏器、液晶光阀、计算机、液晶光阀驱动电路、检偏器和CCD；非球面光学元件的下方架设有步进电机，通过步进电机的转动完成对非球面光学元件口径的全部测量。本实用新型用于检测非球面光学元件的表面粗糙度。
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公开(公告)号：CN204228123U
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201420786016.5
申请日：2014-12-12
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 基于偏振光散射法检测工件表面综合性能参数的装置，属于光学检测领域，本实用新型为解决现有加工工件表面性能检测装置只能检测单一特征参数，不能准确、快速、简便地检测综合性能参数的问题。本实用新型激光入射至分光镜分光，水平激光通过扩束器、起偏器和反光镜入射至工件表面，反射后入射至电荷耦合阵列检测器；垂直激光通过扩束器、起偏器和分光镜分为水平激光和垂直激光；水平激光通过透镜入射至电荷耦合阵列检测器；垂直激光通过偏振分光镜分为水平S光和垂直P光；水平S光通过反光镜和透镜入射至工件表面，反射后入射至光电二极管阵列；垂直P光通过透镜入射至工件表面，反射后入射至光电二极管阵列。用于检测加工工件表面综合特征参数。
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