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公开(公告)号：CN1565022A
公开(公告)日：2005-01-12
申请号：CN02819598.1
申请日：2002-07-30
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 多田野宏之
CPC classification number: G11B7/13927 , G11B7/0908 , G11B7/094 , G11B7/0943 , G11B7/0945 , G11B7/0948 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1374 , G11B2007/0013 , G11B2007/13727
Abstract: 依次进行下列处理：进行控制使检测透过2要素物镜并聚光的光束的光轴方向的焦点位置偏离而得到的聚焦误差信号的输出接近于0的聚焦控制处理(S2)，校正在光束中发生的球面像差的球面像差校正处理(S4)，调整在聚焦误差信号中的偏移的聚焦偏移调整处理(S7～S9)。这样，能通过去除偏移，提供可进行稳定的聚焦控制的焦点调整方法及光学头装置。
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公开(公告)号：CN102549330A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201180003793.7
申请日：2011-08-29
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01N17/004 , F21S8/006 , G02B6/0026 , G02B6/0028 , G02B6/0068 , G02B6/0078
Abstract: 可防止方向性性能因具有较差方向性的杂散光进入并传播通过锥形导光构件而退化，并且由此可防止光谱与日光的对应程度降低。遮光构件41置于相邻的锥形导光构件4之间。具体而言，遮光构件41附连到或缠绕锥形导光构件4的周向壁的表面，而非用于允许光进出的一端表面和另一端表面。此外，遮光构件41被放置成杂散光不会从其周向壁(而非一端表面和另一端表面)进入锥形导光构件4。
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公开(公告)号：CN1255787C
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN02819598.1
申请日：2002-07-30
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 多田野宏之
CPC classification number: G11B7/13927 , G11B7/0908 , G11B7/094 , G11B7/0943 , G11B7/0945 , G11B7/0948 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1374 , G11B2007/0013 , G11B2007/13727
Abstract: 依次进行下列处理：进行控制使检测透过2元件物镜并聚光的光束的光轴方向的聚点位置偏移而得到的降焦误差信号的输出接近于0的聚焦控制处理(S2)，校正在光束中发生的球面像差的球面像差校正处理(S4)，调整在聚焦误差信号中的偏移的聚焦偏移调整处理(S7～S9)。这样，能通过去除偏移，提供可进行稳定的聚焦控制的焦点调整方法及光学头装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102575820A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201180003791.8
申请日：2011-08-29
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 多田野宏之
CPC classification number: G02B6/0068 , F21S8/006 , F21Y2105/00 , G02B6/0028 , H02S50/10
Abstract: 即使照射对象面积较大以及即使在换灯之后，具有均匀的照明度的光容易可靠地照射在在整个照射区域上。对于每一个光学系统，提供能控制光量的灯光源和滤光器。假设照射对象的照射区域被分为组成多个较小照射区域的多个区域。进一步，光学系统的光导部件对应于多个较小照射区域中的相应每一个，且多个光学系统将该光发射至整个照射区域。
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公开(公告)号：CN1221953C
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN02121722.X
申请日：2002-05-10
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1374 , G11B7/13927
Abstract: 本发明的像差检测方法将通过作为光拾取装置上备有的会聚光学系统的2要素物镜的光束照射到光盘的平坦区域，使用其反射光检测上述2要素物镜中产生的像差。由此，提高会聚光学系统产生的球面像差的检测灵敏度。
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公开(公告)号：CN102762916A
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：CN201180010286.6
申请日：2011-03-08
Applicant: 夏普株式会社
IPC: F21S2/00 , F21V8/00 , G02B6/00 , F21Y103/00
CPC classification number: G02B6/0028 , F21S8/006 , G02B6/0018 , G02B6/0038 , G02B6/4298
Abstract: 本发明的光源装置是对从光源射出的光进行聚光并将其射出的光源装置，其特征在于，将上述光源配置在反射箱内，上述光源装置包括：多个导光体，该多个导光体是具有面积不同的两个端面的圆柱状或棱柱状；以及光分离单元，上述反射箱上设置有多个开口部，对上述开口部分别设置上述导光体，使该导光体的面积较小的端面向着上述光源，上述光分离单元配置在某个开口部与相邻的其他开口部之间。由此，提供一种以高输出射出方向性强的出射光的小型的光源装置、及使用该光源装置的模拟太阳光照射装置。
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公开(公告)号：CN1385842A
公开(公告)日：2002-12-18
申请号：CN02121722.X
申请日：2002-05-10
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1374 , G11B7/13927
Abstract: 本发明的像差检测方法将通过作为光拾取装置上备有的会聚光学系统的2要素物镜的光束照射到光盘的平坦区域,使用其反射光检测上述2要素物镜中产生的像差。由此,提高会聚光学系统产生的球面像差的检测灵敏度。
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