光拾取器的检查装置及检查方法以及光拾取器的自动调整装置

    公开(公告)号:CN101794595B

    公开(公告)日:2012-12-19

    申请号:CN201010120076.X

    申请日:2010-01-25

    Abstract: 本发明是关于光拾取器的检查装置及检查方法以及光拾取器的自动调整装置的,目的在于提供可对利用差分推挽法的跟踪控制方式的光拾取器进行高精度的检查的检查装置及检查方法。光学拾取器(101)的检查装置(11)使物镜在光盘(106)的半径方向上进行反复变位,使用在此期间得到的差分推挽信号来判定衍射光栅的配置是否良好。具体而言,检查装置(11)的波形提取部(30)从差分推挽信号进行了数字变换后的时间序列数据中提取出上下包线。极值算出部(40)对提取出的上下包线的差的波形来算出多个极小值。判定部(50)根据所算出的多个极小值的偏差是否在预定范围内,来判定衍射光栅的配置是否良好。

    光拾取器的检查装置及检查方法以及光拾取器的自动调整装置

    公开(公告)号:CN101794595A

    公开(公告)日:2010-08-04

    申请号:CN201010120076.X

    申请日:2010-01-25

    Abstract: 本发明是关于光拾取器的检查装置及检查方法以及光拾取器的自动调整装置的,目的在于提供可对利用差分推挽法的跟踪控制方式的光拾取器进行高精度的检查的检查装置及检查方法。光学拾取器(101)的检查装置(11)使物镜在光盘(106)的半径方向上进行反复变位,使用在此期间得到的差分推挽信号来判定衍射光栅的配置是否良好。具体而言,检查装置(11)的波形提取部(30)从差分推挽信号进行了数字变换后的时间序列数据中提取出上下包线。极值算出部(40)对提取出的上下包线的差的波形来算出多个极小值。判定部(50)根据所算出的多个极小值的偏差是否在预定范围内,来判定衍射光栅的配置是否良好。

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