一种采用互连线偏差的轻量型PUF电路

    公开(公告)号:CN113067574B

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202110167190.6

    申请日:2021-02-05

    Applicant: 宁波大学

    Abstract: 本发明公开了一种采用互连线偏差的轻量型PUF电路,包括控制模块、PUF阵列和输出模块,PUF阵列由64个PUF单元按照8行8列方式排布形成,每个PUF单元分别包括第一反相器、第二反相器、第三反相器、第四反相器、第一金属线、第二金属线、第三金属线、第一与非门、第二与非门和第一MOS管,第一MOS管为NMOS管,第一金属线能够与第三金属线发生耦合而产生耦合电容,第二金属线能够与第三金属线发生耦合而产生耦合电容,当PUF单元的第一输入端接入信号时,第三金属线分别与第一金属线和第二金属线发生耦合而产生耦合电容,对PUF单元进行干扰,使PUF单元的输出相应的信号;优点是输出逻辑不容易出错,可靠性较高,且占用面积较小。

    一种采用线计算的BCD译码电路

    公开(公告)号:CN112865801A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110063424.2

    申请日:2021-01-18

    Applicant: 宁波大学

    Abstract: 本发明公开了一种采用线计算的BCD译码电路,包括十四个反相器、二十二个MOS管和二十一组金属线,四个反相器作为第一级反相器,八个MOS管构成4个传输门,四个MOS管分别作为四个传输门的放电管,其他十个MOS管、二十一组金属线和十个反相器构成十个四输入与非门,每个四输入与非门中金属线之间耦合强度相同,产生四个大小相等的耦合电容;优点是金属线作为四输入与非门的关键部件之一,逆向设计者无法从芯片版图得到正确的逻辑功能,具有良好的抗逆向工程能力,利用互连线之间的确定性干扰来实现四输入与非门逻辑输出,在受到外部串扰噪声干扰时仍能正常工作,一定程度上能抵抗长距离走线所引起的串扰噪声,具有抗线串扰能力。

    一种同时具有老化检测和PUF功能的电路

    公开(公告)号:CN111130536A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201911249443.3

    申请日:2019-12-09

    Applicant: 宁波大学

    Abstract: 本发明公开了一种同时具有老化检测和PUF功能的电路,包括控制驱动电路和128个功能单元电路,每个功能单元电路分别包括第一VCO阵列、第二VCO阵列、第一整形电路、第二整形电路、第一电平转换电路、第二电平转换电路、功能控制模块、第一计数器、第二计数器、仲裁器、相位比较器和检测窗口;优点是将老化检测功能和PUF功能进行集成,既能实现老化检测功能也能实现PUF电路功能,应用于芯片时可以提高芯片的集成度,降低芯片面积。

    一种采用互连线偏差的轻量型PUF电路

    公开(公告)号:CN113067574A

    公开(公告)日:2021-07-02

    申请号:CN202110167190.6

    申请日:2021-02-05

    Applicant: 宁波大学

    Abstract: 本发明公开了一种采用互连线偏差的轻量型PUF电路,包括控制模块、PUF阵列和输出模块,PUF阵列由64个PUF单元按照8行8列方式排布形成,每个PUF单元分别包括第一反相器、第二反相器、第三反相器、第四反相器、第一金属线、第二金属线、第三金属线、第一与非门、第二与非门和第一MOS管,第一MOS管为NMOS管,第一金属线能够与第三金属线发生耦合而产生耦合电容,第二金属线能够与第三金属线发生耦合而产生耦合电容,当PUF单元的第一输入端接入信号时,第三金属线分别与第一金属线和第二金属线发生耦合而产生耦合电容,对PUF单元进行干扰,使PUF单元的输出相应的信号;优点是输出逻辑不容易出错,可靠性较高,且占用面积较小。

    一种同时具有老化检测和PUF功能的电路

    公开(公告)号:CN111130536B

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN201911249443.3

    申请日:2019-12-09

    Applicant: 宁波大学

    Abstract: 本发明公开了一种同时具有老化检测和PUF功能的电路,包括控制驱动电路和128个功能单元电路,每个功能单元电路分别包括第一VCO阵列、第二VCO阵列、第一整形电路、第二整形电路、第一电平转换电路、第二电平转换电路、功能控制模块、第一计数器、第二计数器、仲裁器、相位比较器和检测窗口;优点是将老化检测功能和PUF功能进行集成,既能实现老化检测功能也能实现PUF电路功能,应用于芯片时可以提高芯片的集成度,降低芯片面积。

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