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公开(公告)号：CN101681019A
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：CN200880017757.4
申请日：2008-05-30
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G02B26/105 , H02K41/0358 , H04N1/1135 , H04N2201/0246 , H04N2201/02477 , H04N2201/02495
Abstract: 本发明提供一种能够实现光的扫描角的广角化且耐久性优良的光扫描用促动器。为了该目的，所述光扫描用促动器具备：可动部，其支承使光射出的光学元件，并能够与光学元件一起移动；多个板簧，其呈薄板状，且长度方向的一端部被固定，并且长度方向的另一端部被安装在可动部上；以及电磁驱动机构，所述电磁驱动机构具有：产生磁通量的磁铁；磁轭，其一部分与磁铁层叠，且与该磁铁一起形成闭合的磁回路；线圈，其保持在可动部上，且位于磁铁和磁轭的间隙中，并且开口面与磁铁和磁轭的层叠方向大致正交，所述电磁驱动机构通过施加在线圈上的电磁力来驱动可动部。
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公开(公告)号：CN101681020B
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN200880018834.8
申请日：2008-06-03
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01S17/42 , G01S7/4817
Abstract: 本发明公开一种物体检测装置，其中具有：对光进行投光的投光机构；对投光机构所投光的光进行扫描的光扫描用致动器；对光扫描用致动器所扫描的光的反射光进行受光的受光机构，光扫描用致动器，形成薄板状，并具有：多个板簧，其形成为薄板状，并长度方向的一端部被固定；可动部，其安装于所述多个板簧的长度方向的另一端部，并能够且伴随着所述多个板簧的形状的变化而移动；电磁驱动机构，其具有：产生磁通的磁体；磁轭，其一部分层积于所述磁体、并且与所述磁体一起形成封闭的磁回路；线圈，其由所述可动部保持、并位于所述磁体和所述磁轭之间的间隙，且开口面与所述磁体和所述磁轭的层积方向大致垂直，所述电磁驱动机构通过在所述线圈上施加的电磁力而驱动所述可动部。从而能够确保动作时的静寂性，且耐久性方面优良。
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公开(公告)号：CN101681020A
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：CN200880018834.8
申请日：2008-06-03
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01S17/42 , G01S7/4817
Abstract: 本发明公开一种物体检测装置，其中备有：对光进行投光的投光机构；对投光机构所投光的光进行扫描的光扫描用致动器；对光扫描用致动器所扫描的光的反射光进行受光的受光机构，光扫描用致动器，形成薄板状，并具有：多个板簧，其形成为薄板状，并长度方向的一端部被固定；可动部，其安装于所述多个板簧的长度方向的另一端部，并能够且伴随着所述多个板簧的形状的变化而移动；电磁驱动机构，其具有：产生磁通的磁体；磁轭，其一部分层积于所述磁体、并且与所述磁体一起形成封闭的磁回路；线圈，其由所述可动部保持、并位于所述磁体和所述磁轭之间的间隙，且开口面与所述磁体和所述磁轭的层积方向大致垂直，所述电磁驱动机构通过在所述线圈上施加的电磁力而驱动所述可动部。从而能够确保动作时的静寂性，且耐久性方面优良。
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公开(公告)号：CN101680947A
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：CN200880019921.5
申请日：2008-06-06
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01S17/42 , G01S7/481 , G01S7/4817 , G02B26/10
Abstract: 本发明提供一种光扫描型传感器，能够抑制扫描光与反射光之间的相互干涉，能够进行高精度的物体检测。为了该目的，具有：投光元件(2)，其对光进行投射；光扫描用促动器(3)，其经由对光进行反射的反射镜(33)将投光元件(2)所投射的光射出，并通过使反射镜(33)摇动对该射出的光进行扫描；受光元件(4)，其经由反射镜(33)，对光扫描用促动器(3)射出的扫描光被外部物体反射而得到的发射光进行接收；反射镜(33)，具有：第1表面(33a)，其对投光元件(2)投射的光进行反射，并将该反射后的光作为扫描光射出到外部；第2表面(33b)，其平行于第1表面(33a)并且在反射区域不连续，对被外部物体反射而得到的反射光进行反射从而向受光元件(4)照射。
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