公开(公告)号：CN103733030B

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201280038104.0

申请日：2012-02-24

Applicant: 旭化成微电子株式会社

Inventor： 山下昌哉 ,  小林士朗 ,  小泉修 ,  赤木优子

IPC: G01D21/00

CPC classification number: G01C23/00 ,  G01C19/00 ,  G01C21/10 ,  G01D21/00 ,  H03K21/023 ,  H03K21/38

Abstract: 能够任意地设定、保持传感器设备之间的测量数比并在维持该测量数比的状态下自主地进行测量。包括：计数器(511)，其对计数命令进行计数，该计数命令用于在多个传感器设备之间维持测量数比来进行测量；测量数比保持部(512)，其将测量数比设定为期望的测量数比，以多个传感器设备各自对应的方式保持测量数比的设定值；采样定时生成部(513)，其被输入计数器(511)的计数值以及由测量数比保持部(512)保持的测量数比的设定值，在计数值与设定值一致之后生成采样定时信号；以及采样部(515)，其基于采样定时生成部(513)的采样定时信号对由检测部(514)检测出的检测信号进行采样。

公开(公告)号：CN103733030A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201280038104.0

申请日：2012-02-24

Applicant: 旭化成微电子株式会社

Inventor： 山下昌哉 ,  小林士朗 ,  小泉修 ,  赤木优子

IPC: G01D21/00

CPC classification number: G01C23/00 ,  G01C19/00 ,  G01C21/10 ,  G01D21/00 ,  H03K21/023 ,  H03K21/38

Abstract: 能够任意地设定、保持传感器设备之间的测量数比并在维持该测量数比的状态下自主地进行测量。包括：计数器(511)，其对计数命令进行计数，该计数命令用于在多个传感器设备之间维持测量数比来进行测量；测量数比保持部(512)，其将测量数比设定为期望的测量数比，以多个传感器设备各自对应的方式保持测量数比的设定值；采样定时生成部(513)，其被输入计数器(511)的计数值以及由测量数比保持部(512)保持的测量数比的设定值，在计数值与设定值一致之后生成采样定时信号；以及采样部(515)，其基于采样定时生成部(513)的采样定时信号对由检测部(514)检测出的检测信号进行采样。