玻璃基板
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103250046A

    公开(公告)日:2013-08-14

    申请号:CN201180059400.4

    申请日:2011-11-29

    CPC classification number: G01N21/896 G01N2021/8967

    Abstract: 提供至少一个表面不会膨胀的玻璃基板。设玻璃基板(51)的板厚为T(μm)。另外,设从该玻璃基板(51)的表面(52)到玻璃基板(51)内存在的气泡(57)的距离为D(μm)。在设该气泡的换算球形直径为e(μm)时,距至少一个表面(52)为T/2(μm)以内的层中存在的气泡的换算球形直径e满足:e≤0.01×D1.6+15。在玻璃基板(51)是从通过浮法制造的玻璃带进行采板而得的玻璃基板的情况下,以与玻璃基板的底面对应的面为基准来确定到气泡(57)的距离D。

    玻璃基板
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103250046B

    公开(公告)日:2016-02-24

    申请号:CN201180059400.4

    申请日:2011-11-29

    CPC classification number: G01N21/896 G01N2021/8967

    Abstract: 提供至少一个表面不会膨胀的玻璃基板。设玻璃基板(51)的板厚为T(μm)。另外,设从该玻璃基板(51)的表面(52)到玻璃基板(51)内存在的气泡(57)的距离为D(μm)。在设该气泡的换算球形直径为e(μm)时,距至少一个表面(52)为T/2(μm)以内的层中存在的气泡的换算球形直径e满足:e≤0.01×D1.6+15。在玻璃基板(51)是从通过浮法制造的玻璃带进行采板而得的玻璃基板的情况下,以与玻璃基板的底面对应的面为基准来确定到气泡(57)的距离D。

    玻璃带内缺陷测定方法和玻璃带内缺陷测定系统

    公开(公告)号:CN103250047A

    公开(公告)日:2013-08-14

    申请号:CN201180059433.9

    申请日:2011-12-06

    CPC classification number: G01N21/896

    Abstract: 本发明提供一种玻璃带内缺陷测定方法,即使在玻璃带的界面附近存在缺陷的情况、缺陷大的情况下也能够测定玻璃带内的缺陷的高度方向位置。从通过对被传送的玻璃带进行拍摄所得到的图像中确定互相重叠的两个像的外接矩形。然后计算与外接矩形的边(24)对应的在真实空间中的长度(h)。另外,计算图像内的从像(21)的中心部分(21a)到靠近侧的短边的距离所对应的在真实空间中的长度,计算其两倍的长度(s)。然后,通过计算h-s,求出从拍摄了第一个像的位置到拍摄了第二个像的位置的缺陷的移动距离(yd),根据(yd)和折射角(β)计算缺陷的高度方向位置。

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