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发明公开
半导体集成电路和系统LSI 无效

公开(公告)号：CN101111776A

公开(公告)日：2008-01-23

申请号：CN200580047365.9

申请日：2005-09-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 前田恭辉 , 前田俊则

IPC: G01R31/3187

CPC classification number: G01R31/318594 , G01R31/31713 , G01R31/3172

Abstract: 将具有输入/输入输出接片(103)、开关(105)、期望值生成电路(13)的测试期望值编程电路(100)设于半导体集成电路(11)的内部，其中输入/输入输出接片(103)从连接在半导体集成电路(11)上的接地端子(30)或电源端子(31)输入接地/电源信号(104)；开关(105)选择性地切换经由该输入/输入输出接片(103)所输入的接地/电源信号(104)的输出；测试期望值生成电路(13)根据从开关(105)所输出的开关输出信号(122)生成测试期望值信号(21)。

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