公开(公告)号：CN101361006A

公开(公告)日：2009-02-04

申请号：CN200680051182.9

申请日：2006-11-14

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 星加浩志 ,  川野威

IPC: G01R31/3185

CPC classification number: G01R31/3008 ,  G01R31/3004 ,  G01R31/318533 ,  G01R31/318575 ,  G01R31/318577

Abstract: 提供一种半导体器件和半导体检查方法。使用扫描测试系统把触发器(300)的电源布线(401)与组合电路(307)的电源布线(403)分离，而且，将触发器(300)的输出分离成扫描链的输出端子(306)和对组合电路(307)的输出端子(305)，通过在触发器(300)中新附加装载维持端子(304)作为对组合电路(307)的输出来保持信号值，可同时进行静止稳定等待和下一个测试矢量的模式形成，可缩短IDDQ测试时间，可使系统LSI的IDDQ测试高速化。

公开(公告)号：CN101410909A

公开(公告)日：2009-04-15

申请号：CN200780010823.0

申请日：2007-10-30

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 川野威 ,  太田修策 ,  星加浩志 ,  桑田丈靖

IPC: G11C16/02

CPC classification number: G11C16/22 ,  G11C16/349

Abstract: 本发明提供一种自停止电路，具有非易失性存储元件(20)、用于控制对该非易失性存储元件(20)的电荷充放电的写入端子(50)以及擦除电路(30)，由判断电路(40)检测存储在非易失性存储元件(20)中的电荷量低于阈值的情况并检测经过时间。由此，检测出产品寿命是否已尽，并停止或变更寿命已尽的产品的工作。在希望恢复工作的情况下，通过向非易失性存储元件(20)再次注入电荷、或者从外部端子(53)向判断电路(40)供给取消信号来实现工作的恢复。